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ウェーハレベルのパラメトリックテスト

ウェーハレベルテストの技術者には、計測の品質と確度を損なうことなくテストにかかる時間を短縮することが求められています。

NIでは、ニーズに合わせて拡張できる柔軟なウェーハファブパラメトリックテストソリューションを提供しています。

ウェーハレベルのパラメトリックテストに対するスマートなアプローチ

ICメーカーは、新たな半導体製造プロセス技術や微細化技術に取り組み続けています。そのような中、これらの新技術の導入に伴う複雑化が、ICの長期信頼性に影響しないようにする必要があります。半導体メーカーは、技術の急速な変化に伴い、より多くの信頼性データを収集し解析しながら、テストのコストを削減する必要があります。低コストでより多くのデータを扱うという問題に直面した時、多くの信頼性技術者は従来型の信頼性テストソリューションでは解決が不可能であることに気づき、ニーズに合わせて拡張できる柔軟性に優れたモジュール式ソリューションに目を向けるようになります。

NI半導体パンフレット

半導体テストにプラットフォームベースアプローチを採用して、テストコストを削減する方法をご紹介します。

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Imecでは、PXIプラットフォームとLabVIEWを使用して、半導体プロセスフローの柔軟性を高め、ウェーハレベルのテスト時間を短縮しています。

Imec、ウェーハレベルのパラメトリックテストサイクルを1か月から3日に短縮

PXIプラットフォームを使用することで、テスト時間を短縮し、コストを75%削減できます。また、従来不可能だった処理実験も可能です。

パラメトリックテストシステムに対してモジュール式アプローチを採用することで、WLRテストシステムの計測品質を犠牲にすることなく、設置面積を劇的に縮小することができます。

PXI SMUで実現する並列性に優れたウェーハレベル信頼性テストシステム

PXIでは、最新の商用プロセッサとPXI SMUの優れたポートフォリオの能力を活用して、高稼動のSMU-per-pinウェーハレベル信頼性システムを構築することができます。

NIのSMUのコンパクトなフォームファクタとモジュール性により、これらの計測器は並列IVテストシステムにとって重要な存在になります。

NIのSMUがもたらすメリット

NIのSMUは、従来のスタンドアロンSMUの電力供給および計測性能にNIが誇る技術を組み合わせた結果、サイズの小型化、処理の高速化、柔軟性の向上を実現しています。

製品とソリューション

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NIパートナーネットワークは、ドメイン、アプリケーション、および全体的なテスト開発エキスパートがNIと緊密に連携してエンジニアリングコミュニティのニーズを満たすグローバルコミュニティです。NIパートナーは、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者、幅広い産業やアプリケーション分野に精通したサービスおよび販売チャネルの専門家です。

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アーキテクチャの説明や性能、関連するケーススタディなど、半導体の特性評価向けPXIプラットフォームの基礎を学びます。