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웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트
웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트를 수행하는 엔지니어들은 측정 품질과 정확도를 유지하면서도 테스트 시간을 절약해야 하는 과제를 안고 있습니다.
웨이퍼 레벨 파라미터형 테스트에 대한 더 스마트한 접근법
IC 제조업체는 디바이스의 크기를 점점 줄이면서 새롭고 혁신적인 프로세스를 계속해서 도입하고 있으며, 이렇게 증가한 복잡성이 IC의 장기적 신뢰성에 영향을 주지 않도록 보장해야 합니다. 기술이 급속도로 발전하는 가운데, 반도체 제조업체는 테스트 비용을 절감하는 동시에 보다 많은 신뢰성 데이터를 수집 및 분석해야 합니다. 더 적은 비용으로 더 많은 데이터를 얻어야 하는 이러한 문제에 직면한 많은 신뢰성 엔지니어는 기존의 신뢰성 솔루션으로는 문제를 해결할 수 없다고 판단하여 요구사항에 맞춰 확장 가능한 유연한 모듈식 솔루션을 채택하고 있습니다.
NI 반도체 브로슈어
플랫폼 기반 반도체 테스트 접근법으로 테스트 비용을 절감하는 방법에 대해 자세히 알아보십시오.
주요 내용
imec, 웨이퍼 레벨 파라미터형 테스트 주기를 1개월에서 3일로 단축
PXI 플랫폼을 사용하여 테스트 시간을 줄이고 비용을 75% 절감하여 이전에는 불가능했던 프로세스 실험을 수행하십시오.
PXI 플랫폼으로 고도의 병렬 웨이퍼 레벨 신뢰성 시스템 구축
최신 상용 프로세서와 동급 최강 PXI SMU 포트폴리오를 기반으로 한 PXI를 사용하면 높은 가동 시간과 핀당 SMU를 확보할 수 있는 웨이퍼 레벨 신뢰성 시스템을 구성할 수 있습니다.
제품 및 솔루션
어플리케이션 리소스
PXI 플랫폼 리소스 키트
아키텍처 노트, 관련 사례 연구 및 성능 메트릭을 통해 반도체 특성화를 위한 PXI 플랫폼의 기초에 대해 학습하십시오.