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NI PXIデジタルパターン計測とは

PXIデジタルパターン計測器は、業界標準のPXIプラットフォームにATEクラスのデジタル機能を提供できます。RFフロントエンドや電源管理ICから、内蔵の接続機能とセンサを搭載したモノのインターネット向けシステムオンチップやトランシーバにいたるまで、幅広いRF ICおよびミックスドシグナルICのテスト用に設計されています。

Digital Pattern Editor

Digital Pattern Editorは、テストパターンのインポートや編集、作成ができる対話式ツールです。デバイスのピンマップ、仕様およびパターンを編集するための各画面を統合したソフトウェアで、デジタルテストベクトルやテストパターンの作成、インポート、編集をサポートします。

デジタルテストパターンデバッグサポートするツール群

Digital Pattern EditorにはShmooプロットなどのツールが含まれ、さまざまな条件下でのテスト対象デバイス(DUT)のパフォーマンスをより詳細に把握できます。このほかにも、パターン不良を指定のパターンに重ねて表示したり、デジタルスコープを使って​ピン​​信号​を​アナログ​波形で​表示したりできる各種​デバッグ​ツール​が​搭載​さ​れ​てい​ます。

プログラミングによるパターンバースト実行

LabVIEW、C、または.NETなどの開発ツールでNI-Digital Pattern Driverを使用すれば、テストコードを開発してPXIデジタルパターン計測器を操作することができます。

TestStand Semiconductor Module

TestStand Semiconductor Moduleは、Digital Pattern EditorおよびNI-Digital Pattern Driverと連携して動作し、STSのピン​マップをサポートしてDUTを中心に据えたマルチサイトプログラミングによる開発が可能です。

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テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。

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