IOL 및 전력 사이클링을 통한 기본 검증
IOL 및 전력 사이클링 테스트 시스템을 사용하면 가속 조건에서 전력 반도체에 특정 부하 조건을 생성할 수 있습니다. 높은 처리량, 원활한 모니터링, 낮은 비용으로 효율적으로 지원할 수 있습니다. 이 시스템은 실리콘 기반 전력 반도체를 테스트하는 기능 외에도 SiC와 GaN 전력 반도체 테스트 기능도 갖추고 있습니다.
브로셔를 통해 알 수 있는 내용:
- 측정의 품질을 강화하고 높은 테스트 처리량을 달성하는 방법
- 품질을 유지하면서 테스트 비용을 절감하는 전략
- 각 DUT에 대한 원활한 모니터링과 정확한 파라미터 결정에 관한 자세한 정보
- SiC와 GaN 전력 반도체 등 와이드 밴드갭 기술을 위한 기능
- 포괄적인 특성화가 가능한 완전 자동화된 테스트 프로세스의 장점
최첨단 IOL과 전력 사이클링 테스트 시스템 살펴보기
SiC와 GaN 반도체를 원활하게 모니터링할 수 있고 그와 관련된 특수 기능을 갖춘 고급 IOL과 전력 사이클링 시스템으로 테스트 효율성을 높이고 처리량을 늘리며 비용을 절감하십시오.
All fields are required.
관심을 가져 주셔서 감사합니다.