IOL 與功率循環基礎資格鑑定
IOL 與功率循環測試系統能協助您在加速條件下，於功率半導體中產生特定應力條件。這麼做能夠有效率地協助提高傳輸率、保持監控流暢度，也有助於降低成本。除了能測試矽基功率半導體之外，這類系統也適用於 SiC 與 GaN 功率半導體。
手冊內容：
- 提升測試階段量測品質並達到高傳輸率的方法
- 降低測試成本同時維持品質水準的策略
- 深入分析如何順暢地監控並精準決定各 DUT 適用的參數
- 適用於寬能隙技術 (包括 SiC 與 GaN 功率半導體) 的功能
- 全自動化測試流程與完整特性描述的優點
了解尖端 IOL 與功率循環測試系統
先進的 IOL 與功率循環系統具備適用於 SiC 與 GaN 半導體的順暢監控與特殊功能，有助於提升測試效率、提高產能及降低成本。
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