Densité de voies incomparable
Réduisez les temps d’essai, augmentez le débit et répondez aux exigences actuelles des fabricants en réduisant un rack complet à un encombrement de quelques centimètres carrés, avec jusqu’à 408 voies de SMU dans un seul châssis PXI.
Réponse personnalisée des transitoires
Contrôlez numériquement les propriétés transitoires des SMU PXI afin de maximiser la stabilité, réduire le dépassement et accélérer les tests avec NI SourceAdapt, une technologie brevetée sur les SMU PXI vous permettant d’éviter les circuits personnalisés.
Balayage IV intégré
Reconfigurez et réutilisez la même SMU dans tous les tests avec des balayages IV basés sur la configuration dans le logiciel InstrumentStudio. Bénéficiez également d’un accès à une personnalisation plus avancée des environnements de programmation.
Séquences cadencées par horloge matérielle
Obtenez des résultats plus rapidement en supprimant la latence dans les communications entre l’ordinateur hôte et la SMU au cours de chaque mesure d’une séquence. À chaque étape, modifiez divers paramètres de la SMU, notamment le mode de sortie, le temps d’ouverture, la gamme de courant et la réponse transitoire.
Envoi d’impulsions haute puissance
Dépassez les limites de l’alimentation en CC de base des SMU PXI en envoyant des impulsions de courant ou de tension au lieu d’une source CC constante. Les impulsions vous permettent d’effectuer vos tests à une puissance instantanée très élevée avec une infrastructure de dissipateur thermique limitée ou inexistante.
Recommandations pour les nouveaux utilisateurs
Offre groupée d’unités de source et mesure PXI
L’offre groupée d’unités de source et mesure (SMU) PXI est un ensemble préconfiguré de l’une des SMU les plus populaires de NI et d’un châssis contrôlé par Thunderbolt™ pour vous permettre de démarrer facilement.
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Les ingénieurs en charge de la fiabilité se tournent vers des solutions modulaires souples basées sur des SMU au format PXI pouvant s’adapter pour améliorer la fiabilité des données, tout en réduisant le coût des tests.
L’institut de recherche IMEC améliore d’un facteur 10 le cycle des projets
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Écran de nouvelle génération avec le test à haut débit de mini-LED
La taille des puces LED étant de plus en plus réduite, le nombre de puces par wafer est passé à des dizaines de millions. La SMU PXI de NI a permis à FitTech de résoudre son problème de débit.
White Paper technique
Maximiser les performances de vos mesures de CC
Avec ce guide, découvrez comment améliorer la précision des mesures et la qualité du produit, pour les circuits intégrés de gestion de l’alimentation, les amplificateurs de puissance RF et d’autres circuits intégrés. Explorez des sujets tels que le principe de fonctionnement des SMU, la réduction des bruits externes et les effets des impulsions.
- Principe de fonctionnement d’une unité de source et mesure
- Précision des mesures
- Compromis entre précision et vitesse
- Les effets des impulsions
Produits associés
RESSOURCES DE SUPPORT TECHNIQUE
Drivers
Trouvez les fichiers de téléchargement et les drivers d’instruments supportés pour chaque produit.
Bibliothèque de support
Parcourez un vaste éventail de ressources d’aide, notamment des exemples et des informations de dépannage.