Test de fiabilité des semi-conducteurs de puissance
Bénéficiez des dernières technologies de test
En tant que leader technologique des tests dynamiques de semi-conducteurs de puissance, NI s’engage à répondre aux besoins en constante évolution de l’industrie. Tirant parti de notre vaste expérience et de nos collaborations avec des clients, des universités et des groupes industriels tels que ECPE AQG 324 et JEDEC JC-70, nous visons à contribuer à la future sécurité de la mobilité en définissant des normes de test. Notre table ronde sur la fiabilité des semi-conducteurs de puissance fournit une plate-forme précieuse pour échanger des connaissances et faire progresser le secteur.
SOLUTION PHARE
Test de fiabilité des semi-conducteurs de puissance DGS
Les semi-conducteurs de puissance au carbure de silicium (SiC) et au nitrure de gallium (GaN) nécessitent de nouvelles méthodes de test dynamique en raison de mécanismes de défaillance invisibles dans des matériaux à large bande interdite affectant des applications réelles. Les tests de contrainte de grille dynamique (DGS, Dynamic Gate Stress) comblent cet écart, en surpassant les méthodes de test statiques et en se concentrant davantage sur l’application.
Test DGS amélioré pour les semi-conducteurs SiC et GaN
Tests orientés application
L’utilisation de composants à large bande interdite et les défis de la qualification augmentent de manière exponentielle. Les semi-conducteurs de puissance SiC et GaN introduisent de nouveaux effets de défaillance, ce qui entraîne des défis supplémentaires en matière de test. Les tests dynamiques tels que DGS, H3TRB dynamique ou DRB sont plus proches de l’application réelle. Ces tests permettent de détecter les défaillances telles que les dérives à un stade précoce avant que le composant ne soit mis en production en série et provoque des rappels. Cependant, ils présentent également de nouveaux défis en ce qui concerne l’implémentation concrète. La mise à l’échelle de ces tests pour des lots plus importants et la capture précise des mécanismes de défaillance pour développer des modèles efficaces restent complexes. Nous fournissons les dernières méthodes de test ainsi que des conseils sur leur mise en œuvre pour le test et la qualification des composants en vue d’assurer la sécurité et la fiabilité de vos semi-conducteurs de puissance.
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Synergie des semi-conducteurs, des systèmes ADAS et des véhicules électriques
La transition de l’industrie automobile vers les véhicules électriques et les systèmes ADAS nécessite de nouveaux tests de semi-conducteurs en raison des exigences technologiques avancées, ce qui entraîne des révisions de la chaîne d’approvisionnement et de la stratégie chez les fournisseurs et les fabricants d’équipement d’origine. Ce changement inclut le passage aux semi-conducteurs à large bande interdite et met l’accent sur des normes de test rigoureuses.