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大量生産向け半導体製造テスト

半導体テストラボ

インテリジェントコスト最適化生産テスト

エンジニアは、生産テスターに囲まれている製造ラインを歩きながら、テスト結果について話し合います。

デバイスの複雑さは増していますが、テストコストは増加する必要はありません。NIのモジュール式ソフトウェア定義テストシステムは、特性評価から大量の半導体テストまで対応しており、デバイスあたりのコストを削減しながら歩留まりランプを加速します。生産対応のATEターンキーソリューション、高度に最適化されたカスタムPXIテスター、または解析主導の歩留まり最適化のためのインテリジェントなエンタープライズソフトウェアが必要な場合も、NIのテクノロジーはライフサイクルの各段階でテストカバレッジ、スループット、コストを調整するのに役立ちます。

​半導体ウェハプローバに垂直にドッキングされた、マニピュレータによって反転されたSTSテスターの前に立つクリーンスーツのエンジニア

注目のソリューション

ワイヤレスデバイスおよびミックスシグナルICターンキーATEソリューション

NI 半導体テストシステム (STS) は、PXI計測器、テストプログラムソフトウェア、現場キャリブレーションを工業用テストヘッドフォームファクタに組み込み、テストセルのシームレスな統合を実現します。RFデバイスおよびミックスドシグナルICで実証されており、品質を犠牲にせず、優れたスループットとコスト効率を提供します。

お客様生産ニーズ対応する柔軟半導体テストプラットフォーム

NI STSは、RFデバイスおよびミックスドシグナルIC用にワークフロー対応のATEを提供する、インテリジェントでコスト最適化された半導体製造テストソリューションです。カスタム要件の場合、モジュール式PXI計測器、組み立て済みの19インチテストラック、テスト自動化と解析用のソフトウェアによって、柔軟性、拡張性、迅速な本番稼働環境への移行を実現します。いずれのオプションも、モジュール式のソフトウェア接続アプローチを活用し、デバッグ、開発、自動化を効率化して市場投入までの時間を短縮します。

​モジュール式ATEシステムと自動PXIソフトウェアを利用して半導体デバイスをテストしているエンジニア

STSは、多くの製品ポートフォリオでウェハプローブと最終パッケージテストの両方に活用されています。これまでに数億個のユニットをテストしてきました。これらのシステムの信頼性と可用性の高さには常に感銘を受けています。

マイク・オサリバン

ジェネラルマネージャ

Analog Devices

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NIパートナーネットワークは、ドメイン、​アプリケーション、​テストの専門家で構成される​グローバル​コミュニティです。NIと協力して活動し、お客様のニーズにお応えし​てい​ます。NIパートナーには、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者がいるほか、幅広い産業分野および応用分野に精通したサービスおよび販売チャンネルの専門家が揃っています。 

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