Das NI Semiconductor Test System (STS) ist eine sofort einsatzbereite ATE-Lösung für RF- und Mischsignal-Halbleitergeräte. In diesem Kurs erhalten Sie alle erforderlichen Informationen und Schulungen, um das Personal mit dem Betrieb des STS in einer Produktionsumgebung vertraut zu machen. Während des Kurses lernen die Teilnehmenden den Aufbau und die Komponenten des STS sowie Sicherheits- und Umweltanforderungen kennen. Es werden grundlegende Vorgänge behandelt, darunter das Ein- und Ausschalten, das Installieren und Deinstallieren von Lastplatinen und das Konfigurieren von Chargeneinstellungen. Die Teilnehmer erhalten außerdem praktische Erfahrung mit der Ausführung eines Testprogramms auf einem realen Mischsignalgerät. Der Kurs schließt mit einigen grundlegenden Verfahren zur Fehlerbehebung ab, die neuen STS-Bedienern helfen sollen, gängige Probleme zu lösen.
Letztes Veröffentlichungsdatum oder Versionsnummer des Kurses:
Vor Ort (mit Kursleiter): 22.0
Auf Anforderung: 23,0
Vor Ort (mit Kursleiter): Ein (1) Tag
Auf Anforderung: Anderthalb Stunden (1,5)
Neue Mitarbeitende, die sich auf den Einsatz des NI-STS in einer Produktionsumgebung vorbereiten
Keine
Semiconductor Test System (erforderlich)
Die Schulung vor Ort mit Kursleiter umfasst digitale Kursmaterialien, die während des Kurses bereitgestellt werden.
Testen von Mischsignal- oder HF-Halbleiterbauelementen mit dem NI-STS
Konfigurieren der Chargeneinstellungen für Ihren spezifischen Prüfling
NI-STS-Lastplatinen installieren und deinstallieren
Verwalten von STS-Softwarepaketen und Durchführen grundlegender Problembehandlung
Lektion | Übersicht | Themen |
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Überblick über das STS | Den Zweck des STS kennenlernen, seine externen Komponenten und I/O identifizieren und Warnhinweise mit 100 % Genauigkeit erklären. |
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Bedienung des STS | Durchführen grundlegender STS-Vorgänge, darunter das Ein- und Ausschalten des STS, das Ausführen von Selbsttests, das Arbeiten mit Lastkarten und das Verwalten von Softwarepaketen. |
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Ausführen von Testprogrammen | Verwenden der Bedienerschnittstelle (OI), um Chargeneinstellungen zu konfigurieren und ein Testprogramm auszuführen. |
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Anzeigen von Testerstatus und -ergebnissen | Verwenden von Anzeigen auf der Benutzeroberfläche, um den Status der aktuellen Testsequenz zu überwachen und Testberichte für zuvor abgeschlossene Tests anzuzeigen. |
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Fehlersuche bei allgemeinen Problemen | Interpretieren von Fehlercodes und Beheben der häufigsten Probleme, die während der Testausführung auftreten. |
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