半導体テストコース

半導体テストエンジニア向けの学習プラン

これらの学習プランは、ラボから製造現場まで、NIソフトウェアおよびソリューションを使用して作業する半導体テストエンジニアを対象としています。製品開発を加速し、ラボ内外でスマートな解析を可能にするベストプラクティスを紹介します。さらに、NI半導体テストシステム (STS) を使用して、構成ベースのテストプログラムを開発してデバッグし、カスタム測定を作成して、ミックスドシグナル/RFデバイス向けに最適化することで高度なテストプログラムを作成する方法を説明します。

半導体製造テストの学習プラン

半導体製造テストでは、多くの場合、より複雑な部品をわずかな時間と予算でテストしなければならないという課題に直面します。このプランは、NI半導体テストシステム (STS) を使用して作業するオペレータ、技術者、テストエンジニアを対象としています。

STSオペレータおよび技術者コース

説明

推奨される事前受講コース

STSオペレータ

STSの構造とコンポーネント、STSを本稼働環境で動作させるための安全要件および環境要件について学習します。

STSメンテナンス

NI半導体テストシステム (STS) の設定、トラブルシューティング、保守について学習します。

STSテストエンジニアカリキュラムは、半導体製造テストエンジニアを対象としています。NI半導体テストシステム (STS) を使用して、構成ベースのテストプログラムを開発してデバッグし、カスタム測定を作成して、ミックスドシグナル/RFデバイス向けに最適化することで高度なテストプログラムを作成する方法を迅速に習得することを目的としています。

STSテストエンジニアコース	説明	推奨される事前受講コース
STSを使用したテストプログラム開発	(オンデマンドのみ) NI半導体テストシステム (STS) を使用して、既存のコードモジュール (LabVIEWまたは.NET/C#を使用して開発) でテストプログラムをインタラクティブに作成、変更、実行、デバッグし、テストデータとテスト時間レポートを収集します。
STSと.NET/C#を使用したテストプログラム開発	(講師主導型のみ) NI半導体テストシステム (STS) リソースを使用して、.NET/C#で開発した既存のコードモジュールでテストプログラムをインタラクティブに作成、変更、実行、デバッグし、テストデータとテスト時間レポートを収集します。
STSを使用したテストコードモジュール開発	(オンデマンドのみ) 半導体テストシステム (STS) リソースを使用して、STSテストプログラムの計測コードモジュールを開発してデバッグし、カスタムテストステップを作成して、テストプログラムの最適化とデプロイメントを実行します。	STSを使用したテストプログラム開発 LabVIEW 実践集中コース 1
STSと.NET/C#を使用したテストコードモジュール開発	(講師主導型のみ) 半導体テストシステム (STS) リソースを使用して、STSテストプログラムの計測コードモジュールを開発してデバッグし、カスタムテストステップを作成して、テストプログラムの最適化とデプロイメントを実行します。このコースは、LabVIEWまたは.NET/C#のどちらにも対応しています。	STSと.NET/C#を使用したテストプログラム開発
STSを使用したRF ICテスト (.NETおよびC#)	RF部品をテストするテストエンジニアを対象としたコースです。STS RFリソースを使用して、RF構成に基づいてテストプログラムをインタラクティブに作成、変更、実行、デバッグします。このコースは.NET/C#にのみ対応しており、「STSを使用したテストプログラム開発」および「STSを使用したテストコードモジュール開発」の後に受講する必要があります。	STSと.NET/C#を使用したテストコードモジュール開発
STSを使用したミリ波テスト (.NET/C#)	ミリ波部品をテストするテストエンジニアを対象としたコースです。ミリ波サブシステムのコンポーネント、機能、目的について学習します。このコースは.NET/C#にのみ対応しており、「STSを使用したテストプログラム開発」および「STSを使用したテストコードモジュール開発」の後に受講する必要があります。	STSと.NET/C#を使用したテストコードモジュール開発

STSテストエンジニアコース	説明	推奨される事前受講コース
LabVIEW 実践集中コース 1	LabVIEW環境、データフロープログラミング、および一般的なLabVIEW開発テクニックを実践的な形式で学習します。
TestStandを使用したテストプログラム開発	TestStandを使用して、テストのニーズに合った実用的なテストアプリケーションの開発、解析、デバッグ、デプロイを行います。
TestStandを使用したテストシステム構築	テストシステムフレームワークの設計開発、上級機能の学習、TestStandの内蔵機能のカスタマイズを行います。
デジタルパターン計測器を使用したデバイステスト	デジタルパターン計測器とDigital Pattern Editorを活用して、一般的な特性評価および製造テストを行います。ここでは、DUT通信、デジタルインタフェーステスト、導通テストと漏れテストに着目します。

半導体妥当性確認テストの学習プラン

このプランは、測定品質と確度を犠牲にすることなく、デバイスの特性を評価してテスト時間を短縮することを目指す半導体妥当性確認テストエンジニアを対象としています。

継続的な学習	説明	推奨される事前受講コース
ウエハレベル信頼性測定	Wafer-Level Reliability Test Softwareを使用して、半導体ウエハの信頼性を測定します。
RFIC Test Softwareを使用したRFフロントエンド設計検証	RFIC Test Softwareを使用して、テスト対象のRFパワーアンプの性能に制限を設け、仕様を定義します。
Semiconductor Device Control Add-Onを使用したDUT検証	このコースは、アドオンを構成して、検査対象デバイスを起動、トラブルシューティング、操作、デバッグするのに役立ちます。
VCSEL I-Vテストサブシステム統合	VCSEL I-Vテストサブシステムは、垂直共振器面発光レーザ (VCSEL) デバイスのテスト用にカスタマイズ可能なソリューションを提供します。VCSEL I-Vテストサブシステムを既存のテストシステムに統合し、基本的なテストを実行して適切に接続されていることを確認します。

その他の半導体コースオプション

Bench Data Connectorを使用した製品コンプライアンスデータのロギング、管理、評価

SystemLink製品ファミリを使用して、製品の特性を評価し、その定義された仕様への適合性を評価します。Bench Data Connector Browserでデータログを確認し、Specification Compliance Managerで評価します。

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Specification Compliance Managerを使用した製品コンプライアンス管理

SystemLinkのSpecification Compliance Manager (SCM) を使用して、任意の製品について、その定義された電気仕様への適合性を評価します。コンプライアンスの上書き方法、コンプライアンスの判断基準の設定方法、条件とパラメータのマッピング機能の使用方法を学習します。

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