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DGS 테스트를 사용하여 결함으로 인한 새로운 파급 효과 파악

다이나믹 게이트 스트레스 테스트는 엔지니어가 SiC 및 GaN 디바이스를 검증하는 데 도움이 됩니다.

 

  • 기존의 테스트 방법으로는 확인할 수 없는 결함의 파급 효과를 파악하여 시뮬레이션
  • 테스트 절차를 실제 사용 분야에 더욱 유사하게 준비하여 고객에게 정확한 설명 제공
  • 빠른 전압 변화를 활용하여 게이트에서 결함 메커니즘 시뮬레이션
  • 현장 측정으로 관련 파라미터를 결정하여 다이나믹 게이트 스트레스가 게이트 산화막에 미치는 장기적인 효과 확인
  • 완전 자동화된 테스트는 산업계의 확장된 요구 사항을 처리하고 추가 데이터 분석을 위한 자세한 보고 제공

​NI SET DGS 전력 반도체 테스트 시스템

  • DGS 테스트 시스템은 업계의 확장된 요구사항을 자동화된 동적 테스트로 변환하여 변화하는 요구사항에 신속하게 적응할 수 있는 유연성을 강조합니다.

  • 자극 외에도, DGS 테스트 시스템은 다양한 현장 측정을 제공하여 정의된 시간 주기에 따라 관련 파라미터를 결정합니다. 

  • 현장 측정은 동적 게이트 스트레스가 게이트 산화막에 미치는 장기적인 영향을 효율적으로 보여주기 때문에 고객에게 정확한 설명을 제공할 수 있습니다.

솔루션 장점

전력 반도체 롤러코스터: 편차가 있습니까? (DGS)

와이드 밴드갭 반도체 테스트의 과제

부사장 겸 기술 책임자인 Frank Heidemann이 전압 변화로 게이트에 스트레스를 가해 트래핑 효과(trapping effect)를 줘 와이드 밴드갭 반도체에서 Vth와 RDS(on) 편차를 일으키는 방법을 설명합니다. 이 방법은 구성요소에서 효율성 손실을 밝히는 데 중요합니다.

NI 에코시스템으로 솔루션 구축

NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.

NI 파트너 네트워크

NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 전체 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.

서비스 및 지원

NI는 어플리케이션 수명 주기 전반에 걸쳐 고객과 협력하여 교육, 기술 지원, 컨설팅 및 통합 서비스, 유지 관리 프로그램을 제공합니다. 고객은 NI 특정 사용자 그룹과 지역별 사용자 그룹에 참여하여 새로운 기술을 접할 수 있으며 온라인과 방문 교육으로도 기술을 습득할 수 있습니다.