DC 측정 성능 극대화를 위한 5가지 우수 사례

전원 관리 IC 또는 RF 전력 증폭기를 테스트하는 경우, 품질이 우수한 DC 측정은 반도체 칩 테스트의 초석입니다. 우수 사례를 통해 고객님의 측정 정확도와 제품 품질을 향상시키십시오.

1. 원격 감지를 사용하여 도선 저항의 영향 상쇄

일반적인 2선 측정에서는 도선의 저항을 고려하지 않습니다. 이로 인해 도선 전체에서 전압이 하강하고 측정 에러가 발생합니다. 도선 저항의 효과는 낮은 저항과 낮은 전압 측정을 수행할 때 특히 현저히 드러납니다. 원격 감지는 도선 저항의 영향을 상쇄하도록 설계된 4선 측정 설정입니다. 원격 감지를 사용하면 한 세트의 도선이 출력 전류를 전달하고 다른 도선 세트는 테스트 대상 장치 (DUT) 단자에서 전압을 직접 측정합니다. 그러면 계측기가 전압 강하를 보정하고 측정 결과를 개선할 수 있습니다.

2. 오프셋 전압 보정

오프셋 전압 에러의 일반적인 원인은 열 EMF이며, 이는 서로 다른 온도를 갖는 금속 두 개가 접촉할 때 발생합니다. 이것이 곧 측정 회로에서 전압을 생성하는 열전쌍을 형성합니다. 열 EMF로 인한 에러는 일반적으로 마이크로볼트 범위 내이므로, 낮은 전압 또는 낮은 저항을 측정할 때 중요하게 다뤄야 합니다. 오프셋 보상과 전류 반전은 오프셋 전압을 제거하고 결과의 정확도를 향상하는 두 가지 방법입니다.

3. 외부 노이즈 최소화

전자파 간섭 또는 기생 용량과 같은 다양한 소스 때문에 측정 시스템에 노이즈가 발생할 수 있습니다. 전자파 간섭은 AM/FM 라디오, TV 또는 전력선과 같은 요소로부터 발생할 수 있습니다. 기생 용량은 충전된 물체가 측정 회로에 가까이 있을 때 발생합니다. 이는 진동하듯 변하는 노이즈 또는 측정 오프셋 값으로 나타날 수 있습니다. 측정 설정에 차폐를 추가하면 이러한 에러의 원인이 줄어들어 신호가 깨끗해집니다.

4. 누설 전류 방지

가드는 측정 디바이스의 HI와 LO 터미널 사이에 추가된 전도성 계층이며, HI 터미널과 똑같은 전압 전위로 구동됩니다. 차폐는 외부 전자파 간섭 소스로부터 보호하지만, 가드는 차폐와 측정 회로 사이에 누설 전류가 흐르지 못하게 방지합니다. 이는 저전류 측정에서 특히 중요합니다. 추가적인 이점으로, 가드 계층은 차폐로부터 기생 용량의 영향을 줄여 신호의 안정 시간을 향상합니다.

5. 교정의 중요성 이해

계측기가 보증된 스펙을 달성하려면 교정이 필요합니다. 시간에 따른 변화를 교정하기 위해 디바이스를 계측 연구소로 보내는 외부 교정에는 많은 사람이 익숙하지만, 자가 교정이라는 다른 형태의 교정도 똑같이 중요하며, 이는 디바이스 온도가 변경될 때 계측기가 일관된 성능을 내는 데 도움이 됩니다. 단순히 실험실의 실내 온도를 변경하거나 작동 온도 범위를 오르락내리락하면서 디바이스를 테스트하는 것만으로도 측정값에 큰 영향을 줄 수 있습니다. 자가 교정은 항상 정확한 측정값을 얻을 수 있게 합니다.