From Saturday, Nov 23rd 7:00 PM CST - Sunday, Nov 24th 7:45 AM CST, ni.com will undergo system upgrades that may result in temporary service interruption.
We appreciate your patience as we improve our online experience.
功率半導體使用壽命測試
功率半導體使用壽命必須符合 AQG 324 與 AECQ-101 等測試標準。為依據這些標準確認其 DUT 品質，工程師會進行間歇性操作壽命 (IOL) 測試和功率循環測試，也就是會連續開關 DUT，在晶片附近的接合處進行熱應力試驗。 這類用途的測試系統必須合乎下列要求：
- 符合 AQG 324 與 AECQ-101 等測試標準
- 能發揮高產能、高效率，量測品質也高
- 矽基、SiC 與 GaN 功率半導體都要進行測試
IOL 與功率循環測試系統
NI 的 IOL 與功率循環測試系統能協助工程師在執行這類測試時發揮效率，因為通道密度高，且 DUT 封裝尺寸相當有彈性，還能密切監控並降低成本。
間操性操作壽命 (IOL)
- 進行負載不高於 150 A 的離散元件測試
- 每個系統最多 80 個通道，每個抽屜最多 8 個通道
- 監控參數：Tc、Iload、Vload、VReverse (VF)、Rth、Tvj (Tjmax – Tjmin)
- 測試系統符合 MIL-STD-750D 標準
功率循環機
- 兩個電流路徑最多 12 個量測通道，閘極驅動從 -18 到 +20 V
- PSU 輸出 30 V 時，負載電流最高 1000 A
- 最多 6 個獨立冷卻電路，自動控制流量與監控溫度
- 監控參數：Iload、Vf、Vgs、Tvj、Tc/s、Rth、Tcool、Qcool、應力路徑電壓
解決方案優勢
-
密切監控並精確判斷每個 DUT 的所有參數
-
全自動化作業流程輔以詳盡的特性分析，透過完整的記錄功能擷取每一次的應力脈衝
-
根據 AQG 324 與 AECQ-101 測試準則進行測試
-
開放式測試平台，適用於測試矽基、SiC 與 GaN 功率半導體
-
多個與標準機殼規格相容的抽屜，還能針對不同的基材自訂調整。
利用 NI 生態系建立解決方案
NI 提供多種解決方案整合選項，可針對您的特定應用需求進行客製化。您可利用自有的內部整合團隊，以享有對系統的完整控制，也可運用 NI 與全球 NI 合作夥伴網路所提供的專業技能，取得現成可用的解決方案。
NI 合作夥伴網路
NI 合作夥伴網路為全球社群，由頻域、應用與整體測試開發專家組成，並與 NI 密切合作，以滿足工程社群的需求。NI 合作夥伴是值得信賴的解決方案業者、系統整合商、顧問、產品開發人員，以及服務與銷售通道專家，擁有涵蓋諸多產業和應用領域的豐富技能。
服務與支援
在應用生命週期期間，NI 都會與您密切合作，並提供訓練、技術支援、諮詢與整合服務，以及維護方案。團隊可參與 NI 專屬與當地的使用者團體，以探索新技能，並透過線上與現場教育訓練來提高熟練度。
IOL 與功率循環測試系統解決方案手冊
深入了解流暢的 DUT 監控、精確參數決定與完整記錄功能。下載解決方案手冊,了解適用於各類半導體的開放式平台。
NI 合作夥伴計畫是獨立於 NI 的事業體，與 NI 之間並無任何代理或合資關係，也不具任何商業合作關係。