量産テスト

製品テストでは、従来自動テスト装置 (ATE) に代わるものとして、複雑進むRFおよびミックスシグナルICコスト範囲要件満たす、よりスマート選択肢求めています。

Analog Devices社はNI半導体テストシステム (STS) を使用して、ミックスドシグナルデバイスからRFICにいたる製品ポートフォリオのウエハプローブと最終パッケージの両方のテストを行っています。

製造向け自動テスト装置 (ATE) に対するスマートアプローチ

チップメーカーは、より統合された機能を提供し、ミッションクリティカルなアプリケーション向けに高い信頼性を確保し、高いコスト競争力を維持しながら、短時間で市場に製品を投入して厳しい市場枠に対応する必要があります。半導体ATEの市場では、サプライヤが合併により減少し、選択肢が限定されるようになりました。変化の時を迎えているのではないでしょうか。NIは40年間にわたって、未来のデバイスのテストと測定を支援してきました。今日、NIは最も急成長を遂げている半導体製造テストサプライヤの1つです。なぜならNIでは、5G、IoT、スマートカーのニーズを牽引力とする、よりスマートな未来のテストソリューションは、メーカーが決めるのではなくお客様が決めるものと考えているからです。

NI半導体パンフレット

半導体テストにプラットフォームベースアプローチを採用して、テストコストを削減する方法をご紹介します。

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