전력 반도체의 수명 테스트
전력 반도체의 수명은 AQG 324 및 AECQ-101과 같은 테스트 표준을 충족하여 보장됩니다. 이러한 요구사항에 따라 DUT의 자격을 검증하기 위해 엔지니어는 IOL (Intermittent Operational Life) 및 파워 사이클링 테스트를 수행하며, 여기서 DUT를 연속적으로 켜고 꺼 칩 근처 접점에 열 스트레스를 가합니다. 이러한 사용 분야의 테스트 시스템은 다음 요구 사항을 충족해야 합니다.
- AQG 324 및 AECQ-101과 같은 테스트 표준 충족
- 높은 처리량, 높은 효율성 및 높은 측정 품질 구현
- 테스트가 SiC 및 GaN 전력 반도체뿐만 아니라 실리콘 기반 반도체에 유용함
IOL 및 파워 사이클링 테스트 시스템
NI의 IOL 및 파워 사이클링 테스트 시스템은 엔지니어가 DUT 패키지 규격 측면에서 높은 채널 밀도와 뛰어난 유연성을 유지하고 원활하게 모니터링하면서 낮은 비용으로 이러한 테스트를 효율적으로 수행할 수 있도록 지원합니다.
IOL (Intermittent Operational Life)
- 최대 150 A 부하에서 개별 소자 테스트
- 시스템당 최대 80개 채널, 드로어당 8개 채널
- 모니터링 파라미터: Tc, Iload, Vload, VReverse (VF), Rth, Tvj (Tjmax – Tjmin)
- 테스트 시스템이 MIL-STD-750D 준수
파워 사이클러
- 2개의 전류 경로에서 최대 12개의 측정 채널, 게이트 구동 -18~+20 V
- 최대 1000 A의 부하 전류, PSU 출력에서 30 V
- 최대 6개의 독립 냉각 회로, 자동 흐름 제어 및 온도 모니터링
- 모니터링 파라미터: Iload, Vf, Vgs, Tvj, Tc/s, Rth, Tcool, Qcool, 스트레스 경로의 전압
솔루션의 장점
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각 DUT의 모든 파라미터를 원활하게 모니터링하고 정확하게 결정
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포괄적 특성화를 갖춘 완전 자동 프로세스에서 완벽한 기록 기능으로 모든 단일 스트레스 펄스 캡처
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AQG 324 및 AECQ-101 테스트 가이드라인에 따라 테스트
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SiC 및 GaN 전력 반도체뿐만 아니라 실리콘 테스트에 적합한 개방형 테스트 플랫폼
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다양한 기판에 맞는 맞춤 조정 기능과 함께 표준 하우징과 호환되는 여러 드로어
NI 에코시스템으로 솔루션 구축
NI는 어플리케이션별 요구사항에 맞게 사용자 정의된 다양한 솔루션 통합 옵션을 제공합니다. 완전한 시스템 제어를 위해 자체적인 사내 통합 팀을 활용해도 되고, NI와 전 세계적인 NI 파트너 네트워크의 전문성을 활용하여 턴키 솔루션을 구할 수도 있습니다.
NI 파트너 네트워크는 도메인, 어플리케이션 및 전체 테스트 개발 전문가로 구성된 글로벌 커뮤니티로, 엔지니어링 커뮤니티의 요구사항을 충족시키기 위해 NI와 긴밀히 협력합니다. NI 파트너는 신뢰할 수 있는 솔루션 제공업체, 시스템 통합업체, 컨설턴트, 제품 개발자, 실력 있는 서비스 및 영업 채널 전문가들로 구성되어 있으며, 이들은 광범위한 산업 및 어플리케이션 영역에 분포되어 있습니다.
NI는 어플리케이션 수명 주기 전반에 걸쳐 고객과 협력하여 교육, 기술 지원, 컨설팅 및 통합 서비스, 유지 관리 프로그램을 제공합니다. 고객은 NI 특정 사용자 그룹과 지역별 사용자 그룹에 참여하여 새로운 기술을 접할 수 있으며 온라인과 방문 교육으로도 기술을 습득할 수 있습니다.
IOL 및 파워 사이클링 테스트 시스템 솔루션 브로슈어
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NI 파트너는 NI와 별개인 독립적 사업체로, 대리점 또는 합작 투자 관계가 없으며 NI와그 어떤 사업적 관련도 없습니다.