半導体デバイス形状の小型化、複雑化が進む一方で、自動運転車などの大きな技術動向を受けて、製品品質の保証を高めなければならないという半導体サプライチェーンへのプレッシャーがさらに高まっています。こうした困難な要求に応えつつ、競合他社に先駆けて安定したテクノロジノードをリリースするためには、より多くの信頼性計測データが必要であり、半導体ウェーハプロセスに携わるエンジニアはそうしたデータをかつてないほど迅速に必要としています。
ウェーハレベル信頼性テスト (WLR) ソリューションは以下の重要な要件に対応する必要があります。
業界をリードする並列処理と測定速度により、WLRテストのサイクルが数か月から数日へと短縮
非常に柔軟なSMU-per-pinアーキテクチャを使用した構成およびアップグレード可能なチャンネル数
WLRテストソフトフロントパネルとAPIを使用してJEDEC信頼性テストを簡単かつ迅速に実行
リモートシステム管理やデータ解析用にオプションのアドオンが利用可能
カスタマイズ可能なオペレータインタフェース、業界標準のテストシーケンサ、抽象化された並列処理、およびマルチスレッド処理機能を持つNIのWLRテストソフトウェアで、JEDEC信頼性テストをより簡単に実行できるようになります。その方法を確認してください。
NIでは、アプリケーション固有の要件に合わせてカスタマイズされた、さまざまなソリューション統合オプションを提供しています。社内で統合チームを組織してシステムを完全に統括することも、NIと世界各地のNIパートナーネットワークの専門技術を活用したターンキーソリューションをご利用いただくことも可能です。
NIは、トレーニング、技術サポート、コンサルティングと統合サービス、メンテナンスプログラムによって、アプリケーションのライフサイクル全体を通してお客様との緊密な関係を築きます。お客様のチームは、NIの地域別ユーザグループに参加することで新たなスキルを発見でき、オンライントレーニングおよび対面型トレーニングで習熟度を高めることができます。