NI PXI 디지털 패턴 계측기란?

PXI 디지털 패턴 계측기는 ATE 등급 디지털 기능을 업계 표준 PXI 플랫폼에 구현합니다. PXI 디지털 패턴 계측기는 RF 프런트엔드와 전력 관리 IC부터 트랜시버와 사물인터넷 시스템 온 칩(연결 기능 및 센서 포함)까지 광범위한 RF 및 혼합 신호 IC의 테스트용으로 설계되었습니다.

디지털 패턴 편집기

디지털 패턴 편집기는 테스트 패턴을 가져오거나 편집하거나 생성하기 위한 대화식 도구입니다. 이 소프트웨어는 가져온 디지털 테스트 벡터와 패턴을 개발하거나 편집할 수 있도록 디바이스 핀 맵, 스펙 및 패턴을 위한 편집 시트를 통합합니다.

디지털 테스트 패턴 디버깅 도구

디지털 패턴 편집기에는 변화 과정을 거치는 테스트 대상 디바이스(DUT) 성능을 심층적으로 이해할 수 있도록 해주는 Schmoo 플롯과 같은 도구가 포함되어 있습니다. 이 편집기는 또한 한 패턴에 패턴 오류를 오버레이하거나 핀 데이터의 아날로그 보기를 위한 디지털 스코프를 사용하는 등의 디버깅 도구도 제공합니다.

프로그램적인 패턴 버스팅(Bursting)

LabVIEW, C 또는 .NET 개발 도구에 내장된 NI-Digital Pattern Driver는 PXI 디지털 패턴 계측기와 상호작용이 가능한 테스트 코드를 개발할 수 있도록 지원합니다.

TestStand Semiconductor Module

TestStand Semiconductor Module은 디지털 패턴 편집기와 NI-Digital Pattern Driver에 연동되어 기본적인 핀 맵 지원 및 반도체 테스트 시스템(STS)의 다중 사이트 DUT 중심 프로그래밍 기능을 제공합니다.

주요 내용

PXI 아키텍처 소개
디지털 패턴 계측기로 마이그레이션을 진행할 때 고려해야 할 중요한 사항
반도체 테스트 시스템(STS)으로 테스트 비용 절감

어플리케이션 리소스


테스트 시스템 구축의 기초

테스트 전략을 정의하고 시스템 투자를 계획해야 비용을 절감하고 테스트에 대한 투자 효과를 오래 지속할 수 있으며 효율성 또한 최대화할 수 있습니다. 사용 중인 테스트 시스템의 테스트 전략, 모범 사례, 설계의 장단점에 대해 살펴볼 수 있습니다.

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