デジタルパターン計測器を使用したデバイステストコースの概要

第1パターンの作成とバースト

ピンマップ、レベルシート、タイミングシート、パターンファイルを構成し、デジタルパターンを検査対象デバイス (DUT) にバーストします。

• PXIデジタルパターン計測器

ピンマップを作成する

Digital Pattern Editorでピンマップを作成し、DUT接続サイトを定義します。

• ピンマップの理解

仕様シートを作成する

DUTのデータシートからの値を仕様シートの変数に保存します。 

• 仕様シートの理解

ピンレベルシートを作成する

ピンレベルシートを作成し、供給電圧、終端、DUTの論理レベルを定義します。

• ピンレベルシートの理解

タイミングシートを作成する

タイミングシートを作成し、DUTとのインタフェースのタイミング特性を定義します。

• タイミングシートの理解

パターンファイルを作成する

パターンファイルを作成し、DUTとの通信とテストを行います。

• パターンの概要
• パターンの操作

デジタルパターンをプログラミングする

NI-Digital Pattern APIを使用して、デジタルパターン計測器をプログラムで制御します。

• デジタルパターン計測器のソフトウェアフローの理解
• セッションの作成および状態の管理
• NI-Digital Pattern APIを使用したピンマップの編集
• NI-Digital Pattern APIを使用したピンレベルの編集
• NI-Digital Pattern APIを使用した時間設定の編集
• NI-Digital Pattern APIを使用したファイルのロード

DUTの操作モードのテスト

SPI (Serial Peripheral Interface) コマンドを使用してDUTを構成し、DUTの操作モードをテストします。

• SPI通信の理解

レジスタリードバックテストを実行する

レジスタリードバックテストを実行して、DUTの通信機能を検証します。

• レジスタリードバックテストの概要

DUTタイミングを検証する

外部テスト装置と接続して、DUTタイミングを検証します。

• DUTタイミングの検証の概要

導通テストと漏れテストを実行する

導通テストと漏れテストを実行して、DUTピン接続を検証します。

• 導通テストと漏れテストの概要
• PPMU (ピンパラメータ測定ユニット) の基本を理解する

フロー制御によるパターンの堅牢性の強化

フロー制御を確立するためのオペコードを使用して、パターンの堅牢性を強化します。

• Digital Pattern Editorでのオペコードの概要
• パターンで繰り返しとループのオペコードを使用する
• ジャンプと呼び出しのオペコードを理解する
• 条件付き動作の使用
• シーケンサフラグとレジスタのオペコードを理解する

ソース波形の使用

シリアルとパラレルのソース波形を使用して、変数データを持つパターン構造を簡素化します。

• ソース波形を理解する
• シリアルソース波形の構成
• パターンでシリアルソース波形を使用する 
• ソースピンの状態の置き換えを理解する 
• ソース波形のロードとアンロード 
• パラレルソース波形の構成
• パターンでパラレルソース波形を使用する 
• ソース帯域幅に関する注意事項

キャプチャ波形の使用

キャプチャ波形を使用して、検証や後処理用に受信したデータを保存します。

• キャプチャ波形を理解する
• シリアルキャプチャ波形の構成
• パラレルキャプチャ波形の構成
• パターンでキャプチャ波形を使用する
• キャプチャ波形のロードとアンロード
• キャプチャ波形に関する注意事項 

履歴RAMレポートでのテスト結果の確認

履歴RAMレポートの結果を使用して、パターンや検査対象デバイス (DUT) をデバッグします。

• 履歴RAMを理解する
• NIデジタル履歴RAM APIの使用 
• メモリと帯域幅に関する注意事項

デジタルスコープを使用して信号を表示する

デジタルスコープを使用し、デジタルパターン計測器 (PXIe-657x) のPINについて実際の電圧レベルを表示します。

• デジタルスコープを理解する
• デジタルスコープの構成と使用

Shmooプロットを使用したパラメータの関係の視覚化

Shmooプロットを使用して、パターンパラメータを反復処理し、その結果を表示します。

• Shmooプロットの理解
• Shmooプロット実行モードを理解する

その他の計測器との同期

トリガの共有や、NI-TClkを使用した他の計測器とのタスクの調整といった同期方法を実装します。

• 対話式によるトリガの生成
• プログラム式によるトリガの生成
• 複数の計測器でのNI-TClkの使用 
• 一致したまたは一致しなかった条件の検出
• 同期方法の概要

配線とキャリブレーション

ケーブルスキューと電圧オフセットを補正し、デバイスのキャリブレーション要件を調べます。

• 時間領域反射率測定の構成
• DUTグランドセンスの接続
• デジタルパターンデバイスのキャリブレーション

スキャンテスト用のオペコードの使用

スキャンオペコードを使用して、ベクトルを1つ以上のスキャンサイクルに分割します。

• スキャンパターンの理解