대규모 양산 테스트
생산 테스트 리더들은 점점 복잡해지는 RF 및 혼합 신호 IC의 비용과 커버리지 요구사항을 충족시키기 위해 기존 ATE보다 더욱 스마트한 대안이 필요합니다.
생산 ATE에 대한 더 스마트한 접근법
칩 제조업체는 더욱 고도로 통합된 기능을 제공하고, 미션 크리티컬한 어플리케이션을 위한 최고의 신뢰성을 보장하고, 높은 비용 경쟁력을 유지하고, 엄격한 시장 출시 기한을 충족하기 위해 짧은 출시 시간을 보장해야 합니다. 통합으로 인해 반도체 ATE 시장의 공급업체 수가 감소하는 바람에 다양성이 감소했습니다. 그래서 변화가 필요한 시기라 생각합니다. NI는 40년 동안 미래의 디바이스를 테스트하고 측정하는 데 도움을 주었습니다. 오늘날 NI는 가장 빠르게 성장하는 반도체 생산 테스트 공급업체 중 하나입니다. 왜냐하면 우리는 5G, IoT 및 스마트 차량 요구사항에 따른 미래의 스마트 테스트 솔루션은 공급업체가 정의하는 것이 아니라 고객이 정의하는 것이라고 믿기 때문입니다.
NI 반도체 브로슈어
플랫폼 기반 반도체 테스트 접근법으로 테스트 비용을 절감하는 방법에 대해 자세히 알아보십시오.
주요 내용
ON Semiconductor, 반도체 테스트 시스템 (STS)으로 테스트 시간 단축
차세대 이미지 센서를 위한 웨이퍼 정렬 및 최종 테스트를 수행할 수 있게 해주는 STS를 사용하여 확장 가능하고 비용 효율적인 고성능 혼합 신호 생산 테스터를 개발하십시오.
Synergie CAD Instruments, 다목적 테스트 시스템으로 테스트 비용 절감
Synergie CAD Instruments는 최소한의 오버헤드로, 생산성을 떨어뜨리지 않고 제조 흐름에 맞게 비용 효율적인 픽스처 테스트와 수리를 하기 위해 PXI와 TestStand를 사용했습니다.
제품 및 솔루션
NI STS (반도체 테스트 시스템)
NI 반도체 테스트 시스템 (STS)은 NI PXI 플랫폼과 모듈형 계측 및 시스템 설계 소프트웨어를 결합하여 RF 및 혼합 신호 생성 테스트를 지원하는 테스트 시스템을 만듭니다.