更智能的半导体生产测试解决方案
STS是一款可直接用于量产环境的ATE，适用于RF、混合信号和MEMS半导体器件生产测试，有助于提高吞吐量，降低测试成本。STS可用于生产测试车间，支持manipulator、Handler和晶圆探针，而且采用标准的弹簧针排列，可实现高度可移植的测试程序和负载板。STS具有一套统一的软件工具，可以快速有效地开发、调试和部署测试程序。NI还为该解决方案配套全面的工程服务、升级服务、培训和支持。
主要优势
- 全面的RF、数字和直流仪器产品组合—您可以自定义新的STS配置并升级现有测试系统，以纳入您需要的仪器资源，同时保持测试程序和负载板的可移植性。
- 统一的软件体验—STS提供了标准的软件来开发、调试和部署multisite测试程序，包括引脚/通道匹配图、测试阈值导入/导出、binning和STDF报告。
- 现成的测试代码—使用拖放式软件模板来完成常见的半导体测试任务，比如连续性检查、泄漏测试或数字pattern载入，或者RF波形生成或采集以测试5G NR等最新无线标准。
- Test Cell集成—标准docking和连接设施可允许与manipulator以及芯片handler无缝集成来进行封装测试，也可与晶圆探针台集成进行晶圆测试。
- 系统校准—可对系统级数字和直流资源（比如弹簧探头接口等）和直流资源（比如RF盲插等）进行现场校准，并可选择使用矢量反嵌文件来校准DUT。
- 服务和支持—工程服务、bring-up服务、培训和技术支持均可帮助您快速设置和启动系统。
您对以下哪个解决方案感兴趣？
射频前端和收发仪
无线芯片制造商已经意识到，在评估测试解决方案时，产品上市时间压力和生产测试吞吐量是两个重要的考量因素。针对功率放大器(PA)、低噪声放大器(LNA)、RF开关、RF滤波器和集成RF前端模块(FEM)等各种RF前端的测试，STS与其他同行ATE解决方案相比具有明显的测试时间和吞吐量优势。NI积极参与到各种标准组织机构以及实验室应用中，这使其在5G NR、Wi-Fi 6等最新无线标准测试方面具有广泛而深入的经验，并将这些经验转化为富有竞争力的解决方案。NI拥有许多重大IP，并提供具有行业领先带宽的高端仪器，旨在帮助客户加速生产测试的开发和部署过程。
主要特性
- 针对RF和毫米波无线标准的集成解决方案
- 为复杂RF测量提供行业领先的1 GHz分析带宽
- 支持无线标准，包括GSM、TD SCDMA、WCDMA、LTE、LTE-A、5G NR和802.11a/b/g/n/ac/ax
- 最多达48个双向RF端口和72个双向毫米波端口
- 为前端模块(FEM)分析提供SPI、MIPI和自定义数字通信库
- 可选的大功率RF - 最高可达+40 dBm
- 可选的谐波测量 - 最高可达18 GHz
- 可选的噪声系数测量 - 支持Y因子法和冷源法
"我们的一部分业务单元已经开始采用STS，在他们的极力推荐下，我们的RF业务部门也开始尝试使用该系统开发大规模MIOM应用。我对这一举措所取得的成效非常满意；对于生产部门来说，产量就是一切。更高的产量意味着我们能够更快速将更多产品交付到客户手中，这也意味着营业额的增加。
David Reed，NXP全球运营执行副总裁
物联网微控制器设备
半导体芯片制造商已经意识到，物联网(IoT)的出现不仅大幅增加了物联网微控制器半导体器件多样性和数量，而且还要求以低成本对这些器件进行测试，而传统ATE解决方案根本无法满足这一要求。STS提供了灵活的生产测试平台，不仅能够进行扩展来满足不断扩大的生产量需求，也能进行简化来满足有限的预算需求，可满足基于微控制器的物联网半导体器件的需求，支持蓝牙LE、NB-IoT、WiFi和ZigBee等通信标准。
主要特性
- 为复杂RF测量提供行业领先的1 GHz分析带宽
- 支持蓝牙LE、NB-IoT、Wi-Fi和ZigBee等无线连接标准
- 可选的音频输入和输出仪器资源
- 可选的高频信号生成和信号捕获仪器资源
“NI推出STS之时，我们就知道那是我们的选择之一。尝试一下，又有何不可呢？当我们将PXI与ATE相结合时，发现这就是我们需要的解决方案。STS帮助我们我们每月节省了60,000美元的成本，并在不到两年的时间内收回全部的投资成本。”我们不仅增加了测试范围，而且还提高了产品质量。而且，由于PXI平台的长使用寿命以及NI产品的稳定性，我们坚信，我们正在投资的平台将在未来数十年内持续给予我们回报。”
Warren Latter，高级测试工程师，安美森半导体
混合信号和MEMS器件
半导体芯片制造商已经意识到，在各种混合信号下对典型和专用芯片进行测试会产生各种各样的测试要求。对于混合信号设备，比如数据转换器、线性设备、通信接口、时钟和定时以及MEMS传感器和器件，STS提供了一个灵活的生产测试平台，可让用户以经济高效的方式从旧式测试系统迁移过来，或减轻昂贵的ATE平台的生产负荷。
主要特性
- 用于混合信号和MEMS器件测试的常用仪器选项，包括数字、四象限VI（源测量单元），以及高频信号生成和捕获
- 交互式软件，有助于简化测试程序开发、加速测试系统bring-up并简化调试流程
- 丰富的测量库为测试程序开发提供更高级的起点
- 可选的高频信号生成和信号捕获仪器资源
- 可选的音频输入和输出仪器资源
“最终，我们发现STS帮助我们提高了30%的速度，而且满足我们所有的需求，而且购买成本比租赁传统ATE要低得多。”
John Cooke，产品测试经理，Cirrus Logic
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服务
STS
NI提供了专业的工程和硬件开发服务和项目，旨在帮助半导体测试客户满足紧迫的时间期限，同时帮助他们最大程度提高效率，优化测试系统性能，并确保系统的长期可用性。每次部署STS时，NI联盟合作伙伴都会与您共同确定最符合您应用需求的服务级别，确保您的长期成功。