디지털 패턴 계측기를 사용하여 디바이스 테스트하기 교육과정 개요

첫 디지털 패턴 생성 및 버스트하기

핀 맵, 레벨 시트, 타이밍 시트 및 패턴 파일을 구성하여 테스트 대상 장치(DUT)에 디지털 패턴을 버스트합니다.

• PXI 디지털 패턴 계측기

핀 맵 생성하기

디지털 패턴 편집기에서 핀 맵을 생성하여 DUT 연결 사이트를 정의합니다.

• 핀 맵 살펴보기

스펙 시트 생성하기

DUT 데이터 시트의 값을 스펙 시트 변수에 저장합니다. 

• 스펙 시트 탐색하기

핀 레벨 시트 생성하기

핀 레벨 시트를 생성하여 DUT의 공급 전압, 종단 및 로직 레벨을 정의합니다.

• 핀 레벨 시트 탐색하기

타이밍 시트 생성하기

타이밍 시트를 생성하여 DUT와 인터페이스하는 타이밍 특성을 정의합니다.

• 타이밍 시트 탐색하기

패턴 파일 생성하기

DUT와 통신하고 DUT를 테스트하기 위한 패턴 파일을 생성합니다.

• 패턴 소개
• 패턴 사용하기

디지털 패턴 프로그래밍하기

NI 디지털 패턴 API를 사용하여 프로그램적으로 디지털 패턴 계측기를 제어합니다.

• 디지털 패턴 계측기 소프트웨어 흐름 살펴보기
• 세션 생성하기 및 상태 제어하기
• NI 디지털 패턴 API로 핀 맵 편집하기
• NI 디지털 패턴 API로 핀 레벨 편집하기
• NI 디지털 패턴 API로 타임 세트 편집하기
• NI 디지털 패턴 API로 파일 로드하기

DUT 작동 모드 테스트하기

시리얼 주변 장치 인터페이스 (SPI) 명령으로 DUT를 설정하여 작동 모드를 테스트합니다.

• SPI 통신 살펴보기

레지스터 리드백 테스트 수행하기

DUT의 통신 기능을 검증하기 위해 레지스터 리드백 테스트를 수행합니다.

• 레지스터 리드백 테스트 개요

DUT 타이밍 검증하기

외부 테스트 장비와의 인터페이스를 통해 DUT 타이밍을 검증합니다.

• DUT 타이밍 검증 소개

연속성 및 누출 테스트 수행하기

연속성 및 누설 테스트를 통해 DUT 핀 연결 검증하기

• 연속성 및 누출 테스트 소개
• 핀 파라미터형 측정 유닛 (PPMU)의 기본 사항 살펴보기

흐름 제어로 패턴 견고성 향상하기

연산 코드로 흐름을 제어하여 패턴의 견고성을 높입니다.

• 디지털 패턴 편집기에서 연산 코드 소개하기
• 패턴에서 반복 및 루프 연산 코드 사용하기
• 점프 및 호출 연산 코드 살펴보기
• 조건적 동작 사용하기
• 시퀀서 플래그 및 레지스터 연산 코드 살펴보기

소스 웨이브폼 사용하기

시리얼 및 병렬 소스 웨이브폼을 사용하여 변수 데이터로 패턴 구조를 단순화합니다.

• 소스 웨이브폼 살펴보기
• 시리얼 소스 웨이브폼 설정하기
• 패턴에서 시리얼 소스 웨이브폼 사용하기 
• 소스 핀 상태 교체 살펴보기 
• 소스 웨이브폼 로드 및 로드 해제하기 
• 병렬 소스 웨이브폼 설정하기
• 패턴에서 병렬 소스 웨이브폼 사용하기 
• 소스 대역폭 고려사항

캡처 웨이브폼 사용하기

캡처 웨이브폼을 사용하여 검증 및 후처리를 위해 수신된 데이터를 저장합니다.

• 캡처 웨이브폼 살펴보기
• 시리얼 캡처 웨이브폼 설정하기
• 병렬 캡처 웨이브폼 설정하기
• 패턴에서 캡처 웨이브폼 사용하기
• 캡처 웨이브폼 로드 및 로드 해제하기
• 캡처 웨이브폼 고려사항 

램 이력 리포트를 사용하여 테스트 결과 검토하기

램 이력 리포트의 결과를 사용하여 패턴 또는 테스트 대상 디바이스 (DUT)를 디버그합니다.

• 램 이력 살펴보기
• NI 디지털 램 이력 API 사용하기 
• 메모리 및 대역폭 고려사항

디지털 스코프로 신호 보기

디지털 스코프를 사용하여 디지털 패턴 계측기 (PXIe-657x) 핀의 실제 전압 레벨을 확인합니다.

• 디지털 스코프 살펴보기
• 디지털 스코프 설정 및 사용하기

Shmoo 플롯을 사용하여 파라미터 관계 시각화하기

Shmoo 플롯을 사용하여 패턴 파라미터를 반복 분석하고 결과를 확인합니다.

• Shmoo 플롯 살펴보기
• Shmoo 플롯 실행 모드 살펴보기

다른 계측기와 동기화하기

트리거 공유 또는 NI-TClk와 같은 동기화 전략을 구현하여 작업을 다른 계측기와 동기화합니다.

• 대화식으로 트리거 생성하기
• 프로그램적으로 트리거 생성하기
• 여러 계측기와 NI-TClk 사용하기 
• 일치 또는 실패 조건 감지하기
• 동기화 방법 개요

배선 및 교정

케이블 스큐와 전압 오프셋을 보정하고 디바이스 교정 요구사항을 살펴봅니다.

• 시간 영역 반사 측정 설정하기
• DUT 접지 감지 연결하기
• 디지털 패턴 디바이스 교정하기

스캔 테스트 연산 코드 사용하기

스캔 연산 코드로 벡터를 하나 이상의 스캔 사이클로 나눕니다.

• 스캔 패턴 살펴보기