Device Testing with Digital Pattern Instruments, Überblick zur Schulung

Hier lernen Sie den effektiven Einsatz von NI-Oszilloskopen zur Auswahl des richtigen Messgeräts und der passenden Sonden für Ihre Messanforderungen. Sie können Ihr Oszilloskop einrichten und sowohl interaktive als auch programmatische Messungen an einem Prüfling durchführen.

Verfügbare Formate

 

Für diesen Kurs ist keine virtuelle Schulung verfügbar

 

Für diesen Kurs ist keine Präsenzschulung verfügbar

 

Für diesen Kurs ist keine private Schulung verfügbar

Kursziele

Kursdetails

Dauer

Zielgruppe

Kursvoraussetzungen

Verwendete NI-Produkte

Schulungsmaterialien

Kosten in Credits

Device Testing with Digital Pattern Instruments, Kursübersicht

LektionÜbersichtThemen

Erstellen und Bursten Ihres ersten Digitalmusters

Konfigurieren einer Pin-Map, eines Level-Tabellenblatts, eines Timing-Tabellenblatts und einer Musterdatei, wobei ein digitales Muster auf das zu testende Gerät (DUT) übertragen wird

  • PXI-Messgerät für Digitalmuster

Pin-Maps erstellen

Erstellen von Pin-Maps im Digital Pattern Editor zum Definieren von Prüflingsverbindungen

  • Erkunden von Pin-Maps

Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen

Speichern von Werten aus dem Datenblatt des Prüflings in Tabellenblättern mit Spezifikationen 

  • Anzeigen von Tabellenblättern mit Spezifikationen

Erstellen von Pin-Level-Tabellenblättern

Erstellen von Pin-Level-Tabellenblättern zum Definieren der Versorgungsspannungen, Abschlüsse und Logikpegel für den Prüfling

  • Anzeigen von Pin-Level-Tabellenblättern

Erstellen von Timing-Tabellenblättern

Erstellen von Timing-Tabellenblättern zum Definieren der Timing-Eigenschaften der Schnittstelle mit dem Prüfling

  • Anzeigen von Timing-Tabellenblättern

Erstellen von Musterdateien

Erstellen von Musterdateien, um mit dem Prüfling zu kommunizieren und ihn zu testen

  • Einführung in Muster
  • Arbeiten mit Mustern

Programmieren von Digitalmustern

Programmatisches Steuern von Digital Pattern Instruments mit der Digitalmuster-API von NI.

  • Erkunden des Softwareablaufs von Digital Pattern Instrument
  • Erstellen einer Session und Steuern von Zuständen
  • Bearbeiten von Pin-Maps mit der Digitalmuster-API von NI
  • Bearbeiten von Pin-Levels mit der Digitalmuster-API von NI
  • Bearbeiten von Zeitsets mit der Digitalmuster-API von NI
  • Laden von Dateien mit der Digitalmuster-API von NI

Testen der Betriebsarten des Prüflings

Konfigurieren des Prüflings mit SPI-Befehlen (Serial Peripheral Interface, serielle periphere Schnittstelle) zum Testen seiner Betriebsarten

  • Kennenlernen der SPI-Kommunikation

Durchführen von Registerrücklesetests

Durchführen eines Registerrücklesetests zur Validierung der Kommunikationsfunktionen des Prüflings.

  • Einführung in Registerrücklesetests

Validieren des Prüflings-Timings

Anbindung an externe Testgeräte zur Validierung des Prüflings-Timings.

  • Einführung in die Validierung des Prüflings-Timings

Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests

Durchführen von Durchgangs- und Leckagetests zur Validierung von Prüflings-Pinverbindungen.

  • Einführung in Durchlauf- und Leckagetests
  • Grundlagen zur PPMU (Pin Parametric Measurement Unit, Pinparameter-Messeinheit)

Erhöhen der Muster-Robustheit mit Ablaufsteuerung

 

 

Erhöhen der Muster-Robustheit durch Verwendung von Opcodes zur Einrichtung der Ablaufsteuerung.

  • Einführung in Opcodes im Digitalmuster-Editor
  • Verwenden von Wiederholungs- und Schleifen-Opcodes in Mustern
  • Kennenlernen von Spring- und Aufrufs-Opcodes
  • Verwenden von bedingten Funktionsweisen
  • Kennenlernen von Sequencer-Flags und Register-Opcodes

 

 

Verwenden von Quellsignalverläufen

 

 

 

Verwenden von seriellen und parallelen Quellsignalverläufen, um eine Musterstruktur mit variablen Daten zu vereinfachen.

 

  • Kennenlernen von Quellsignalverläufen
  • Konfigurieren von seriellen Quellsignalverläufen
  • Verwenden von seriellen Quellsignalverläufen in Mustern 
  • Kennenlernen des Wechsels von Quellpinstatus 
  • Laden und Entfernen von Quellsignalverläufen 
  • Konfigurieren paralleler Quellsignalverläufe
  • Verwenden von parallelen Quellsignalverläufen in Mustern 
  • Überlegungen zur Quellbandbreite

Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen

 

Verwenden von aufgezeichneten Signalverläufen zum Speichern empfangener Daten zur Validierung und Nachbearbeitung.

  • Kennenlernen von aufgezeichneten Signalverläufen
  • Konfigurieren von seriellen erfassten Signalverläufen
  • Konfigurieren von parallelen erfassten Signalverläufen
  • Verwenden von erfassten Signalverläufen in Mustern
  • Laden und Entfernen von erfassten Signalverläufen
  • Überlegungen zu erfassten Signalverläufen 

Prüfen von Testergebnissen mit Historien-RAM-Reports

 

Verwenden des Ergebnisses des Historien-RAM-Reports zur Fehlersuche im Muster oder im Prüfling.

  • Kennenlernen des Historien-RAM
  • Verwenden der NI-Digital Historien-RAM-API 
  • Überlegungen zum Arbeitsspeicher und zur Bandbreite

 

Anzeigen von Signalen mit digitalem Oszilloskop

 

 

Verwenden eines digitalen Oszilloskops zur Anzeige der tatsächlichen Spannungspegel an den Pins des Digital Pattern Instrument (PXIe-657x).

 

  • Kennenlernen des digitalen Oszilloskops
  • Konfigurieren und Verwenden eines digitalen Oszilloskops

Darstellen von Parameterverhältnissen mit Shmoo-Plots

 

Verwenden von Shmoo-Plots zum Durchlaufen von Musterparametern und Anzeigen der Ergebnisse.

 

  • Kennenlernen von Shmoo-Plots
  • Kennenlernen der Ausführungsmodi von Shmoo-Plots

Synchronisation mit anderen Geräten

Implementieren von Synchronisationsstrategien, z. B. gemeinsame Trigger oder Verwendung von NI-TClk zur Koordinierung von Tasks mit anderen Geräten.

 

  • Interaktives Erzeugen von Triggern
  • Programmatisches Erzeugen von Triggern
  • Verwenden von NI-TClk mit mehreren Geräten 
  • Erkennen von Treffer- oder Fehlerbedingungen
  • Überblick über Synchronisationsmethoden

Verkabelung und Kalibrierung

 

Ausgleich von Laufzeitunterschieden über Kabel und Spannungs-Offsets und Untersuchen der Anforderungen an die Gerätekalibrierung

  • Konfigurieren der Zeitbereichsreflektometrie
  • Verbinden von Ground Sense des Prüflings
  • Kalibrieren von Geräten für Digitalmuster

Verwenden von Opcodes für Scan-Tests

Aufteilen eines Vektors in einen oder mehrere Scankreisläufe mit Scan-Opcodes

  • Kennenlernen von Scan-Mustern

Lernpfad fortsetzen

NI-DMM-Gerät

 

Messungen mit NI-Digitalmultimetern durchführen

 

Hier lernen Sie den effektiven Einsatz von NI-Digitalmultimetern (NI-DMM) zum Erkennen und Interpretieren wichtiger Spezifikationen, damit Sie Unterstützung bei der Auswahl des richtigen Messgeräts und der passenden Sonden für Ihre Messanforderungen erhalten.

Oszilloskop von NI

 

Durchführen von Messungen mit Oszilloskopen

 

 

Am Ende dieses Kurses sollten Benutzer in der Lage sein, ein geeignetes NI-Oszilloskop und Sonden für ihre Messanforderungen auszuwählen. Sie sollten dann in der Lage sein, ihr Oszilloskop einzurichten und sowohl interaktive als auch programmatische Messungen an ihrem Prüfling durchzuführen.

 

Nahaufnahme der PXI-Hardware von NI

 

SMU and Power Supply Set-up, Control, and Optimization

 

Der Kurs „SMU and Power Supply Set-Up, Control, and Optimization“ befähigt Ingenieure im Bereich Prüfen und Validieren, Spannungen und Ströme zu erzeugen und zu messen, sodass sie ihre jeweiligen Prüfanforderungen erfüllen können.

Upgrade auf Mitgliedschaft

Wenn Sie beabsichtigen, innerhalb eines Jahres drei oder mehr Kurse von NI-Schulungsleitern zu besuchen, bietet eine Schulungsmitgliedschaft kosteneffektiven, unbegrenzten Zugang zu allen öffentlichen Kursen und öffentlichen virtuellen Kursen von NI sowie unbegrenzte Zertifizierungsgutscheine.