主页 解决方案 半导体解决方案 功率半导体可靠性测试 IOL和功率循环测试系统

功率半导体的生命周期测试

功率半导体的使用寿命通过满足AQG 324和AECQ-101等测试标准来保证。为了根据这些要求对DUT进行资格认证，工程师进行间歇性工作寿命试验(IOL)和电源循环测试，在测试过程中反复开关DUT，以在芯片附近的连接处进行热应力测试。 这些应用的测试系统必须满足下列要求：

 

  • ​符合AQG 324和AECQ-101等测试标准
  • ​实现高吞吐率、高效率和高测量质量 
  • ​测试适用于硅基以及SiC和GaN功率半导体

IOL和功率循环测试系统

NI IOL和功率循环测试系统可帮助工程师通过高通道密度和高灵活性高效执行这些测试，其在DUT封装尺寸、无缝监控和低成本方面具有优势。

 

间歇工作寿命试验(IOL)

  • 测试离散元件，负载电流最高可达150 A
  • 每个系统多达80个通道，每个抽屉单元8个通道
  • 监控参数：Tc、Iload、Vload、VReverse (VF)、Rth、Tvj (Tjmax－Tjmin)
  • 测试系统符合MIL-STD-750D标准

功率循环测试

  • 两个电流路径上多达12个测量通道；栅极驱动电压范围为-18至+20 V
  • PSU输出的负载电流最高可达1000 A，电压为30 V
  • 多达6个独立冷却回路，均可自动控制流量和监控温度
  • 监控参数：Iload、Vf、Vgs、Tvj、Tc/s、Rth、Tcool、Qcool、应力路径电压

解决方案优势

  • ​​无缝监控并精准确定每台DUT的所有参数

  • ​在全自动流程中，利用全面记录功能捕获单个应力脉冲，并进行完整特性分析

  • ​根据AQG 324和AECQ-101测试指南进行测试

  • ​开放式测试平台，适用于测试硅以及SiC和GaN功率半导体

  • ​多个与标准外壳兼容的抽屉，以及适用于各种基板的定制改装方案

利用NI生态系统，构建解决方案

NI提供了各种集成解决方案供您选择，可满足您的特定应用需求。​您可以将系统集成工作完全交给公司内部的集成团队，也可寻求NI以及遍布全球的NI合作伙伴联盟的帮助，获取完整的一站式解决方案。

NI合作伙伴网络

NI合作伙伴网络是一个由领域专家、应用专家和整体测试开发专家组成的全球社区，与NI紧密合作，全力满足工程界的需求。NI合作伙伴包含了解决方案提供商、系统集成商、顾问、产品开发人员以及服务和销售渠道专家，他们在诸多行业和应用领域都有着丰富的经验，值得您信赖。

服务与支持

在应用的整个生命周期中，NI将与客户携手同行​，随时提供培训、技​术支持、咨询和集成服务以及维护计划。团队可以参与到NI不同地区的用户组，通过学习交流获取新技能，也可通过在线培训和面授培训来提高自身的技能水平。

​IOL和功率循环测试系统解决方案手册

​了解无缝DUT监控、精确参数确定和全面记录功能。下载解决方案手册，了解适用于不同半导体的开放平台。

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