半導體測試課程

半導體測試工程師學習路徑

 

這些學習路徑適用於從實驗室到生產線全過程使用 NI 軟體與解決方案的半導體測試工程師。探索最佳實務,以加快產品開發速度,並在實驗室內外支援智慧分析。接著可以使用 NI 半導體測試系統 (STS) 開發設定架構的測試程式、建立客制量測,並且最佳化進階測試程式,用於混合訊號與 RF 裝置。

半導體生產測試學習途徑

半導體生產測試往往需要在有限的時間與預算內測試更複雜的零件。此途徑適用於使用 NI 半導體測試系統 (STS) 的操作人員、技術人員與測試工程師。

 

STS 操作人員與技術人員課程

說明

建議先修課程

STS 操作人員

了解 STS 的結構和元件,以及在生產環境中操作 STS 的安全與環境規定。

STS 維護

設定、除錯以及維護 NI 半導體測試系統 (STS)

 

STS 測試工程師課程可讓半導體生產測試工程師使用 NI 半導體測試系統 (STS) 快速開發設定架構的測試程式並進行除錯、建立客制量測,並且最佳化進階測試程式,用於混合訊號與 RF 裝置。

 

STS 測試工程師課程

說明

建議先修課程

使用 STS 開發測試程式 

(限隨選) 使用 NI 半導體測試系統 (STS),以互動方式建立、修改、執行使用既有程式碼模組 (以 LabVIEW 或 .NET/C# 開發而成) 的測試程式並進行除錯,用於收集測試資料與測試時間報告。

使用 STS 和 .NET/C# 開發測試程式

(限講師授課) 以互動方式使用 NI 半導體測試系統 (STS) 資源,建立、修改、執行使用既有程式碼模組 (以 .NET/C# 開發而成) 的測試程式並進行除錯,用於收集測試資料與測試時間報告。 

 

使用 STS 開發測試程式碼模組

(限隨選) 使用半導體測試系統 (STS) 資源,開發適用於 STS 測試程式的量測程式碼模組並進行除錯、建立客制測試步驟,以及執行測試程式最佳化與部署。

使用 STS 開發測試程式 

LabVIEW Core 1

 

使用 STS 和 .NET/C# 開發測試程式碼模組

(講師授課課程) 使用半導體測試系統 (STS) 資源開發適用於 STS 測試程式的量測程式碼模組並進行除錯、建立客制測試步驟,並且執行測試程式最佳化與部署。這項課程提供 LabVIEW 或 .NET/C# 兩種版本。

使用 STS 和 .NET/C# 開發測試程式

使用 STS 進行 RF IC 測試 (.NET & C#)

測試 RF 零件的測試工程師可以透過互動方式,根據 RF 設定使用 STS RF 資源建立、修改、執行測試程式並進行除錯。這項課程只提供 .NET/C# 版本,應先完成「使用 STS 開發測試程式」和「使用 STS 開發測試程式碼模組」再學習這項課程。

使用 STS 和 .NET/C# 開發測試程式碼模組

使用 STS 進行 mmWave 測試 (.NET/C#)

適用於需要測試 mmWave 零件的測試工程師,能協助工程師了解 mmWave 子系統的元件、功能與用途。這項課程只提供 .NET/C# 版本,應先完成「使用 STS 開發測試程式」和「使用 STS 開發測試程式碼模組」再學習這項課程。

使用 STS 和 .NET/C# 開發測試程式碼模組

 

 

STS 測試工程師課程

說明

建議先修課程

LabVIEW Core 1

透過實際操作方式,了解 LabVIEW 環境、資料流程程式設計,以及常見的 LabVIEW 開發技術。

 

使用 TestStand 開發測試程式

使用 TestStand 開發、分析、除錯並部署實用的測試應用,以滿足您的測試需求。

 

使用 TestStand 建構測試系統

設計並建構測試系統架構、學習進階功能,以及客製化 TestStand 的內建功能。

 

使用數位碼型產生器進行裝置測試

運用數位碼型產生器與數位碼型編輯器執行常見的特性描述與生產測試,重點強調 DUT 通訊、數位介面測試、連續性測試與洩漏測試。

 

 

半導體驗證測試學習途徑

此途徑適用於想要在不犧牲量測品質與準確度的前提下進行裝置特性測試並縮短測試時間的半導體檢驗測試工程師。 

 

繼續學習

說明

建議先修課程

量測晶圓級穩定性

使用 Wafer Level Reliability Test Software 量測半導體晶圓的穩定性。

適用於 RF 前端設計驗證的 RFIC 測試軟體

使用 RFIC 測試軟體建立效能限制,並且定義受測 RF 功率放大器的規格。

 

適用於 DUT 驗證的半導體裝置控制附加元件

本課程會協助您設定附加元件、喚醒待測裝置,並且針對待測裝置進行疑難排解、互動操作以及除錯。

 

整合 VCSEL I-V 測試子系統

VCSEL I-V 測試子系統提供可客制化解決方案,適用於測試垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL) 裝置。將 VCSEL I-V 測試子系統整合於現有測試系統並執行基本測試,確認連接方式確實正確無誤。

 

其他半導體課程選項

 

使用 Bench Data Connector 記錄、管理評估產品資料

 

使用 SystemLink 系列產品執行產品特性測試,並且評估產品是否符合既定規格。在 Bench Data Connector Browser 中瀏覽資料記錄,並於 Specification Compliance Manager 中進行評估。

 

使用 Specification Compliance Manager 管理產品合規

 

使用 SystemLink 中的 Specification Compliance Manager (SCM) 評估產品是否符合既定的電氣規格。了解如何覆寫規範標準、設定用於判斷規範標準的條件,以及使用條件與參數對應功能。

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