Test de fiabilité des semi-conducteurs de puissance à large bande passante

Les semi-conducteurs de puissance à large bande passante en carbure de silicium (SiC) et en nitrure de gallium (GaN) ont besoin de nouvelles méthodes de test adaptées à des applications spécifiques. En effet, les tests traditionnels ne permettent pas d’identifier certains nouveaux effets de défaillance. Comme ils ont une influence sur l’application réelle, cet écart de qualification est comblé par la polarisation inverse dynamique à haute humidité à haute température (H3TRB) ou la polarisation inverse dynamique (DRB) selon la définition de l’AQG 324.

Systèmes de test de semi-conducteurs de puissance NI SET Dynamic H3TRB et DRB

Dans un environnement avec une température et une humidité constantes, le DUT est exposé à des stimuli de drainage dynamiques avec des pics de tension élevés et une augmentation rapide de la tension. Les variations de tension entraînent des changements rapides du champ magnétique, ce qui favorise la corrosion. Cette procédure accélère la détérioration du DUT et éventuellement des matériaux d’isolation. Elle permet de se rapprocher le plus possible des conditions de fonctionnement réelles du DUT.

 

Ce test est une condition préalable à la publication de déclarations solides sur la durée de vie des composants ou modules discrets en SiC et GaN. Paramètre clé du système de test dynamique H3TRB/AC-HTC/DRB :

 

  • Peut accueillir jusqu’à 240 voies DUT par système, avec des Vds et une tension de drain maximale allant jusqu’à 1500 V
  • Offre des fonctionnalités pour un seul DUT, notamment la mesure du courant de fuite, la protection contre les surintensités et le contrôle de la tension
  • Prend en charge les modes de test actif et passif du DUT, ainsi qu’une procédure de test entièrement automatisée
  • Offre une fréquence de sortie configurable de 0 Hz à 500 kHz et la possibilité de paramétrer le rapport cyclique de 25 % à 75 % par incréments de 5 %
  • Fonctionne dans des conditions environnementales jusqu’à 85 °C et 85 % d’humidité relative, avec des tests optionnels tels que AC-HTC disponibles

Avantages de la solution

Les montagnes russes des semi-conducteurs de puissance : DRB (polarisation inverse dynamique)

Défis des tests de fiabilité à large bande passante

Dans cette vidéo, Gabriel Lieser de NI se concentre sur le DRB, un test de fiabilité pour les dispositifs à large bande passante. Découvrez les deux façons de réaliser ce test de fiabilité pour les composants en SiC et GaN ainsi que les éléments à prendre en compte lors de la mise en place et de la réalisation du test.

Créez votre solution à l’aide de l’écosystème NI

NI propose plusieurs options d’intégration de solutions adaptées aux besoins spécifiques de votre application. Vous pouvez utiliser vos propres équipes d’intégration internes pour un contrôle complet du système ou tirer parti de l’expertise de NI et de notre réseau mondial de partenaires NI pour obtenir un système clé en main.

Réseau de partenaires NI

Le Réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d'experts en développement de domaines, d'applications et de tests globaux travaillant en étroite collaboration avec NI pour répondre aux besoins de la communauté des ingénieurs. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d'industries et de domaines d'application.

Services et assistance

NI accompagne les clients tout au long de la vie d’une application, proposant des services de formation, de support technique, de conseil et d’intégration ainsi que des programmes de maintenance. Les équipes peuvent découvrir de nouvelles compétences en se joignant à des groupes d’utilisateurs de différentes régions et spécifiques à NI, et acquérir une maîtrise grâce à une formation en ligne et en présentiel.