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首頁 解決方案 半導體解決方案 功率半導體穩定性測試 運用 DGS 測試找出新的故障影響

運用 DGS 測試找出新的故障影響

動態閘極應力測試能協助工程師確認 SiC 與 GaN 裝置的品質。

 

  • 找出並模擬傳統測試方法測不出的故障影響
  • 讓測試程序更貼近實際用途並提供精確的報表給客戶
  • 運用快速的電壓轉換模擬閘極故障機制
  • 原位量測決定相關參數，能顯示出動態閘極應力對閘極氧化層的長期影響
  • 完全自動化的測試可滿足業界的延伸需求並提供詳細的報表製作以便進一步分析資料

​NI SET DGS 功率半導體測試系統

  • DGS 測試系統可將工業級的延伸需求轉換為自動化的動態測試並提供靈活彈性，可迅速因應千變萬化的需求。

  • 除了刺激源之外，DGS 測試系統也提供多種原位量測作業，適用於決定特定期間內的相關參數。 

  • 原位量測能有效顯示動態閘極應力對閘極氧化層的長期影響，也能支援您提供精確的報表給客戶。

解決方案優勢

  • 最多支援 240 個 DUT，冷熱板溫度範圍介於 20 °C 到 200 °C。

  • 提供最高 1.5 kV 的高壓汲極刺激源與最高 1500 V 的最高汲極電壓，兩者皆可透過軟體進行設定。

  • 有高達 1 V/ns 的閘道 dV/dt 刺激源，且可透過軟體設定最高 ±30 V 的電壓。

  • 提供 0 Hz 至 500 kHz 的可設定輸出頻率，工作週期設定介於 25% 到 75% 之間，按 5% 增減。

  • 支援以特定用途的閘極驅動器進行測試，進行目標評估。

功率半導體劇烈變化：是否會漂移？(DGS)

寬能隙半導體測試挑戰

副總裁兼技術主管 Frank Heidemann 說明了如何透過電壓變化來強化閘極，以產生陷波效應，進而在寬能隙半導體中造成 Vth 與 RDS(on) 漂移，這對於了解這些元件的效率損失至關重要。

利用 NI 生態系建立解決方案

NI 提供多種解決方案整合選項，可針對您的特定應用需求進行客製化。您可利用自有的內部整合團隊，以享有對系統的完整控制，也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能，取得現成可用的解決方案。

NI 合作夥伴網路

NI 合作夥伴網路為全球社群，由頻域、應用與整體測試開發專家組成，並與 NI 密切合作，以滿足工程社群的需求。NI 合作夥伴是值得信賴的解決方案業者、系統整合商、顧問、產品開發人員，以及服務與銷售通道專家，擁有涵蓋諸多產業和應用領域的豐富技能。

服務與支援

在應用生命週期期間，NI 都會與您密切合作，並提供訓練、技術支援、諮詢與整合服務，以及維護方案。團隊可參與 NI 專屬與不同地區的使用者團體，以探索新技能，並透過線上與現場教育訓練來提高熟練度。

NI 合作夥伴計畫是獨立於 NI 的事業體，與 NI 之間並無任何代理或合資關係，也不具任何商業合作關係。