半導体メーカーは、新しいシリコンの取り出し、デバッグ、および検証を行うために、低ドロップアウト (LDO) 線形レギュレータなどの迅速かつコスト効果の高い方法を必要としています。LDOは、シンプルかつ安価で、一般的なタイプのミックスドシグナルICです。高い電圧入力が供給されたときに出力電圧を調整します。設計者は、新しい部品をすばやく取り出してデバッグする必要があります。これは、ほとんどが手作業で行われる対話式のプロセスです。また、検証エンジニアは、自動化された検証と特性解析の準備をする必要があります。
一般的なLDO計測向けの簡単で拡張可能なソリューション
計測の構成と実行を行うための使いやすい対話式パネル
計測の構成設定をエクスポートすることにより、オートメーションを簡単に実行できます
TestStandユーザは、エクスポートされた構成ファイルを事前に作成されたテストステップタイプとともに使用して、ドラッグアンドドロップ式の計測を実行できます
LabVIEWユーザは、エクスポートされた構成ファイルと計測APIを使用して、カスタムテストコードモジュールを構築することもできます
NIでは、アプリケーション固有の要件に合わせてカスタマイズされた、さまざまなソリューション統合オプションを提供しています。独自の社内統合チームでシステムを完全制御することも、NI、および世界中のNIパートナーネットワークが持つ専門技術を生かしてターンキーソリューションをご利用いただくことも可能です。
Soliton Technologies社は、半導体業界をはじめとするNIのグローバルなお客様に対して、他社とは大きく異なるエンジニアリングサービスを提供しています。LDO 計測パッケージアドオン (InstrumentStudio用) を開発したSoliton社によって、お客様の用途に応じた計測機能のカスタマイズや拡張が可能になりました。
NIは、トレーニング、技術サポート、コンサルティングと統合サービス、メンテナンスプログラムによって、アプリケーションのライフサイクル全体を通してお客様との緊密な関係を築きます。お客様のチームは、NIの地域別ユーザグループに参加することで新たなスキルを発見でき、オンライントレーニングおよび対面型トレーニングで習熟度を高めることができます。
カスタマイズ可能ですぐに実行できるNIのLDO検証ソリューションについて説明します。このソリューションは、NIの標準化された計測フレームワークに基づいて構築され、対話式のブリングアップとデバッグから自動化された検証と特性評価まで迅速に対応する、一般的なLDO計測を実現します。