The Digital Pattern Editor includes tools like Schmoo plots to provide a deeper understanding of device-under-test (DUT) performance across variation. The editor also offers debugging tools such as overlaying pattern failures on a pattern or using digital scope for an analog view of the pin data.
ATEと同等のデジタル計測機能を持つPXIデジタルパターン計測器には数々の特徴と利点があります。これらを活用するために既存のPXI計測器から移行する際に必要な情報をご紹介します。
アプリケーション
テスト
テスト戦略を定義し、システム投資を計画することは、コストを削減し、テスト投資のライフサイクルを最適化し、効率を最大化するために重要です。テストシステムのテスト方法、ベストプラクティス、設計のトレードオフを学習します。