低い位相ノイズおよびノイズフロア、優れたダイナミックレンジ、高い2次および3次インタセプトを兼ね備えたNI VSAは、隣接チャンネル漏れ電力比(ACLR)計測やスプリアス/高調波計測といった幅広いアプリケーションに最適です。
NI VSAは最大765 MHzの即時RF帯域幅を備えているため、1回の収集で極めて広い帯域幅を計測することが可能です。LTE-A Proなどのワイヤレス規格のテスト、デジタルプリディストーション、レーダパルス計測といった、数多くのアプリケーションで有効活用できます。
PXI特有のタイミング/同期機能は、NI VSAとその他のテスト計測器のナノ秒未満の同期を可能にするため、位相コヒーレントなレーダ計測、エンベロープトラッキング、方向検知などのアプリケーションに役立ちます。
カスタマイズ可能なFPGAが搭載されているため、LabVIEW FPGAモジュールを使用して、計測の迅速化、閉ループテスト、複雑なアルゴリズムなど、アプリケーション特有の機能をユーザが自由に実装できます。
NI-RFmxは、高度に最適化された直感的なAPIのため、使いやすいうえに高度な計測構成を行うことが可能です。NI VSAとNI-RFmxを使用して、デジタル/アナログ変調信号の計測や、RFスペクトル計測(チャンネル電力、隣接チャンネル漏洩電力、高調波)などのタスクを実行できます。
Captronic Systems社は、NI LabVIEW FPGAモジュールとともにNI PXIベクトル信号アナライザを使用して、レーダのすべての機能をテストするためのカスタマイズされた拡張性のあるソリューションを開発しました。
PXIe-5668マイクロ波信号アナライザは、ワイヤレス通信、RFIC (無線周波数集積回路) の特性評価、レーダー (Radio Detection And Ranging) テスト、スペクトルモニタリング/シギントといったアプリケーションの厳しい要件を満たすことができます。
アプリケーション
RF
RFテストのベストプラクティスを理解し、正確な結果を得ることは、効率的なテスト手順を実現するために重要です。RF特性評価テストに必要な測定に対応するRF計測器の使用方法を学習します。
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