Digital Pattern Editorは、テストパターンのインポートや編集、作成ができる対話式ツールです。デバイスのピンマップ、仕様およびパターンを編集するための各画面を統合したソフトウェアで、デジタルテストベクトルやテストパターンの作成、インポート、編集をサポートします。
Digital Pattern EditorにはShmooプロットなどのツールが含まれ、さまざまな条件下でのテスト対象デバイス(DUT)のパフォーマンスをより詳細に把握できます。このほかにも、パターン不良を指定のパターンに重ねて表示したり、デジタルスコープを使ってピン信号をアナログ波形で表示したりできる各種デバッグツールが搭載されています。
LabVIEW、C、または.NETなどの開発ツールでNI-Digital Pattern Driverを使用すれば、テストコードを開発してPXIデジタルパターン計測器を操作することができます。
TestStand Semiconductor Moduleは、Digital Pattern EditorおよびNI-Digital Pattern Driverと連携して動作し、STSのピンマップをサポートしてDUTを中心に据えたマルチサイトプログラミングによる開発が可能です。
ATEと同等のデジタル計測機能を持つPXIデジタルパターン計測器には数々の特徴と利点があります。これらを活用するために既存のPXI計測器から移行する際に必要な情報をご紹介します。
アプリケーション
テスト
テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。