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量产测试

量产测试领域领先企业需要一种传统ATE智能替代方案,满足日益复杂RF混合信号IC成本覆盖要求。

ADI公司将NI半导体测试系统(STS)应用到晶圆探针及其从混合信号器件到RFIC等各种产品的最终封装测试中。

智能量产ATE方法

芯片制造商必须提供更加集成的功能,确保重要的应用具有出色的可靠性,保持卓越的成本竞争力,并缩短设计周期,以满足紧迫的产品上市时间要求。市场整合使半导体ATE市场的供应商减少了,所能提供的产品选择非常有限。我们认为是时候做出改变了。40年来,NI一直致力于赋能工程师,使其能够测试和测量未来的各种设备。如今,我们已成为增长最快的半导体量产测试供应商之一,因为我们坚信,受5G、IoT和智能汽车需求的驱动,未来更智能的测试解决方案将由客户定义,而不是供应商定义。

NI半导体手册

了解基于平台的半导体测试方法如何降低测试成本。

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NI的IC测试设备解决方案帮助安森美半导体开发了一个混合信号IC生产测试系统,其性能远胜其他商用自动测试设备(ATE)。
NI半导体测试解决方案适用于从5G半导体测试到混合信号IC测试等各种半导体器件的测试,提供了前所未有的测试性能和灵活性。
IDT开发的STS系统具有真正的并行测试功能,可跨多个测试站点提供高性能的测量。

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