什麼是半導體測試系統 (STS)？

STS 是一款既有 ATE 解決方案，適用於 RF、混合式訊號、MEMS 半導體裝置，不僅可縮短產品上市時間又可降低測試成本。

半導體量產測試的智慧型替代方案

STS 是一款既有 ATE 解決方案，適用於 RF、混合式訊號、MEMS 半導體裝置，具最佳化產能又可降低成本。STS 可用於量產測試單元，支援機械臂、處置器與晶圓探針器、並具備標準彈簧針腳配置，支援可高度轉移的測試程式及轉接板。STS 可提供一致的軟體工具集，能快速且有效地開發、除錯、部署測試程式。為組成一套完整的解決方案，NI 也提供了全方位的工程服務、啟動服務、教育訓練與支援。

主要優勢

完整 RF、數位與 DC 儀器應用組合 – 您可客制新的 STS 配置並設定現有測試機，以包含您所需的儀器資源、同時維護測試程式與轉接板移轉。
一致的軟體體驗 – STS 軟體可提供所需的工具，以進行開發、除錯與部署多點測試程式，包含針腳配置、測試限制匯入/匯出、分類與標準測試資料格式 (STDF) 報告功能。
預建測試程式碼 – 您可將拖曳式軟體範本運用於常見的半導體測試運作，例如 RF 波形產生與擷取、連續性測試、檢漏測試、數位碼型激發或最新無線標準 (如 5G NR)。

測試台整合—標準銜接與連結基礎架構可完美整合機器手臂、包裝測試的裝置處理器、晶圓測試的晶圓探針。
系統校準 – 您可進行數位與 DC 資源、彈簧探針介面與 RF 資源、盲插等系統級原位校準，亦備有 DUT 平面向量去嵌化檔。
服務與支援 – 工程服務、啟動服務、訓練與技術支援皆可協助您快速運作。

您對哪一個解決方案感興趣呢？

RF 前端與收發儀

無線晶片製造商明白，評估測試解決方案時，上市時間的壓力與生產測試的產能，是兩個重要的考量因素。就 RF 前端而言，包含功率放大器 (PA)、低雜訊放大器 (LNA)、RF 切換器、RF 濾波器、整合式 RF 前端模組 (FEM)，STS 可提供比 ATE 解決方案更具競爭力的測試時間與產能優勢。由於 NI 密切參與標準組織以及實驗室應用，因此對 5G NR、Wi-Fi 6 等最新的無線標準具有豐富經驗。NI 提供重要的 IP 與先進儀器、具備領先業界的頻寬，可協助您加快產品上市速度。

焦點功能

RF 與 mmWave 無線標準的整合式解決方案
領先業界的 1 GHz 頻寬，適用於複雜的 RF 量測作業
支援無線標準，包含 GSM、TD SCDMA、WCDMA、LTE、LTE-A、5G NR 與 802.11a/b/g/n/ac/ax。
最高 48 雙向 RF 連接埠、72 雙向 mmWave 連接埠
適用於前端模組 (FEM) 的 SPI、MIPI 與客制化數位通訊函式庫
可供選購的高功率 RF - 最高 +40 dBm
可供選購的諧波量測 - 最高 18 GHz
可供選購的雜訊係數量測 - 支援 Y 係數與冷源方法

「我們公司內已經有幾個業務單部門在使用 STS，而正是他們的強力推薦，才讓我們的 RF 業務部門首次將 STS 運用在 Massive MIMO 應用上。對於製造部門而言，生產力就是一切，而我也對目前的進展感到很滿意。生產力提升，就代表有更多裝置能更快速地運送到我們的客戶手上，基本上就是能帶來更多業績。」

NXP 全球營運執行副總 David Reed

物聯網微控制器裝置

半導體晶片製造商明白，隨著物聯網 (IoT) 興起，物聯網微控制器、半導體裝置的多樣性與數量也隨之增加，同時這些裝置能以成本效益極大化的價位取得，而這正是傳統 ATE 解決方案難以匹敵之處。針對採用藍芽 LE、NB-IoT、Wi-Fi 或 ZigBee 等通訊標準，且以微控制器為架構的物聯網裝置，STS 提供了靈活的生產測試平台，不但能向上擴充規模，滿足逐漸提高的生產量，也能向下縮減規模以因應緊縮的預算。