首頁 解決方案 半導體解決方案 大量生產測試

大量生產測試

生產測試主管需要更智慧化的替代方案來取代傳統自動化測試設備 (ATE)，才能在 RF 與混合訊號 IC 益發複雜之際，滿足其成本與涵蓋範圍要求。

Analog Devices 將 NI 半導體測試系統 (STS) 運用在混合訊號裝置到 RFIC 等各式產品組合的晶圓探針與最終封裝測試中。

更智慧化的 ATE 生產方案

晶片製造商必須提供整合性更佳的功能、確保關鍵任務應用達到最高可靠性、在成本上保有高競爭力，同時確保能在短時間內上市，以滿足緊迫的上市時程。公司合併的情況讓半導體 ATE 市場內的供應商減少，因此選擇也受到侷限。現在該是做出改變的時候了。40 年來，NI 持續協助測試與量測可滿足未來需求的裝置。現在，我們是成長最快的半導體生產測試供應商之一，因為我們相信在 5G、IoT 與智慧型汽車需求的帶動之下，更智慧化的未來解決方案將會由客戶定義，而非操控在廠商手中。

NI 半導體手冊

深入了解如何運用平台架構的半導體測試方案，降低測試成本。

焦點內容

NI 的 IC 測試設備解決方案讓 ON Semiconductor 能夠實作超越其他商用自動化測試設備 (ATE) 的混合訊號 IC 生產測試器。

ON Semiconductor 利用半導體測試系統 (STS) 減少測試時間

利用 STS，以符合成本效益的方式開發出高端的可調整混合訊號產生測試器，可針對新一代影像感測器進行晶圓排序與最終測試。

從 5G 半導體測試到混合訊號 IC 測試，NI 半導體測試程序解決方案都能提供無與倫比的測試效能與彈性。

利用 PXI 平台的優勢，採取更智慧化的 IC 測試方案

NI 半導體測試方案讓工程師可滿足營運需求，同時還能降低成本並維持靈活彈性。

IDT 所實作的 STS 系統可運用真正的平行測試功能，在多個測試站台提供高效能量測。

Synergie CAD Instruments 運用多功能測試系統降低測試成本

Synergie CAD Instruments 使用了 PXI 與 TestStand 進行符合成本效益的設備測試並配合製造流程進行維修，不但將額外負擔減到最少，同時也確保穩定的生產力。

產品與解決方案

NI 半導體測試系統

NI 半導體測試系統 (STS) 將 NI PXI 平台、模組化儀器、系統設計軟體合而為一，以建立可進行 RF 與混合訊號生產測試的測試系統。