Kurse zu Halbleitertests

Lernpfade für Halbleitertest-Ingenieure

 

Diese Lernpfade richten sich an Halbleitertest-Ingenieure, die mit NI-Software und -Lösungen arbeiten – dies reicht von den Labors bis zum Fertigungsbereich. Entdecken Sie bewährte Methoden, um die Produktentwicklung zu beschleunigen und intelligente Analysen im Labor und darüber hinaus zu ermöglichen. Anschließend werden Sie mit dem NI Semiconductor Test System (STS) konfigurationsbasierte Testprogramme entwickeln und auf Fehler untersuchen, benutzerdefinierte Messungen erstellen und fortgeschrittene Testprogramme für Mischsignal- und RF-Geräte optimieren.

Lernpfad für Halbleiterproduktionstests

In der Halbleiterproduktion stehen Testverfahren oft vor der Herausforderung, komplexere Teile innerhalb eines Bruchteils der Zeit und des Budgets zu testen. Dieser Lernpfad ist für Bediener, technische Fachkräfte und Testingenieure gedacht, die mit dem NI Semiconductor Test System (STS) arbeiten.

 

Kurse für Bediener und technische Fachkräfte, die mit STS arbeiten

Beschreibung

Empfohlene Kursvoraussetzungen

STS-Bediener

 

In diesem Kurs lernen Sie die Struktur und die Komponenten des STS sowie Sicherheits- und Umgebungsanforderungen für den Betrieb des STS in einer Produktionsumgebung kennen.

 

STS-Wartung

 

Einrichtung, Fehlerbehebung und Wartung des NI Semiconductor Test System (STS)

 

Der Lehrplan für STS-Testingenieure vermittelt Testingenieuren in der Halbleiterproduktion schnell, wie sie mit dem NI Semiconductor Test System (STS) konfigurationsbasierte Testprogramme entwickeln und auf Fehler untersuchen, benutzerdefinierte Messungen erstellen und fortgeschrittene Testprogramme für Mischsignal- und RF-Geräte optimieren.

 

Kurse für STS-Testingenieure

Beschreibung

Empfohlene Kursvoraussetzungen

Testprogrammentwicklung mit STS

 

(Nur on-demand) Verwenden Sie das NI Semiconductor Test System (STS), um Testprogramme mit bereits vorhandenen Codemodulen (die mit LabVIEW oder .NET/C# entwickelt wurden) interaktiv zu erstellen, zu ändern, auszuführen und auf Fehler zu untersuchen, um Testdaten und Testzeitprotokolle zu erfassen.

 

Testprogrammentwicklung mit STS und .NET/C#

 

(Nur mit Kursleiter) In diesem Kurs wird vermittelt, wie Sie mithilfe der Ressourcen des NI Semiconductor Test Systems (STS) Testprogramme mit in .NET/C# entwickelten Codemodulen interaktiv erstellen, bearbeiten, ausführen und auf Fehler untersuchen, um Testdaten und Testzeitprotokolle zu sammeln.  

 

Test-Codemodulentwicklung mit STS

(Nur on-demand) Dieser Kurs vermittelt, wie Sie Semiconductor Test System-(STS-)Ressourcen verwenden, um Codemodule für Messungen für das STS-Testprogramm zu entwickeln und auf Fehler zu untersuchen, benutzerdefinierte Testschritte zu erstellen und Testprogramme zu optimieren und bereitzustellen.

Testprogrammentwicklung mit STS

LabVIEW-Grundlagen 1

 

Test-Codemodulentwicklung mit STS und .NET/C#

(Kurs mit Kursleiter) Dieser Kurs vermittelt, wie Sie Semiconductor Test System-(STS-)Ressourcen verwenden, um Codemodule für Messungen für das STS-Testprogramm zu entwickeln und auf Fehler zu untersuchen, benutzerdefinierte Testschritte zu erstellen und Testprogramme zu optimieren und bereitzustellen. Dieser Kurs ist für LabVIEW oder .NET/C# verfügbar.

Testprogrammentwicklung mit STS und .NET/C#

RF IC Test mit STS (.NET & C#)

Für Testingenieure, die RF-Bauteile testen und STS-RF-Ressourcen interaktiv einsetzen, um Testprogramme, die auf RF-Konfigurationen basieren, interaktiv zu erstellen, zu bearbeiten, auszuführen und auf Fehler zu untersuchen. Dieser Kurs ist nur für .NET/C# verfügbar und sollte nach den Kursen „Testprogrammentwicklung mit STS“ und „Test-Codemodulentwicklung mit STS“ besucht werden.

Test-Codemodulentwicklung mit STS und .NET/C#

mmWave-Test mit STS (.NET/C#)

 

Für Testingenieure, die mmWave-Bauteile testen und mehr über die Komponenten, Funktionen und den Zweck des mmWave-Subsystems erfahren möchten. Dieser Kurs ist nur für .NET/C# verfügbar und sollte nach den Kursen „Testprogrammentwicklung mit STS“ und „Test-Codemodulentwicklung mit STS“ besucht werden.

Test-Codemodulentwicklung mit STS und .NET/C#

 

 

Kurse für STS-Testingenieure

Beschreibung

Empfohlene Kursvoraussetzungen

LabVIEW-Grundlagen 1

Erkunden Sie in praktischen Übungen die LabVIEW-Umgebung, die Datenflussprogrammierung und gängige Entwicklungstechniken.

 

Entwickeln von Testprogrammen in TestStand

Dieser Kurs vermittelt, wie Sie mit TestStand praktische Testanwendungen entwickeln, analysieren, auf Fehler untersuchen und bereitstellen, die Ihren Testanforderungen entsprechen.

 

Entwickeln der Architektur von Testsystemen in TestStand

Dieser Kurs vermittelt, wie Sie Testsystem-Frameworks entwerfen und deren Architektur festlegen, Sie werden erweiterte Funktionen kennenlernen und die integrierten Funktionen von TestStand anpassen.

 

Gerätetests für Geräte zur Triggerung an digitalen Mustern

Nutzung von Geräten zur Triggerung an digitalen Mustern und des Digital Pattern Editors, um gängige Charakterisierungs- und Produktionstests durchzuführen, wobei der Schwerpunkt auf der Kommunikation mit dem Prüfling, Tests digitaler Schnittstellen sowie Durchgangs- und Leckagetests liegt.

 

 

Lernpfad für Halbleitervalidierungstests

Dieser Lernpfad ist für Ingenieure gedacht, die Halbleitervalidierungstests durchführen und versuchen, Geräte zu charakterisieren und die Testzeiten zu verkürzen, ohne die Messqualität und -genauigkeit zu beeinträchtigen.  

 

Weitere Informationen

Beschreibung

Empfohlene Kursvoraussetzungen

Messen der Zuverlässigkeit auf Wafer-Level

Messen Sie die Zuverlässigkeit von Halbleiter-Wafers mit der Wafer Level Reliability Test Software.

 

RFIC Test Software zur Validierung des RF-Front-End-Designs

Mit der RFIC Test Software können Sie Leistungsgrenzen festlegen und Spezifikationen für zu testende RF-Leistungsverstärker definieren.

 

Zusatzpaket zur Steuerung von Halbleitergeräten für die Validierung von Prüflingen

Dieser Kurs vermittelt Kenntnisse dazu, wie Sie das Zusatzpaket konfigurieren und Ihren Prüfling aktivieren, auf Fehler überprüfen, mit ihm interagieren und Fehler beseitigen.

 

Integration des VCSEL I-V-Testsubsystems

Das VCSEL I-V-Testsubsystem bietet eine anpassbare Lösung für das Testen von Oberflächenemittern bzw. Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser-(VCSEL-)Geräten. Die Teilnehmer lernen, wie sie das VCSEL I-V-Testsubsystem in ihre vorhandenen Testsysteme integrieren und grundlegende Tests durchführen, um eine ordnungsgemäße Konnektivität sicherzustellen.

 

Weitere Kursoptionen zur Halbleitertechnik

 

Aufzeichnen, Verwalten und Auswerten von Daten zur Produktkonformität mit dem Bench Data Connector

 

Mithilfe der SystemLink-Produktfamilie können Sie ein Produkt charakterisieren und die Einhaltung der festgelegten Spezifikationen bewerten. Sehen Sie sich Datenaufzeichnungen im Bench Data Connector Browser an und bewerten Sie sie im Specification Compliance Manager.

 

Verwaltung der Produktkonformität mit dem Specification Compliance Manager

 

Mit dem Specification Compliance Manager (SCM) in SystemLink können Sie die Einhaltung der festgelegten elektrischen Spezifikationen eines Produkts bewerten. In diesem Kurs lernen Sie, wie Sie die Konformität überschreiben, Kriterien für die Beurteilung der Konformität festlegen und Funktionen zur Zustands- und Parameterzuordnung verwenden.

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