パワー半導体の寿命テスト
パワー半導体の寿命を確保するには、AQG 324およびAECQ-101などのテスト規格を満たす必要があります。これらの要件に従ってDUTの適合性を評価するために、エンジニアは断続動作寿命 (IOL) テストとパワーサイクルテストを実行します。このテストでは、DUTを連続的にオン/オフし、チップ近傍の接合部に熱ストレスを与えます。 これらの用途では、テストシステムは以下の要件を満たす必要があります。
- AQG 324およびAECQ-101などのテスト規格に適合している
- 高スループット、高効率、高い測定品質を実現している
- テストでは、シリコンベースだけでなく、SiCおよびGaNのパワー半導体も対象としている
IOLおよびパワーサイクルテストシステム
NIのIOLおよびパワーサイクルテストシステムは、高いチャンネル密度と、DUTパッケージの外形寸法に対する高い柔軟性を備え、シームレスな監視と低コストを可能にします。これにより、エンジニアはこれらのテストを効率的に実行できます。
断続動作寿命 (IOL)
- 最大150 Aの負荷でディスクリートデバイスをテスト
- システムあたり最大80チャンネル、ドロワーあたり最大8チャンネル
- 監視パラメータ:Tc、Iload、Vload、VReverse (VF)、Rth、Tvj (Tjmax - Tjmin)
- テストシステムはMIL-STD-750Dに準拠
パワーサイクラー
- 2つの電流経路で最大12の測定チャンネル、-18Vから+20 Vまでのゲート駆動電圧
- PSU出力で最大1000 A、30 Vの負荷電流
- 最大6つの独立した冷却回路、自動流量制御、温度監視
- 監視パラメータ:Iload、Vf、Vgs、Tvj、Tc/s、Rth、Tcool、Qcool、ストレス経路の電圧
ソリューションのメリット
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各DUTをシームレスに監視し、そのすべてのパラメータを正確に測定
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完全自動化プロセスで、すべてのストレスパルスを完全に取り込み、記録し、包括的な特性評価を実施
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AQG 324およびAECQ-101のテストガイドラインに準拠したテスト
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シリコンだけでなく、SiC、GaNのパワー半導体のテストにも適したオープンテストプラットフォーム
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標準ハウジングと互換性のある複数のドロワーと、多様な基板に適合するカスタム仕様
NIのエコシステムでソリューションを構築する
NIでは、アプリケーション固有の要件に合わせてカスタマイズされた、さまざまなソリューション統合オプションを提供しています。社内で統合チームを組織してシステムを完全に統括することも、NIと世界各地のNIパートナーネットワークの専門技術を活用したターンキーソリューションをご利用いただくことも可能です。
NIパートナーネットワークは、ドメイン、アプリケーション、および全体的なテスト開発エキスパートがNIと緊密に連携してエンジニアリングコミュニティのニーズを満たすグローバルコミュニティです。NIパートナーは、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者、幅広い産業やアプリケーション分野に精通したサービスおよび販売チャネルの専門家です。
NIは、トレーニング、技術サポート、コンサルティングと統合サービス、メンテナンスプログラムによって、アプリケーションのライフサイクル全体を通してお客様との緊密な関係を築きます。お客様のチームは、NIの地域別ユーザグループに参加することで新たなスキルを発見でき、オンライントレーニングおよび対面型トレーニングで習熟度を高めることができます。
IOLおよびパワーサイクルテストシステムソリューションのパンフレット
シームレスなDUT監視、正確なパラメータ測定、包括的な記録機能についてご紹介します。ソリューションのパンフレットをダウンロードして、多様な半導体に対応するこのオープンプラットフォームの詳細をご確認ください。
NIパートナーは、日本アライアンスプログラムに参加しているシステムインテグレータを中心としたパートナー企業で、代理店の関係は有していません。また、NIとのいかなる取引関係にも属しません。