モジュール式データ収集
分散計測/制御
高性能テスト
自動テストシステム開発ソフトウェア
「ビジョン」では、NIがテストとテクノロジの世界で次に何が起こるかをどのように認識しているかについて紹介します。
修理、RMA、キャリブレーション予定、または技術サポートをリクエストいただけます。ご利用にはサービス契約が必要となる場合があります。
NIの集録および信号調整デバイスをサポートします。
Ethernet、GPIB、シリアル、USBおよびその他のタイプの計測器をサポートします。
NI GPIBコントローラおよびGPIBポートを備えたNI組込コントローラをサポートします。
NI PXIデジタルパターン計測器とは
PXIデジタルパターン計測器は、業界標準のPXIプラットフォームにATEクラスのデジタル機能を提供できます。RFフロントエンドや電源管理ICから、内蔵の接続機能とセンサを搭載したモノのインターネット向けシステムオンチップやトランシーバにいたるまで、幅広いRF ICおよびミックスドシグナルICのテスト用に設計されています。
Digital Pattern Editorは、テストパターンのインポートや編集、作成ができる対話式ツールです。デバイスのピンマップ、仕様およびパターンを編集するための各画面を統合したソフトウェアで、デジタルテストベクトルやテストパターンの作成、インポート、編集をサポートします。
Digital Pattern EditorにはShmooプロットなどのツールが含まれ、さまざまな条件下でのテスト対象デバイス(DUT)のパフォーマンスをより詳細に把握できます。このほかにも、パターン不良を指定のパターンに重ねて表示したり、デジタルスコープを使ってピン信号をアナログ波形で表示したりできる各種デバッグツールが搭載されています。
LabVIEW、C、または.NETなどの開発ツールでNI-Digital Pattern Driverを使用すれば、テストコードを開発してPXIデジタルパターン計測器を操作することができます。
TestStand Semiconductor Moduleは、Digital Pattern EditorおよびNI-Digital Pattern Driverと連携して動作し、STSのピンマップをサポートしてDUTを中心に据えたマルチサイトプログラミングによる開発が可能です。
PXIアーキテクチャとその応用事例について詳細に解説します。
ATEと同等のデジタル計測機能を持つPXIデジタルパターン計測器には数々の特徴と利点があります。これらを活用するために既存のPXI計測器から移行する際に必要な情報をご紹介します。
STSはオープンで柔軟なPXIプラットフォームを備えています。その特徴を半導体製造の現場で活用する方法についてご紹介します。
アプリケーションリソース
テストシステム構築の基礎
テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。
高精度の電圧/電流供給機能と計測機能を兼ね備えた、テスト時間の短縮と柔軟性の向上を同時に実現する製品です。
InstrumentStudioは、計測器の制御、測定の実行、および検証を迅速化するためのテストシーケンスの開発を行うための構成ベースの環境です。
ベクトル信号発生器とベクトル信号アナライザに、FPGAベースのリアルタイム信号処理/制御機能を組み合わせた製品です。
製品の使い方がよくわかる製品マニュアルをご用意しています。
製品に対応する計測器ドライバを検索して、ダウンロードできます。
サンプルプログラムやトラブルシューティング情報など、あらゆるサポートコンテンツをご用意しています。
ご希望の項目を選択してください。ご案内情報を提供いたします。
ありがとうございます。
近日中にご連絡いたします。