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이러한 교육 과정은 실험실에서 생산 현장에 이르기까지 NI 소프트웨어와 솔루션을 사용하는 반도체 테스트 엔지니어를 위한 것입니다. 제품 개발을 가속화하고 실험실 내부 및 외부에서 스마트 분석을 활성화하는 최적의 방법을 살펴보십시오. NI 반도체 테스트 시스템 (STS)을 사용하여 설정 기반 테스트 프로그램을 개발 및 디버깅하고, 사용자 정의 측정을 생성하고, 혼합 신호 및 RF 디바이스를 위한 고급 테스트 프로그램을 최적화합니다.
반도체 생산 테스트는 적은 시간과 예산으로 매우 복잡한 부품을 테스트해야 하는 경우가 많습니다. 이 경로는 NI 반도체 테스트 시스템 (STS)을 사용하는 운영자, 기술자, 테스트 엔지니어를 위해 마련되었습니다.
STS 테스트 엔지니어 교육과정에서는 반도체 생산 테스트 엔지니어에게 NI 반도체 테스트 시스템 (STS)을 사용하여 설정 기반 테스트 프로그램을 개발 및 디버깅하고, 사용자 정의 측정을 생성하고, 혼합 신호 및 RF 디바이스를 위한 고급 테스트 프로그램을 최적화하는 방법을 신속하게 가르칩니다.
STS 테스트 엔지니어 교육과정 | 설명 | 수강에 필요한 권장 준비사항 |
| (온디맨드 교육과정에만 해당) 반도체 테스트 시스템 (STS)을 사용하여 (LabVIEW 또는 .NET/C#을 사용하여 개발된) 기존 코드 모듈을 포함하는 테스트 프로그램을 대화식으로 작성, 수정, 실행 및 디버그하여 테스트 데이터 및 테스트 시간 보고서를 수집합니다. |
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STS 및 .NET/C#을 사용한 테스트 프로그램 개발
| (강사가 진행하는 교육과정에만 해당) 반도체 테스트 시스템 (STS) 리소스를 사용하여 .NET/C#으로 개발된 기존 코드 모듈을 포함하는 테스트 프로그램을 대화식으로 작성, 수정, 실행 및 디버그하여 이를 통해 테스트 데이터 및 테스트 시간 보고서를 수집합니다. |
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(온디맨드 교육과정에만 해당) 반도체 테스트 시스템 (STS) 리소스를 사용하여 STS 테스트 프로그램용 측정 코드 모듈을 개발 및 디버그하고, 사용자 정의 테스트 단계를 생성하고, 테스트 프로그램 최적화 및 배포를 수행하는 방법을 알아봅니다. |
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(강사가 진행하는 교육과정) 반도체 테스트 시스템 (STS) 리소스를 사용하여 STS 테스트 프로그램용 측정 코드 모듈을 개발 및 디버그하고, 사용자 정의 테스트 단계를 생성하고, 테스트 프로그램 최적화 및 배포를 수행하는 방법을 알아봅니다. 이 교육과정은 LabVIEW 또는 .NET/C# 모두에 대해 제공됩니다. | ||
RF 부품을 테스트하는 테스트 엔지니어가 STS RF 리소스를 대화식으로 사용하여 RF 설정 기반의 테스트 프로그램을 생성, 수정, 실행 및 디버그하는 방법을 알아봅니다. 이 교육과정은 .NET/C#에만 적용할 수 있으며 STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 및 STS를 사용한 테스트 코드 모듈 개발 이후에 수강해야 합니다. | ||
| mmWave 부품을 테스트하는 테스트 엔지니어를 위해 mmWave 서브시스템의 구성요소, 기능 및 목적에 대해 학습합니다. 이 교육과정은 .NET/C#에만 적용할 수 있으며 STS를 사용한 테스트 프로그램 개발 및 STS를 사용한 테스트 코드 모듈 개발 이후에 수강해야 합니다. |
STS 테스트 엔지니어 교육과정 | 설명 | 수강에 필요한 권장 준비사항 |
LabVIEW 환경, 데이터 흐름 프로그래밍 및 일반적인 LabVIEW 개발 기술을 살펴봅니다. | ||
TestStand를 사용하여 테스트 요구사항에 맞는 실습 테스트 어플리케이션을 개발, 분석, 디버깅 및 배포합니다. | ||
테스트 시스템 프레임워크를 설계 및 구축하고, 고급 기능을 학습하고, TestStand의 내장 기능을 사용자 정의합니다. | ||
디지털 패턴 계측기와 디지털 패턴 편집기를 활용하여 DUT 통신, 디지털 인터페이스 테스트, 연속성 및 누설 테스트에 중점을 두고 일반적인 특성화 및 생산 테스트를 수행합니다. |
이 교육과정은 측정 품질 및 정확도의 저하 없이 디바이스를 특성화하고 테스트 시간을 단축하려는 반도체 검증 테스트 엔지니어를 위해 마련되었습니다.
대화식 학습으로 가기 | 설명 | 수강에 필요한 권장 준비사항 |
웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트 소프트웨어를 사용하여 반도체 웨이퍼의 신뢰성을 측정합니다. |
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RFIC Test Software를 사용하여 테스트 중인 RF 전력 증폭기의 성능 한계를 설정하고 스펙을 정의합니다. |
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이 교육과정에서는 DUT (Device Under Test)의 애드온 설정, 휴면 해제, 문제 해결, 상호작용 및 디버깅하도록 도와드립니다. |
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VCSEL I-V 테스트 서브시스템에서는 VCSEL (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser) 디바이스를 테스트하기 위해 사용자 정의할 수 있는 솔루션을 제공합니다. VCSEL I-V 테스트 서브시스템을 기존 테스트 시스템에 통합하고 기본 테스트를 수행하여 적절한 연결을 보장합니다. |
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SystemLink 제품군을 사용하여 제품을 특성화하고 정의된 스펙을 준수하는지 평가합니다. Bench Data Connector Browser에서 데이터 로그를 살펴보고 Specification Compliance Manager에서 평가합니다.
SystemLink에서 SCM (Specification Compliance Manager)을 사용하여 정의된 전기 스펙을 제품이 준수하는지 평가합니다. 규정 준수 재정의, 규정 준수 판단에 사용되는 기준 설정, 조건 및 파라미터 맵핑 기능 사용 방법에 대해 알아봅니다.
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