IOLおよびパワーサイクル時の基準認定
IOLおよびパワーサイクルテストシステムは、加速条件下でパワー半導体に特定のストレス条件を生成するのに役立ちます。これらは高スループット、シームレスな監視、低コストを効率的に支援できます。シリコン系パワー半導体のテストに加えて、このシステムはSiCおよびGaNパワー半導体にも対応しています。
パンフレットの内容:
- 測定品質を高め、テストで高いスループットを実現する方法
- 品質を維持しながらテストコストを削減する戦略
- 各DUTのシームレスな監視と正確なパラメータ決定に関する詳細な情報
- SiCおよびGaNパワー半導体などのワイドギャップ技術の機能
- 包括的な特性評価を備えた完全に自動化されたテストプロセスの利点
最先端のIOLおよびパワーサイクルテストシステムの体験
シームレスな監視とSiCおよびGaN半導体に特化した機能を備えた高度なIOLとパワーサイクルシステムにより、テスト効率とスループットを向上させ、コストを削減します。
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