독보적 채널 밀도
단일 PXI 섀시에 최대 408 SMU 채널이 있는 전체 랙을 몇 인치 안 되는 물리적 공간으로 줄여 테스트 시간을 단축하고 처리량을 높이며 생산 요구사항을 충족합니다.
과도 응답 맞춤 설정
PXI SMU의 특허 기술로 맞춤형 회로를 방지할 수 있는 NI SourceAdapt를 사용하여 PXI SMU의 과도 속성을 디지털 제어함으로써 안정성을 최대화하고 오버슛을 감소시키며 테스트 시간을 단축할 수 있습니다.
내장된 IV 스윕
InstrumentStudio 소프트웨어의 설정 기반 IV 스윕 및 프로그래밍 환경의 고급 사용자 지정 경로를 통해 테스트 사례에서 동일한 SMU를 재구성하고 용도를 변경합니다.
하드웨어 타임 시퀀스
각 시퀀스와 단계마다 호스트 컴퓨터와 SMU 사이의 통신 지연시간을 없애고 출력 모드, 간극 시간(aperture time), 전류 범위, 과도 응답 등의 다양한 SMU 파라미터를 변경하여 보다 빠른 측정 결과를 얻으십시오.
고전력 펄스 생성
지속적인 DC 소스를 공급하는 대신 전류 또는 전압 펄스를 통해 PXI SMU의 기본 DC 출력 범위를 넘어서도 작동이 가능하도록 함으로써 히트 싱크 인프라가 부족한 경우에도 높은 순시 전력에서 테스트를 수행할 수 있도록 지원합니다.
처음 사용자를 위한 권장 사항
PXI 소스 측정 유닛 번들
PXI 소스 측정 유닛 (SMU) 번들은 NI에서 가장 널리 사용되는 고품질 SMU 중 하나와 Thunderbolt™ 제어 섀시로 미리 구성된 세트로, 쉽게 시작할 수 있습니다.
주요 콘텐츠
PXI SMU가 장착된 고도의 병렬 웨이퍼 레벨 신뢰성 시스템 구축하기
엔지니어들은 유연하게 확장이 가능한 모듈형 PXI SMU 기반 솔루션을 채택하여 신뢰성 데이터를 확보하고 테스트 비용을 절감하고 있습니다.
프로젝트 사이클을 10배 향상한 IMEC 연구 기관
PXI SMU 기반 팹 내 ATE를 통해 IMEC는 비용을 75% 절감하고 웨이퍼 프로세스 흐름 테스트의 프로젝트 주기를 1개월에서 3일로 단축했습니다.
고처리량 MiniLED 테스트를 통한 차세대 디스플레이
LED 칩이 작아질수록 웨이퍼당 칩의 개수는 수천만 개로 증가합니다. NI의 PXI SMU는 FitTech의 처리량 문제를 해결하는 데 도움이 되었습니다.
기술 백서
DC 측정 성능 극대화
이 가이드에서 전력 관리 IC (PMIC), RF 전력 증폭기, 및 기타 IC의 측정 정확도와 제품 품질을 향상시키는 모범 사례를 알아보십시오. SMU 작동 원리, 외부 노이즈 최소화, 펄스 효과와 같은 토픽에 대해 자세히 살펴보십시오.
- 소스 측정 단위 이론
- 측정 정확도
- 정확도와 속도의 상관관계
- 펼싱 효과
