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Test Program Development with STS Course 提供實際操作教育訓練，以建立與使用半導體測試系統 (STS) 跟受測裝置 (DUT) 進行通訊。此課程會依循一般的半導體測試工作流程與里程碑，並且包含與相對應硬體的密切互動。完成此課程之後，測試工程師能以互動方式使用 STS 測試機資源，透過既有的程式碼模組 (使用 LabVIEW 或 .NET/C# 開發) 來建立、修改、執行測試程式並進行除錯，進而收集測試資料與測試時間報告。
課程最新版本發表日期或版本號碼： 隨選23.0
隨選：5 小時
使用或評估 NI 半導體測試系統 (STS)，以執行半導體生產測試或大量自動化裝置驗證的半導體測試工程師。
對半導體測試策略與方法具備一般知識
一般電腦熟練度
基本測試工程知識
STS Software Bundle
半導體測試系統 (STS)
講師授課的虛擬教育訓練課程會隨附數位課程教材，並由 NI 學習中心提供。
講師授課的 NI 線上教育訓練課程是透過 Zoom 進行，而 NI 會提供 Amazon AppStream/LogMeIn 存取權，以便參與者在配備最新版軟體的虛擬機器上進行課堂練習。
設定與配置 STS，以測試混合訊號半導體裝置。
與 DUT 進行通訊。
使用 STS 測試機資源，透過預先編寫的程式碼模組，以互動方式建立、修改、執行測試程式並進行除錯。
說明、修改測試程式架構，並設定執行流程。
透過除錯面板，對裝置、訊號與測試序列進行除錯。
收集測試資料與產生測試報告。
建立測試時間的基準。
| 課程 | 概述 | 主題 |
|---|---|---|
| 介紹 STS | 探索半導體測試系統 (STS) 的主要概念。 |
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| 探索測試頭 | 探索 STS 測試頭的高階功能與 I/O。 |
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| 探索負載板 | 探索裝置介面卡 (DIB) 的高階功能，以及不同的測試載板介接類型。 |
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| 與 STS 對接與介接 | 描述典型的測試單元的拓撲，並探索數種 STS 的對接選項。 |
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| 探索 NI STS 軟體 | 探索相關軟體工具，以監控、維護、除錯與校準 STS 以及適用於 STS 的測試開發與程式碼模組開發環境。 |
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| 瀏覽測試開發人員工作流程 | 探索測試開發工作流程範例及其關鍵步驟。 |
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| 研究 STS 安全規定與規格 | 探索並套用 STS 系統的安全需求與規格、安全合規性，與環境規格。 |
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探索測試機儀器 | 探索 STS PXI 平台與常見的 STS 儀器。 |
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| 探索系統規格 | 探索 STS T1、T2 與 T4 輸入與輸出規格。 |
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| 校準 STS | 探索 STS 系統的校準模組與校準類型。 |
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| 建立 STS 專案 | 建立測試程式並探索為測試程式所建立的序列檔案與資料夾結構。 |
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| 探索針腳分布圖 | 探索針腳映射的目的，及其在將 STS 硬體映射至 DUT 針腳的角色。 |
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| 檢視測試機設定與測試載板簡圖 | 探索標準測試機文件、其內容與用途。 |
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| 對應量測需求 | 對應量測需求，以確保系統及其配備的儀器可符合測試計劃的量測需求。 |
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| 將 DUT 針腳對應至儀器通道 | 使用 Pin Map Editor 建立並修改針腳映射檔案，將 DUT 針腳對應至儀器通道。 |
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| 使用裝置介面卡以介接 DUT | 探索將儀器連接至裝置介面卡 (DIB) 的不同方式，並找出可用資源以協助設計自己的測試載板。 |
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| 確認 DUT 的連續性 | 在執行其他測試之前，請使用數位模式儀器測試 DUT 的連續性。 |
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| 啟動 DUT | 使用 Digital Pattern Editor 調出受測裝置 (DUT)，以便開始測試。 |
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| 量測漏電流 | 在執行其他測試之前，請透過數位模式儀器量測 DUT 的漏電流。 |
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| 做好與 DUT 進行通訊的準備 | 找出數位專案相關的檔案類型，並說明在建立數位碼型以與 DUT 通訊之前，必須先建立哪些檔案。 |
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| 建立基本數位碼型，以與 DUT 進行通訊 | 使用 Digital Pattern Editor，即可建立、編輯、載入，並突增基本數位碼型，以便與 DUT 通訊。 |
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| 轉換既有的數位碼型 | 轉換在其他環境中開發的模型，以便在 Digital Pattern Editor 中使用。 |
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| 探索測試序列檔案 | 探索測試序列檔案的主要元件，以及每個元件的使用方法。 |
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| 在測試序列中新增步驟 | 探索如何將步驟插入測試序列。 |
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| 建立與設定測試步驟 | 於 STS 專案中，建立並設定測試步驟以呼叫程式碼模組。 |
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| 使用測試步驟範本 | 探索不同的可用步驟範本，以及如何在測試序列中使用這些範本。 |
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| 控制 TestStand 的執行作業 | 執行測試序列，並根據測試條件或設定而修改測試序列以不同方式執行。 |
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| 設定測試限制 | 建立、探索並彙入測試限制，以針對不同情形快速更新測試序列。 |
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| 建立測試設定 | 透過 Test Program Editor 與您的測試需求，為系統建立測試設定。 |
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| 根據測試結果對 DUT 進行分級處理 | 探索根據測試結果對 DUT 進行分類的不同方式，並實作分級策略。 |
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| 設定測試程式的執行作業 | 於測試開發環境中設定並執行測試程式。 |
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| 產生測試報告 | 透過 NI TestStand 實作結果收集與測試報告策略。 |
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| 對測試程式進行除錯 | 使用內建的 TestStand 功能，可識別並修復測試序列中的問題。 |
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| 探索除錯情境 | 針對不同的意外情況，除錯測試程式。 |
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| 建立測試時間的基準 | 找出並解決限製程式碼執行速度的問題。 |
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| 與測試機資源互動，以對問題進行除錯 | 透過 InstrumentStudio 與測試機資源互動，以除錯測試問題。 |
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| 使用數位碼型編輯器以進行除錯 | 使用 Digital Pattern Editor (DPE) 中的工具，以進一步除錯測試故障。 |
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| 透過 STS 操作介面執行序列 | 透過 NI 半導體測試操作介面 (OI) 執行測試程式，即可取得實際的插槽時間。 |
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