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主页 解决方案 半导体解决方案 混合信号IC验证

混合信号IC验证

一位身穿白大褂、手戴白色手套的工程师在现代化实验室中检查一块集成电路板。

  • 解决混合信号IC验证中的不确定性问题

    流片后验证(Post-Silicon)是半导体生命周期的一个关键阶段，也承担着重大的成本和进度风险。实验室工作台上可能会堆满台式仪器，而这些仪器不能协同工作，也没有对测量速度进行优化，这种情况十分常见。随着IC设计越来越复杂，产品时间期限日益紧迫，实验室用户需要提高敏捷性和效率，以充分降低资本设备成本，并缩短产品上市时间。

 
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提高直流-直流转换器效率

了解用于直流-直流转换器测量的NI PXI系统如何改变电源管理策略。了解精度、功率和速度在测试中的关键作用，并深入了解如何提高PMIC通道的效率和准确性。

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现代化实验室方法大大提高了效率

业内领军企业正在采用现代化实验室方法，帮助降低成本并缩短上市时间。标准化的测量框架可以实现测量IP的复用，并解锁功能强大的各实验室分工工程流程。无论是交互式启动和调试，还是自动化验证和特性分析，均可从中受益。NI的混合信号测量解决方案是可配置的软件附加软件，可用于一些频繁验证任务的交互和自动化工作流程，如设备控制或针对特定DUT类型的可配置测量套件。

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两位半导体工程师在现代化实验室中验证混合信号IC

产品推荐

半导体设备控制

借助应用软件与数字仪表的这种强大组合，加快第一块硅片的启动、调试、验证和特性分析。使用标准数字协议（例如I3C、I²C、SPI、RFFE或自定义协议）快速执行数字I/O操作和寄存器读写。导出配置设置，轻松在LabVIEW、Python、.NET或TestStand中实现自动化。

系统设置

缩短测量周期时间

通过提高并行性并借助NI独有的技术（如用于高级信号处理的可定制FPGA固件），实现业界领先的执行时间。

减小系统占用空间

外形紧凑，可在很小的空间承载成百上千个高性能仪器通道，节省宝贵的实验室空间。

同步复杂测量

利用PXI背板中集成的强大定时和同步功能，无缝地执行复杂的多仪器例程。

随着需求的变化而不断发展

1,500多种PXI仪器模块任您选择，从直流到毫米波应有尽有，助您构建或扩展系统，满足当前和未来的测量需求。

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借助基于PXI的新平台，我们不仅保持了高测量性能和数据完整性，同时将半导体验证的成本降低了3倍，吞吐量提升了10倍。

Ray Morgan

产品线经理

安森美半导体(ON Semiconductor) 

索利通―专业合作伙伴

Soliton为NI的全球半导体和企业客户提供了高度差异化的服务。该公司专为流片后验证开发平台解决方案，通过强大的工具和标准化技术大幅提高工程效率。

Soliton Technologies的一名工程师验证混合信号IC

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