NI PXI 디지털 패턴 계측기란?

PXI 디지털 패턴 계측기는 ATE 등급 디지털 기능을 업계 표준 PXI 플랫폼에 구현합니다. PXI 디지털 패턴 계측기는 RF 프런트엔드와 전력 관리 IC부터 트랜시버와 사물인터넷 시스템 온 칩(연결 기능 및 센서 포함)까지 광범위한 RF 및 혼합 신호 IC의 테스트용으로 설계되었습니다.

디지털 패턴 편집기

디지털 패턴 편집기는 테스트 패턴을 가져오거나 편집하거나 생성하기 위한 대화식 도구입니다. 이 소프트웨어는 가져온 디지털 테스트 벡터와 패턴을 개발하거나 편집할 수 있도록 디바이스 핀 맵, 스펙 및 패턴을 위한 편집 시트를 통합합니다.

디지털 테스트 패턴 디버깅 도구

디지털 패턴 편집기에는 변화 과정을 거치는 테스트 대상 디바이스(DUT) 성능을 심층적으로 이해할 수 있도록 해주는 Schmoo 플롯과 같은 도구가 포함되어 있습니다. 이 편집기는 또한 한 패턴에 패턴 오류를 오버레이하거나 핀 데이터의 아날로그 보기를 위한 디지털 스코프를 사용하는 등의 디버깅 도구도 제공합니다.

프로그램적인 패턴 버스팅(Bursting)

LabVIEW, C 또는 .NET 개발 도구에 내장된 NI-Digital Pattern Driver는 PXI 디지털 패턴 계측기와 상호작용이 가능한 테스트 코드를 개발할 수 있도록 지원합니다.

TestStand Semiconductor Module

TestStand Semiconductor Module은 디지털 패턴 편집기와 NI-Digital Pattern Driver에 연동되어 기본적인 핀 맵 지원 및 반도체 테스트 시스템(STS)의 다중 사이트 DUT 중심 프로그래밍 기능을 제공합니다.

주요 내용

PXI 아키텍처 소개
반도체 테스트 시스템(STS)으로 테스트 비용 절감

어플리케이션 리소스


테스트 시스템 구축의 기초

테스트 전략을 정의하고 시스템 투자를 계획해야 비용을 절감하고 테스트에 대한 투자 효과를 오래 지속할 수 있으며 효율성 또한 최대화할 수 있습니다. 사용 중인 테스트 시스템의 테스트 전략, 모범 사례, 설계의 장단점에 대해 살펴볼 수 있습니다.

관련 제품

제품 지원 정보