RF IC Test with STS and .NET/C# Course 將介紹一般客戶工作流程與重要事項,其中包含與標準 STS RF 硬體的密切互動。完成此課程後,RF 測試開發人員將能根據 RF 設定,以互動方式使用 STS RF 資源來建立、修改、執行與除錯 RF 測試程式。
購買 RF IC Test with STS (.NET/C#) Course 的使用者,還可參加 mmWave Test with STS (.NET/C#) Course。
課程最新版本發表日期或版本號碼: 21.0
17 堂課 | 5 小時
欲使用或評估標準 RF NI 半導體測試系統 (STS),針對 RF IC 開發與執行測試的半導體測試開發人員
對半導體測試策略與方法具備一般知識
已完成 Test Program Development with STS Course
已完成 Test Code Module Development with STS Course
STS Software Bundle
半導體測試系統 (STS)
認識 STS RF 子系統的元件、功能與用途。
建立 RF 波形
驗證 DUT RF 行為
針對標準 RF 設定來定義 RF 系統校準
針對 RF IC 建立測試程式
探索 RF 儀器 API
課程 | 概述 | 主題 |
---|---|---|
探索 STS RF 子系統 | 辨別 STS RF 子系統的各個元件,及其功能與用途。 |
|
探索向量訊號收發儀 (VST) | 探索 VST 的規格與架構。 |
|
調查 RF 校準測試載板 | 探索 RF 校準測試載板 (CLB),及其用途與功能。 |
|
探索 STS RF Debug Panels | 探索 STS RF Debug Panels,及其用途與功能。 |
|
探索 RF 受測裝置 (DUT) | 探索 RF DUT 的規格和一般應用,這些內容將在課程中用到。 |
|
對應量測需求 | 對應測試機儀器的量測需求。 |
|
建立 STS 專案 | 透過使用範例 RF 測試序列與更新其元件,建立新的測試程式。 |
|
啟動裝置 | 使用數位碼型編輯器 (DPE) 與 STS RF Debug Panels 啟動裝置,並實作基本測試。 |
|
RF 校準功能概述 | 辨別 RF 子系統中的誤差來源,並探索 RF 校準元件。 |
|
探索 RF 系統與使用者定義校準的使用案例 | 探索 RF 系統與使用者定義校準,及其用途與使用案例。接著執行兩種類型的校準。 |
|
去嵌化連接線與追蹤損耗 | 探索 S2P 去嵌化、RF 測試載板特性分析,以及深入了解如何使用 S2P Cascade Utility 與 SnP File Viewer。 |
|
建立 RF 波形 | 深入了解如何使用 NI-RFmx Waveform Creator 建立 RF 波形。 |
|
TSM RF Steps 介紹 | 探索 TSM RF Steps、其用途與功能。 |
|
探索 FPGA 伺服參數 | 探索 FPGA 伺服參數,並深入了解如何進行設定。 |
|
建立 RF 測試序列 | 探索 RF STS 測試程式的序列架構與元件 |
|
監控測試程式並進行除錯 | 深入了解如何在執行 STS RF 測試程式時,監控量測結果並進行故障除錯。 |
|
探索 NI-RFmx API | 探索 NI-RFmx 功能與 API。了解不同 NI-RFmx 量測方法的優點。 |
|
探索 NI-RFPM API | 探索 NI-RFPM 功能,並描述其 API 方式的功能。 |
|
探索 NI-RFSG API | 探索 NI-RFSG 功能,並描述其 API 方式的功能。 |
|