Mit einer Frequenzabdeckung von bis zu 26,5 GHz bieten VNAs von NI InstrumentStudio™ einen vereinfachten Kalibrierprozess für schnelle und genaue Messungen von S-Parametern mit zwei Schnittstellen sowie die Charakterisierung von RF-Komponenten.
In diesem Webinar erfahren Sie, wie mit dem NI PXIe-5633 modulierte Messungen und S-Parameter-Messungen in Verbindung mit dem NI PXIe-5842-VST durchgeführt werden können.
Der PXI-VNA ist Teil der NI-PXI-Plattform, die Hardware- und Softwarekomponenten wie Chassis, Controller und Module kombiniert, um komplexe Mess- und Automatisierungsaufgaben zu lösen.
Die modulare PXI-Plattform hilft Ingenieuren dabei, die Anforderungen durch effiziente Testautomatisierung zu übertreffen, und das angesichts der zunehmenden Gerätekomplexität, kürzerer Zyklen und steigender Marktanforderungen.
Anwendungshinweise
Grundlagen der HF-Messung
Für effiziente Testverfahren ist es entscheidend, die bewährten Methoden von RF-Tests zu verstehen und genaue Ergebnisse zu erzielen. Erfahren Sie, wie Sie RF-Geräte für die Messungen verwenden, die bei RF-Charakterisierungstests erforderlich sind.
Hier finden Sie die vollständige Dokumentation zu einem Produkt, darunter Anleitungen und Bedienhinweise.
Hier können Sie verschiedene Supportinhalte durchsuchen, darunter Beispiele und Hinweise zur Problembehandlung.