電子ソリューション

高精度電子デバイスの進化

技術革新により、デバイスの小型化とスマート化が進むと同時に、機能性と耐久性も向上しています。NIのソリューションは、精密なハードウェアと開発を加速するソフトウェアを組み合わせて、電子技術の進歩を促進する測定をピンポイントで特定します。

電子技術革新の最前線

NIのソフトウェアおよびハードウェアソリューションは、シームレスな統合、カスタマイズ、合理化された解析により、電子機器のテスト効率を高めます。

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コンポーネントとソフトウェアを統合

トップクラスのモジュール式ハードウェアと適応型ソフトウェアによる当社のソリューションは、合理化された電子システム設計を促進します。

市場投入までの時間を短縮

他社のハードウェアと統合し、コードの柔軟性を促進する高性能計測器を使用して、迅速な製品導入を実現します。

効率を高める

柔軟なソフトウェアにより、カスタムアプリケーション、自動化、正確な測定が可能になり、開発を迅速化および簡素化できます。

解析を簡素化

直感的なデータにより、効率的で正確な結果を実現し、テストプロセス全体で時間を節約します。

Eiがテストプロセスを改善

高品質の安全製品を製造するEi Electronicsは、製造全体でテストの標準化を実装し、急速に変化する状況にもかかわらず、急速に成長を遂げています。

テストエンジニアは、新製品のスケジュールに間に合うように、パフォーマンスとコストが最適化されたシステムを迅速に構築する必要があります。当社の柔軟なソリューションは、変化する要件に対応し、永続的な結果をもたらします。

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- オーディオおよび音響テスト
- バッテリセル品質テスト
- PCB組み立てテスト
設計サイクルが短くなると、設計要件の検証と確認にかかる時間が短縮されます。テストエンジニアは、複雑な設計を時間内に確実に確認するための柔軟で効率的なソリューションを必要としています。
- セルラーと接続性の検証
このソリューションはニーズに応じて拡張することができます。ベースバンドからミリ波までのさまざまなRF計測器から選択し、アナログ、デジタル、および他の多くの計測器と組み合わせて、必要なテストベンチを正確に作成することができます。
- O-RU検証ソリューション O-RAN RU製造テストソリューション
- 超広帯域テストソリューション 5Gミリ波OTA検証のリファレンスアーキテクチャ
カスタマイズ可能なデータ収集システムを利用することで、メカニカルテストエンジニアは機械コンポーネントと設計の耐久性について確認と検証を行うことができます。
- 耐衝撃/振動温度測定
- 負荷、圧力、トルク超堅牢なデータ収集
- マルチセンサテストシステム