Device Testing with Digital Pattern Instruments Course 概述

首次建立並激發您的碼型

設定引腳分布圖、準位表、時序表與碼型檔案，以及激發數位碼型至受測裝置 (DUT)。

• PXI 數位碼型產生器

建立針腳分布圖

在數位碼型編輯器中建立針腳分布圖，以定義 DUT 連接站台。

• 探索針腳分布圖

建立規格表

將 DUT 資料表中的數值儲存為規格表變數。 

• 瀏覽規格表

建立針腳準位表

建立針腳準位表，用於定義 DUT 的供電電壓、端子和邏輯準位。

• 瀏覽針腳準位表

建立時序表

建立時序表以定義與 DUT 介接介面的時序特性。

• 瀏覽時序表

建立碼型檔案

建立碼型檔案，用於進行 DUT 通訊和測試。

• 碼型介紹
• 使用碼型

數位碼型程式設計

使用 NI-Digital Pattern API，以程式設計方式控制數位碼型產生器。

• 了解數位碼型產生器軟體流程
• 建立工作階段並控制狀態
• 透過 NI-Digital Pattern API 編輯針腳分布圖
• 透過 NI-Digital Pattern API 編輯引腳準位
• 透過 NI-Digital Pattern API 編輯時間設定
• 透過 NI-Digital Pattern API 載入檔案

測試 DUT 的作業模式

透過序列周邊介面 (SPI) 指令來設定 DUT，以測試其作業模式。

• 探索 SPI 通訊

執行暫存器讀回測試

執行暫存器讀回測試以驗證 DUT 的通訊功能。

• 暫存器回讀測試介紹

驗證 DUT 時序

透過與外部測試設備介接來驗證 DUT 時序。

• DUT 時序驗證介紹

執行連續性與漏電測試

透過連續性與漏電測試來驗證 DUT 引腳連接。

• 連續性與漏電測試簡介
• 探索引腳參數量測單元 (PPMU) 的基本概念

透過流量控制來提升碼型健全度

使用運算碼建立流量控制，以提升碼型健全度。

• 在數位碼型編輯器中導入運算碼
• 在碼型中使用 Repeat 與 Loop 運算碼
• 探索 Jump 與 Call 運算碼
• 使用條件式行為
• 探索定序器標記與暫存器運算碼

使用電源波形

使用序列與平行電源波形，透過變數資料簡化碼型架構。

• 探索電源波形
• 設定序列電源波形
• 在碼型中使用序列電源波形 
• 探索電源引腳狀態替換 
• 載入與卸載電源波形 
• 設定平行電源波形
• 在碼型中使用平行電源波形 
• 電源頻寬相關考量要點

使用擷取波形

使用擷取波形儲存接收到的資料，以供進行驗證與後處理。

• 探索擷取波形
• 設定序列擷取波形
• 設定平行擷取波形
• 在碼型中使用擷取波形
• 載入與卸載擷取波形
• 擷取波形相關考量要點 

透過歷史 RAM 報告查看測試結果

使用歷史 RAM 報告顯示的結果，對碼型或受測裝置 (DUT) 進行除錯。

• 探索歷史 RAM
• 使用 NI-Digital History RAM API 
• 記憶體與頻寬相關考量要點

透過數位示波器檢視訊號

使用數位示波器，針對數位碼型產生器 (PXIe-657x) 的引腳檢視實際電壓準位。

• 探索數位示波器
• 設定與使用數位示波器

使用 Shmoo 圖顯示參數關係

使用 Shmoo 圖迭代處理碼型參數並檢視結果。

• 探索 Shmoo 圖
• 探索 Shmoo 圖執行模式

與其他儀器同步化

執行同步化策略，例如共用觸發器，或使用 NI-TClk 來協調與其他儀器共同進行的作業。

• 以互動方式產生觸發條件
• 以程式設計方式產生觸發條件
• 使用 NI-TClk 協調多重儀器 
• 偵測相符或失敗的條件
• 同步化方法概述

接線與校準

補償連接線歪曲與電壓偏移，並探索裝置校準需求。

• 設定時域反射
• 連接 DUT Ground Sense
• 校準數位碼型裝置

使用運算碼進行掃描測試

使用 Scan 運算碼，將向量分成 1 個以上的掃描週期。

• 探索掃描碼型