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分布式测量与控制
高性能测试
自动化测试系统开发软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
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为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
IOL和功率循环系统有助于在加速条件下在功率半导体中生成特定的应力条件,从而高效实现高吞吐率、无缝监控并降低成本。该系统除测试硅基功率半导体外,还可用于SiC和GaN功率半导体。
手册内容:
了解最新的IOL和功率循环测试系统
通过先进的IOL和功率循环系统,实现SiC和GaN半导体的无缝监控和专业功能,以优化测试效率、提高吞吐量并降低成本。
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