Test Program Development with STS – Kursübersicht

Der Kurs „Test Program Development with STS“ bietet ein praktisches Training für die Einrichtung und Verwendung eines „Semiconductor Test System“ (STS) zur Kommunikation mit einem Prüfling. Der Kurs folgt dem typischen Halbleitertest-Workflow und den dafür üblichen Etappen, wie etwa der engen Interaktion mit der entsprechenden Hardware. Nach Abschluss dieses Kurses ist ein Testingenieur in der Lage, STS-Testerressourcen interaktiv zu verwenden, um Testprogramme mit vorhandenen Codemodulen (entwickelt mit LabVIEW oder .NET/C#) zu erstellen, zu ändern, auszuführen und zu debuggen, wobei Testdaten und Testzeitreporte gesammelt werden.

 

Letztes Veröffentlichungsdatum oder Versionsnummer des Kurses: Auf Anfrage: 23,0

Kursdetails:

Test Program Development with STS – Kursübersicht

LektionÜbersichtThemen
Einführung in STSErkunden Sie die Hauptkonzepte des Halbleitertestsystems (STS).  
  • Einführung in die STS-Plattform
Erkunden des TestkopfsErkunden Sie die High-Level-Funktionen und E/A für den STS-Testkopf. 
  • Übersicht über den STS-Testkopf  
  • Erkunden der Ein- und Ausgänge des STS T1 M2
Erkunden von LastplatinenEntdecken Sie die High-Level-Funktionen des Device Interface Boards (DIB) und der verschiedenen Lastplatinen-Schnittstellentypen.
  • Übersicht der Lastplatinen
  • Kennenlernen von Lastplatinen-Schnittstellentypen
  • Anschließen einer DIB an das STS
Andocken und Verbinden mit dem STSBeschreibung der Topologie einer typischen Testzelle und erkunden der verschiedenen Optionen zum Andocken eines STS.
  • NI STS-Standard-Andocken und -Schnittstellen
  • Automatisiertes Andocken-Beispiel
Kennenlernen der NI STS-SoftwareLernen Sie die Softwaretools zum Überwachen, Warten, Debuggen und Kalibrieren des STS sowie der Testentwicklungs- und Codemodul-Entwicklungsumgebung für STS kennen.
  • Überblick über die STS-Software
  • Einführung in die STS-Wartungssoftware​
  • Einführung in die Testentwicklungsumgebung​
  • Einführung in die Bedienoberfläche
Navigieren im Testentwickler-WorkflowSehen Sie sich ein Beispiel für einen Testentwickler-Workflow und die wichtigsten Schritte an.
  • Erkunden eines Beispiel-Workflows für Testentwickler
Untersuchung von STS-Sicherheitsanforderungen und -spezifikationenInformieren Sie sich über die Sicherheitsanforderungen und -spezifikationen, die Sicherheitskonformität und die Umgebungsspezifikationen des STS-Systems und wenden Sie sie an.
  • Erkundung der Sicherheitsanforderungen des STS​
  • Gewährleistung der Sicherheitskonformität für das STS​
  • Erkundung der Umgebungsspezifikationen für das STS

Erkunden der Tester-Instrumentierung​

Erkunden der STS PXI-Plattform und gängiger STS-Instrumente.  
  • Erkunden der NI PXI-Plattform​
  • Identifizieren der STS-Instrumentierung
  • Zusätzliche gebräuchliche STS-Instrumentierung​
  • Verwenden simulierter Hardware
Untersuchen der SystemspezifikationenErkunden der Eingangs- und Ausgangsspezifikationen für STS T1, T2 und T4.  
  • Kennenlernen der STS-Systemspezifikationen
  • STS-Spezifikationen online erkunden
Kalibrieren eines STSErkunden der Kalibrierungsmodule und der im STS-System verwendeten Kalibrierungsarten.
  • Was ist Kalibrierung?
  • Navigieren in den STS-Kalibrierungsarten
  • Erkunden der in STS verwendeten Kalibrierungsmodule
  • Aktivieren der Aufwärmwartezeit für STS
  • Prüfen von DC-Durchgang/Funktionsumfang
Erstellen eines STS-Projekts  Erstellen eines Testprogramms und erkunden der Sequenzdatei und der Ordnerstruktur, die für das Testprogramm erstellt wurden.
  • Erstellen eines Testprogramms
  • Untersuchen der Ordnerstruktur
  • Erkunden der Testprogrammarchitektur
Erkunden von Pin-MapsErkunden des Zweck der Pin-Map und ihrer Rolle bei der Zuordnung von STS-Hardware zu Prüfling-Pins.
  • Was ist eine Pin-Map?
  • Erkunden von Informationen in einer Pin-Map​
  • Zum Erstellen einer Pin-Map erforderliche Dokumentation
Überprüfen einer Testerkonfiguration und eines Lastplatinen-SchaltplansErkunden der Standardtesterdokumentation, deren Inhalt und Zweck.
  • Erkunden der Prüfling-Spezifikationen​
  • Verfolgen eines Signals vom Instrument zum Prüfling
Abbildung von Messanforderungen  Zuordnen der Messanforderungen, um sicherzustellen, dass das System und seine ausgestatteten Instrumente die Messanforderungen im Testplan erfüllen können.  
  • Abbildung von Messanforderungen
  • Anschließen von Instrumenten an Prüfling-Pins​
  • Zuweisen von Testerressourcen basierend auf einem Testplan
Zuordnen von Prüfling-Pins zu InstrumentenkanälenVerwenden des Pin-Map-Editors, um Pin-Map-Dateien zu erstellen und zu ändern, die Prüfling-Pins Instrumentenkanälen zuordnen.
  • Hinzufügen und Konfigurieren eines Instruments mit dem Pin-Map-Editor​
  • Überprüfen von Pin-Map-Fehlern und -Warnungen​
  • Einrichten von Sitzungen mit mehreren Instrumenten
Verbinden mit dem Prüfling über das Device Interface BoardErkunden der verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Ihre Instrumente an ein Device Interface Board (DIB) anschließen können, und Identifizieren der verfügbaren Ressourcen, um Sie beim Entwerfen Ihrer eigenen Lastplatinen zu unterstützen.
  • Wie verbinde ich mein DIB mit meinen Instrumenten?​
  • Wie gestalte ich mein DIB?​
  • Anschließen des Prüflings an die DIB
Prüfen des Prüfling-DurchgangsVerwenden des Digital Pattern Instruments, um den Prüfling auf Durchgang zu testen, bevor Sie andere Tests ausführen.
  • Was ist ein Durchgangstest?
  • Welches Instrument verwende ich, um die Kontinuität des Prüflings zu überprüfen?​
  • Durchführen eines Durchgangstests
Inbetriebnahme des PrüflingsVerwenden des Digital Pattern Editor, um das zu testende Gerät (Prüfling) in Betrieb zu nehmen, damit Sie mit dem Testen beginnen können.
  • Festlegen, wie der Prüfling eingeschaltet wird​
  • Einschalten des Prüflings
Messung des AbleitstromsVerwenden des Digital Pattern Instruments, um den Ableitstrom für den Prüfling zu messen, bevor Sie andere Tests durchführen.
  • Was ist der erste Test, der nach der Inbetriebnahme durchgeführt wird?​
  • Durchführen eines Ableitstromtests
Vorbereiten der Kommunikation mit dem PrüflingIdentifizieren der einem digitalen Projekt zugeordneten Dateitypen und beschreiben der Dateien, die erstellt werden sollten, bevor ein digitales Muster für die Kommunikation mit dem Prüfling erstellt wird.
  • Erkunden der Inhalte eines digitalen Projekts​
  • Erstellen von Tabellenblättern mit Spezifikationen
  • Erstellen von Pegel-Tabellenblättern​
  • Timing-Tabellenblätter erstellen
Erstellen einfacher Digitalmuster zur Kommunikation mit dem PrüflingErstellen, bearbeiten, laden und bündeln grundlegender digitaler Muster, um mit dem Prüfling unter Verwendung des Digitalmuster-Editors zu kommunizieren
  • Erkunden vektorbasierter Muster​
  • Erstellen von Digitalmustern
Konvertieren vorhandener DigitalmusterKonvertieren von Mustern, die in anderen Umgebungen entwickelt wurden, zur Verwendung im Digitalmuster-Editor.
  • Konvertieren vorhandener Musterdateien​
Untersuchung der TestsequenzdateiErkunden der Hauptkomponenten einer Testsequenzdatei und wie jede Komponente verwendet wird.​
  • Was sind die Bestandteile einer Sequenzdatei?
  • Identifizieren von Fensterbereichen im Sequenzdateifenster​
  • Erkunden der Testprogrammarchitektur
Hinzufügen von Schritten zu einer TestsequenzErfahren, wie Schritte in eine Testsequenz eingefügt werden können.
  • Hinzufügen eines Schritts zu einer Sequenz​
  • Erkunden der Schritttypen​
  • Konfigurieren von Schritten
Testschritte erstellen und konfigurierenErstellen und Konfigurieren von Testschritten, die Codemodule aufrufen, in einem STS-Projekt.
  • Was ist ein Code-Modul?
  • Auswahl eines Startpunktes für Halbleitertechnik-Testschritte​
  • Aufrufen einer TSM-Testschrittvorlage
  • Aufrufen eines Halbleiter-Multitest-/Aktionsschritts​
  • Konfigurieren von Testschritteinstellungen
Verwenden von Testschrittvorlagen  Erkunden der verschiedenen verfügbaren Schrittvorlagen und deren Verwendung als Teil einer Testsequenz.​
  • Erstellen einer Testsequenz mit Schrittvorlagen
Steuern der TestStand-AusführungFühren Sie eine Testsequenz aus und ändern Sie die Testsequenz so, dass sie je nach Testbedingungen oder -einstellungen unterschiedlich ausgeführt wird.​
  • Ausführen einer Testsequenz
  • Daten verwalten und teilen​
  • Verwenden von Ablaufsteuerungsschritten zum Ändern des Ausführungsablaufs​
  • Verwenden von Ausdrücken zum Zugreifen auf oder Ändern von Daten​
  • Ändern der Ausführung aufgrund eines fehlgeschlagenen Tests
Festlegen von TestgrenzwertenErstellen, erkunden und importieren Sie Testgrenzwerte, um Ihre Testsequenzen für verschiedene Szenarien schnell zu aktualisieren.​
  • Exportieren Ihrer Testgrenzwerte​
  • Importieren Ihrer Testgrenzwerte​
  • Hinzufügen Ihrer Testgrenzwertdateien
Erstellen von TestkonfigurationenVerwenden Sie den Testprogramm-Editor und Ihre Testanforderungen, um Testkonfigurationen für Ihr System zu erstellen.​
  • Erstellen von Testkonfigurationen
  • Definieren mehrerer Testabläufe
Binning von Prüflingen basierend auf Testergebnissen​Erkunden Sie die verschiedenen Möglichkeiten, wie Sie Prüflinge basierend auf den Testergebnissen kategorisieren und eine Binning-Strategie implementieren können.​
  • Übersicht über Binning​
  • Einstellen der Intervall-Definitionsdatei​
  • Erstellen von Hardware- und Software-Intervallen
Konfigurieren der Ausführung eines Testprogramms​Konfigurieren und Ausführen eines Testprogramms in der Testentwicklungsumgebung.
  • Konfigurieren von Stationseinstellungen​
  • Konfigurieren, wie TestStand Testergebnisse meldet​
  • Konfigurieren von Stationsoptionen
  • Konfigurieren, wie TestStand Ihre Codemodule ausführt​
  • Ausführen Ihres Testprogramms
Erstellen von TestberichtenImplementieren einer Ergebnissammlungs- und Testberichtsstrategie in TestStand von NI.
  • Konfigurieren von Berichtsoptionen
  • Auswählen eines Berichtsformats​
  • Erstellen eines ATML-Berichts
  • Konfigurieren der Testergebnissammlung
Fehlerbehandlung eines TestprogrammsVerwenden Sie die integrierten TestStand-Funktionen, um Probleme in einer Testsequenz zu identifizieren und zu beheben.
  • Ablaufverfolgung der Testprogrammausführung
  • Pausieren und Durchlaufen der Ausführung​
  • Behandeln von Ausführungsfehlern
Fehlerbehandlung-Szenarien erkundenBehandeln Sie Fehler eines Testprogramms in verschiedenen unerwarteten Situationen.
  • Fehlerbehandlung
  • Fehlerbehandlung von fehlgeschlagenen Tests
Benchmarking der TestzeitIdentifizieren und beheben Sie Probleme, die die Codeausführungsgeschwindigkeit einschränken.​
  • Benchmarking der Testzeit
  • Optimierung der TestStand-Ausführungsgeschwindigkeit​
  • Optimieren der Hardware-Ausführungsgeschwindigkeit
Interaktion mit Testerressourcen zur Fehlerbehandlung von Problemen​  Verwenden Sie InstrumentStudio, um mit Testerressourcen zu interagieren, um Testprobleme zu beheben.
  • Überblick über InstrumentStudio​
  • Fehlerbehandlung von DC-Leistungsinstrumenten​
  • Fehlerbehandlung von Oszilloskopen​
  • Fehlerbehandlung von Treibersitzungen​
  • Fehlerbehandlung mehrerer Instrumente​
  • Exportieren von Daten für zusätzliche Analysen
Einsatz des Digitalmuster-Editors zur FehlerbehandlungVerwenden Sie Werkzeuge im Digital Pattern Editor (DPE), um Testfehler weiter zu behandeln.
  • Überblick über die Fehlerbehebung mit dem DPE
  • Pin-Status in Echtzeit anzeigen​
  • Fehler bei der Musterausführung
  • Fehlerbehandlung des digitalen Oszilloskops​
  • Analysieren von Testergebnissen basierend auf Parameter-Sweeps
Ausführen einer Sequenz mit der STS-Bedienoberfläche​Führen Sie ein Testprogramm mit der NI Halbleitertest-Bedienoberfläche (OI) aus und erhalten Sie die wahre Buchsenzeit.
  • Übersicht über die Bedienoberfläche​
  • Konfigurieren und Ausführen einer Charge
  • Anzeigen der Testergebnisse und Reporte

Beginnen Sie noch heute mit der Testprogrammentwicklung mit dem STS-Kurs