模块化数据采集
分布式测量与控制
高性能测试
自动化测试系统开发软件
趋势瞭望呈现NI对测试和技术领域的未来展望。
您可以申请维修、接受服务、安排校准或获得技术支持。但可能需要有效的服务协议。
为NI数据采集和信号调理设备提供支持。
为以太网、GPIB、串行、USB和其他类型的仪器提供支持。
为NI GPIB控制器和带有GPIB端口的NI嵌入式控制器提供支持。
什么是NI PXI数字码型仪器?
数字码型仪器将ATE级数字功能引入到业界标准的PXI平台中。该仪器专门用于测试各种RF和混合信号IC,包括RF前端、电源管理IC以及具有内置连接和传感器的收发仪和物联网片上系统。
数字码型编辑器是一个用于导入、编辑或创建测试pattern的交互式工具。该软件集成了用于器件引脚图、规格参数和pattern的编辑表,用以开发或编辑导入的数字测试向量和pattern。
数字Pattern编辑器包含Schmoo绘图等工具,可帮助您更深入地了解不同条件下的待测设备(DUT)性能。该编辑器还提供调试工具,例如将pattern上的故障覆盖掉或使用数字示波器查看引脚数据的模拟视图。
LabVIEW、C或.NET开发工具中的NI-Digital Pattern Driver可让用户通过编写测试代码,实现与PXI数字码型仪器的交互。
TestStand半导体模块可通过半导体测试系统(STS)的本地引脚图支持和基于DUT的多站点编程,与数字pattern编辑器和NI-Digital Pattern驱动程序配合使用。
深入了解PXI架构及其实际应用。
了解如何迁移现有的PXI系统,以利用基于向量的PXI数字通道板卡所提供的ATE级数字功能。
了解STS如何将NI PXI平台的开放性和灵活性引入到半导体生产环境中。
应用资源
测试系统构建基础知识
定义测试策略和规划系统投资对于降低成本、优化测试投资生命周期和最大限度提高效率至关重要。了解测试系统的测试策略、最佳实践和设计权衡。
兼具高精度信号源和测量能力,可减少测试时间和增加灵活性。
InstrumentStudio是一个基于配置的环境,用于控制仪器、运行测量以及开发测试序列以加快验证。
将矢量信号分析仪、矢量信号发生器以及基于FPGA的实时信号处理和控制相结合。
查看完整的产品文档,了解如何开始使用该产品。
查看该产品支持的仪器驱动程序以及下载链接。
浏览丰富的支持资源,其中包含大量的范例和疑难解答信息。
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