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マイクロエレクトロニクスの機能およびパラメトリックテスト

  • マイクロエレクトロニクステストの最新のテストに関する課題を解決する

    レーダー、SATCOM、電子戦などの最新のミッションシステムでは、性能と複雑さの限界を押し広げるものが求められています。これらのミッションパラメータを達成するために、最先端のRFおよびデジタルマイクロエレクトロニクスへの依存度が高まっています。その結果、機能的なパラメトリックテストからシステム検証まで拡張できる複雑な混合I/Oテストベンチが登場しています。テストエンジニアは、テスト装置の効率を最大限に高め、市場の需要を上回る成果を出すために、機敏に対応し、進化を続ける複雑なDUTに適応する必要があります。

 
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リスクを軽減し、プログラムの成果を加速する

こうした新しい複雑なDUTがもたらす課題を克服するため、NIは数々のハードウェアおよびソフトウェアツールを提供しています。テストエンジニアはこれらを利用することで、多品種少量のニーズに対応し、将来のアプリケーションへのスケーラビリティを高めるテストシステムを開発できます。NIの斬新なアプローチにより、高性能テスト装置を主要な測定IPと組み合わせて使用することで資本コストを大幅に削減することができます。そのため、業界最高水準の測定速度と品質で、より高品質のデータをより高速にキャプチャし、複数のテストケースを同時に実行することができます。

注目のソリューション

電子走査アレイコンポーネントおよびモジュールを検証する

電子走査アレイ (ESA) 特性評価リファレンスアーキテクチャは、AESAレーダーなどの次世代電磁システムで使用されるマイクロ電子部品やモジュールの検証を簡素化することを目的として設計されました。このリファレンスアーキテクチャを利用すると、テスト開発の効率を高め、テストカバレッジを拡大し、テストの全体的なコストを削減できます。

ESAリファレンスアーキテクチャ

DCからRFまで

NIの測定範囲はDCからミリ波までの範囲に及び、LバンドからKaバンドをカバーしており、テスト計画全体で必要な測定範囲を確保します。

ナノ秒以下の同期

ベースバンドおよびRF計測器をナノ秒以下の精度で厳密に同期させ、RFおよびベースバンドI/Qテストの完璧なソリューションを提供します。

広い瞬時帯域幅

最大1 GHzの即時帯域幅を利用できるNIのRF計測器は、レーダー、電子戦、衛星通信の主要なシステムコンポーネントおよびモジュールのテストに最適です。

すべての機能が統合されたソフトウェア環境

NIのソリューションには、システムの開発やデバッグのための使いやすい対話式インタフェースパネルの他、特性評価システムと本番稼働テストシステムの両方をデプロイするための自動化可能APIが組み込まれており、設計サイクル全体にわたる完璧な統合ソフトウェア環境を提供します。

関連する製品とソリューション

NIパートナーと連携する

NIパートナーネットワークは、ドメイン、​アプリケーション、​テストの専門家で構成される​グローバル​コミュニティです。NIと協力して活動し、お客様のニーズにお応えし​てい​ます。NIパートナーには、信頼できるソリューションプロバイダ、システムインテグレータ、コンサルタント、製品開発者がいるほか、幅広い産業分野および応用分野に精通したサービスおよび販売チャンネルの専門家が揃っています。

関連情報

最新の電子走査アレイの設計とテストに関する課題

ESAは、航空宇宙/防衛におけるさまざまな応用分野の基礎となるものです。最新のESAデバイスに関連する設計のライフサイクルとテストの課題について学習し、ESAアプリケーションの将来の進化に関する洞察を習得してください。

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最新の送受信モジュールのテスト方法

最新のT/Rモジュールのアーキテクチャについて学習し、これらの高度なコンポーネントの特性評価とテストを十分に実施するのに必要となる主要なテスト方法と測定のベストプラクティスを調査してください。

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NIパートナーは、NIから独立した事業体であり、NIとの代理店関係、パートナーシップまたはジョイント・ベンチャーの関係はありません。