웨이퍼 레벨 신뢰성 측정하기 교육과정은 웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트 소프트웨어를 통한 반도체 웨이퍼의 신뢰성 측정의 기본 사항을 알려줍니다.
교육과정 최종 출시일 또는 버전 번호: 22.5
주문형: 10과 | 2시간
반도체 웨이퍼의 신뢰성을 테스트하기 위해 턴키 소프트웨어 솔루션이 필요한 테스트 엔지니어.
없음
WLR 22.5
파라미터형 테스트 시스템
4-터미널 디바이스 및 3축 연결용 차폐 테스트 픽스처/인클로저
4-터미널 트랜지스터 또는 유사한 디바이스
WLR 테스트 소프트웨어를 사용하여 부하 테스트와 파라미터 스윕을 수행하여 반도체 웨이퍼의 신뢰성을 측정합니다.
학습 단원 | 개요 | 토픽 |
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웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트 소개 | 이 과에서는 웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트를 위한 NI 솔루션의 목적을 살펴보고 보다 큰 테스트 시스템에 통합할 수 있는 리소스를 찾습니다. |
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파라미터형 테스트 시스템 하드웨어 살펴보기 | 이 과에서는 파라미터형 테스트 시스템의 하드웨어 구성요소를 살펴봅니다. |
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웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트 소프트웨어 살펴보기 | 이 과에서는 웨이퍼 레벨 신뢰성 테스트 소프트웨어의 일부로 설치되는 소프트웨어 구성요소를 살펴봅니다. |
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DUT에 연결하기 | 이 과에서는 웨이퍼를 정의하고, 웨이퍼에서 테스트할 DUT를 식별하고, SMU 채널을 DUT에 맵핑하는 방법을 배웁니다. |
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보정 수행하기 | 이 과에서는 WLR 테스트를 수행하기 전에 SMU를 보정하여 정확한 테스트 결과를 보장하는 방법을 배웁니다. |
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TDDB 테스트 수행하기 | 이 과에서는 WLR 테스트 소프트 프런트패널을 사용하여 TDDB 테스트를 수행하고 결과를 보는 방법을 배웁니다. |
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HCI/BTI 테스트 수행하기 | 이 과에서는 WLR 테스트 소프트 프런트패널을 사용하여 HCI/BTI 테스트를 수행하고 결과를 보는 방법을 배웁니다. |
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WLR 테스트 시퀀스의 고급 옵션 설정하기 | 이 과에서는 다양한 WLR 테스트 요구사항을 처리하기 위해 테스트 시퀀스를 설정하는 옵션을 살펴봅니다. |
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테스트 실행 사용자 정의하기 | 이 과에서는 테스트 실행에 사용자 정의 테스트 단계를 추가하여 테스트 흐름을 수정하는 방법을 배웁니다. |
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일반적인 문제 해결하기 | 이 과에서는 시스템 설정, 시스템 작동 및 테스트 실행에서 발생하는 일반적인 문제를 디버깅하고 해결하는 방법을 배웁니다. |
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