​OSL crée un système universel de test automatique pour l'alimentation des charges utiles des satellites

Ishan Patel, responsable de l’ingénierie système, Optimized Solutions Limited (OSL)

Sintu Punnoose, Ingénieur d’applications senior, NI

 

Solutions optimisées

 

Points clés de l’étude de cas

 

  • OSL innove dans l’industrie spatiale indienne en proposant des systèmes automatisés (ATS) qui permettent de tester des convertisseurs DC-DC de différentes puissances nominales et divisent par dix le temps de test par rapport aux approches traditionnelles.

  • Élément central de cet ATS, le système PXI Express modulaire de NI contrôle les alimentations et les charges électroniques, acquiert des données de test et analyse les données pour évaluer les performances du DUT.

  • La solution ATS d’OSL répond aux exigences des tests au niveau des cartes et du boîtier, y compris la prise en charge du test simultané de plusieurs appareils sous test (DUT) avec différents algorithmes de réglage.

« En tirant parti de la plate-forme PXI de NI, nous avons construit un système d’alimentation des charges utiles d’un satellite qui divise le temps de test par dix et prend en charge les tests au niveau de la carte et du boîtier. La solution d'OSL sera mise à profit par la communauté spatiale en Inde afin de favoriser l'évolutivité par le biais de l'automatisation et d’accélérer le rythme de l'innovation. »

—​Harikesh Nair, directeur général, Optimized Solutions Limited (OSL)

Le défi

Le réglage, le test et la validation de l’alimentation de la charge utile d’un satellite nécessitent la caractérisation des paramètres électriques du convertisseur CC-CC. Des appareils sous test (DUT) avec différentes puissances nominales avec de multiples spécifications doivent être testés pour garantir que l'alimentation régulée atteint tous les sous-systèmes. Les méthodologies traditionnelles peuvent nécessiter jusqu'à sept jours pour configurer un DUT. Les résultats des tests sont capturés manuellement, ce qui peut entraîner une durée globale des tests supérieure à un mois.

La solution​

La solution d'OSL permet de tester deux unités sous test de type convertisseur CC-CC simultanément en incorporant 20 tests différents de paramètres électriques critiques, tels que des tests d'isolation et de stabilité. Ce système de test automatisé (ATS) est disponible dans un seul rack de 19 pouces accueillant plusieurs instruments PXI de NI et une application de test basée sur LabVIEW. La solution permet d’augmenter le débit du système, de minimiser le risque d’erreur humaine et de diviser par dix le temps de test par rapport aux méthodes traditionnelles.

Principes de base du convertisseur CC-CC

Un convertisseur CC-CC est un appareil électrique qui convertit des sources de courant continu (CC) d’un niveau de tension à un autre. En d’autres termes, un convertisseur CC-CC transforme une tension d’entrée CC en une tension de sortie CC différente. Les systèmes de gestion de l'alimentation, tels que les convertisseurs CC-CC, gèrent ou convertissent l'énergie au sein de systèmes plus volumineux, tels que ceux que l'on trouve dans les charges utiles de satellites, pour des applications telles que la conversion ascendante ou descendante d'une source de courant continu d'un niveau de tension à un autre.

 

Diagramme du convertisseur CC-CC

Figure 1 : Diagramme du convertisseur CC-CC

 

Exigences relatives à un convertisseur CC-CC

Qu'il s'agisse de valider la conception avant la fabrication ou d'évaluer un convertisseur CC-CC en vue de son utilisation dans un système de charge utile de satellite, des tests reproductibles et précis sont essentiels. Les séquences de test de convertisseur CC-CC standard permettent de mesurer des critères de performance tels que la précision de la tension, le rendement, la régulation ligne/charge et la réponse transitoire.

 

Des centaines de convertisseurs CC-CC avec des spécifications différentes sont conçus et déployés. Le convertisseur CC-CC, qui dans ce cas est le DUT, doit passer par différentes phases dont la fabrication, le réglage des composants, les tests et la validation. Dans la plupart des cas, la phase qui prend le plus de temps est le réglage et les tests des composants. 

 

Lors du réglage, plusieurs résistances et condensateurs doivent être émulés pour vérifier les performances du DUT. Dans les configurations de test traditionnelles, ces valeurs sont modifiées manuellement à chaque fois. Après le réglage, les performances du DUT sont évaluées pour vérifier que les valeurs de sortie ne dépassent pas les seuils requis. Plusieurs tests doivent être effectués avec différents instruments dans différentes configurations de test, et les résultats des tests sont généralement capturés manuellement. De plus, le DUT doit être testé dans différentes conditions environnementales. Dans l’ensemble, le temps nécessaire pour tester les performances du DUT dans toutes les phases est généralement d’au moins un mois. 

 

Solution

Optimized Solutions (OSL) est un partenaire de NI et un fournisseur de services d’ingénierie produit de premier plan pour la construction selon des spécifications, le firmware embarqué et les services de gestion du cycle de vie du développement de produits complets. Fondée en 2005 et implantée dans l'État du Gujarat en Inde, la société OSL est présente dans toute l'Inde et bénéficie du soutien de plus de 100 ingénieurs. OSL fournit des solutions et des services de haute qualité aux industries spatiale, de la défense et OEM.

 

Cette solution est construite sur la plate-forme PXI Express de NI pour les activités de réglage et de test (T&T) au niveau carte et de test et évaluation (T&E) pour différents types de convertisseurs CC-CC. La solution répond aux exigences des clients concernant l’augmentation du débit et la minimisation des efforts manuels et des erreurs humaines lors des tests. Elle répond également au besoin d'automatisation du processus T&T dans toutes les phases de test des convertisseurs CC-CC. Le système PXI Express contrôle les instruments par le biais d'un logiciel d'application de test développé à l'aide de LabVIEW. La solution est personnalisée pour répondre à des exigences spécifiques et permet de tester deux DUT simultanément avec différents algorithmes de réglage dans un seul ATS.

 

Architecture du système

Figure 2 : Architecture du système

 

Le système PXI Express de NI contrôle les alimentations, charges électroniques et autres équipements de mesure modulaires nécessaires. De plus, il acquiert les données de test et les analyse pour évaluer les performances du DUT. La solution est configurée dans un rack facilement transportable pour permettre son utilisation sur plusieurs sites. Le matériel PXI de suivant est utilisé pour la solution ATE :

  • Châssis PXI PXIe-1095 et PXIe-1092
  • Contrôleur PXIe-8880 et PXIe-8840 avec Windows 10
  • Alimentations :
    • Alimentation RMX-4104 (100 V, 8 A)
    • Charge électronique haute puissance RMX-4003 (100 W)
    • Charge électronique PXIe-4139 basse puissance (40 W)
  • Module de matrice de commutation PXI-2532B
  • Multimètre numérique PXIe-4082
  • Oscilloscope PXIe-5172 14 bits
  • Unité de source et mesure PXIe-4137
  • Module d’E/S multifonction PXIe-6365
  • Module PXI d’E/S numériques
  • Module d'interface série PXIe-8431/8          

 

Solution personnalisée

Tous les instruments modulaires mentionnés précédemment sont placés dans un rack de 19 pouces. Un connecteur unique sur les deux faces latérales de l'ATS se connecte au DUT à l'aide d'un support à l'intérieur du rack, qui est conçu sur mesure pour la conception du DUT spécifique partagée par le client.

 

La nécessité de tester le DUT dans diverses conditions environnementales a encouragé l'équipe à adapter la conception du rack mobile afin de faciliter son transport.

 

 

Principales fonctionnalités logicielles

Le module de configuration de test offre les avantages suivants :

  • Prise en charge du test de différents types de DUT
  • Stockage de plusieurs configurations pour différents DUT
  • Possibilité de modifier la configuration stockée et de l'enregistrer pour différents types de DUT
  • Composants ajustables configurables par l'utilisateur avec limites disponibles dans la configuration de test
  • Séquences de test sélectionnables par l'utilisateur
  • Séquences de test définies par l'utilisateur pour différentes phases de test

 

Module de configuration de test

 

Figure 3 : Module de configuration de test

 

Le module de test offre les avantages suivants :

  • Inclut un lecteur de codes-barres pour le DUT
  • Basé sur codes-barres, affiche les détails du DUT avec tous les paramètres de test extraits de la base de données et affichés dans l’interface graphique
  • En fonction de la phase de test sélectionnée, l’application de test détermine s’il faut procéder au réglage ou au test
  • Vérification de l’état de l’instrument effectuée avant de procéder au test
  • Tous les tests sont exécutés dans une séquence définie et un rapport personnalisé est généré une fois le test terminé

 

Interface utilisateur du module de test

 

Figure 4 : Interface utilisateur du module de test

 

 

Principales caractéristiques et avantages de la solution :

  • Réglage automatisé des composants RC
  • Possibilité de réutiliser une même configuration de test pour différents types de DUT
  • Personnalisation des séquences de test en fonction des besoins des utilisateurs
  • Sélection des conditions de test pour les différentes phases de test
  • Vérification de l'état de l'instrument comme vérification préalable, avant de procéder aux tests
  • Plusieurs fonctionnalités de sécurité pour protéger le DUT en cas de fonctionnement accidentel ou de défaut
  • Analyse de stabilité automatisée à l'aide de la transformée de Fourier rapide
  • Génération automatisée de rapport à la fin du test
  • Récupération rapide des résultats des tests du DUT
  • Comparaison des résultats de test de différentes phases du DUT
  • Sauvegarde automatisée des résultats de test sur le serveur

 

Grâce à cette solution ATS, le temps nécessaire au test des performances du DUT a été divisé par dix par rapport aux tests manuels. De plus, les résultats des tests du DUT sont plus cohérents et standardisés grâce à une automatisation améliorée.

 

 

Résumé

Avec cette solution universelle de test automatique de convertisseur CC-CC, rendue possible par l’architecture modulaire et les outils de développement flexibles de NI, OSL fournit les capacités souhaitées pour le test de charge utile de satellite aux utilisateurs d’Indian Space afin de tester rapidement les convertisseurs CC-CC. La solution permet de s’adapter à différents cas de test avec agilité et flexibilité, ce qui offre davantage d’évolutivité et d’efficacité en automatisant les rapports. Cette solution permet de diviser le temps de test par dix par rapport aux tests manuels, avec une amélioration de l'analyse post-traitement et une standardisation des résultats des tests du DUT. 

 

 

Un partenaire NI est une entité professionnelle indépendante de NI et n’a aucune relation d’agence ou de « joint-venture » et n’est membre d’aucune association professionnelle incluant NI.