Cours sur les tests de semi-conducteurs
Parcours de formation pour les ingénieurs de test de semi-conducteurs
Ces parcours de formation s’adressent aux ingénieurs de test de semi-conducteurs travaillant avec les logiciels et solutions NI, du laboratoire à l’atelier de production. Explorez les meilleures pratiques pour accélérer le développement de produits et permettre des analyses intelligentes en laboratoire et au-delà. Développez et mettez au point des programmes de test basés sur la configuration, créez des mesures personnalisées et optimisez des programmes de test avancés pour les périphériques à signaux mixtes et RF à l’aide du système de test de semi-conducteurs (STS) de NI.
Parcours de formation consacré aux tests de production de semi-conducteurs
Les tests de production de semi-conducteurs impliquent souvent de tester des pièces plus complexes dans une fraction du temps et du budget. Ce parcours est destiné aux opérateurs, techniciens et ingénieurs de test travaillant avec le système de test de semi-conducteurs (STS) de NI.
Cours pour opérateurs et techniciens STS | Description | Prérequis recommandés |
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| Découvrez la structure et les composants du système STS ainsi que les exigences de sécurité et environnementales pour utiliser le STS dans un environnement de production. |
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| Configurer, dépanner et entretenir le système de test de semi-conducteurs (STS) NI |
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Le programme STS Test Engineer enseigne rapidement aux ingénieurs de test de production de semi-conducteurs comment développer et mettre au point des programmes de test basés sur la configuration, créer des mesures personnalisées et optimiser des programmes de test avancés pour les périphériques à signaux mixtes et RF à l’aide du système de test de semi-conducteurs (STS) de NI.
Cours STS Test Engineer | Description | Prérequis recommandés |
Développement de programmes de test avec STS
| (Sur demande uniquement) Utilisez le système de test de semi-conducteurs (STS) de NI pour créer, modifier, exécuter et mettre au point de manière interactive des programmes de test avec des modules de code préexistants (développés avec LabVIEW ou .NET/C#) afin de collecter des données de test et des rapports de temps de test. |
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Développement de programmes de test avec STS et .NET/C#
| (Avec un instructeur uniquement) Utilisez les ressources du système de test de semi-conducteurs (STS) de NI de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test avec des modules de code préexistants développés dans .NET/C# afin de collecter des données de test et des rapports de temps de test. |
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(Sur demande uniquement) Utilisez les ressources du système de test des semi-conducteurs (STS) pour développer et mettre au point des modules de code de mesure pour le programme de test STS, pour créer des étapes de test personnalisées, et pour effectuer l’optimisation et le déploiement du programme de test. | Développement de programmes de test avec STS Principes fondamentaux LabVIEW 1
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Développement de modules de code de test avec STS et .NET/C# | (Avec un instructeur uniquement) Utilisez les ressources du système de test de semi-conducteurs (STS) pour développer et mettre au point des modules de code de mesure pour le programme de test STS, pour créer des étapes de test personnalisées, et pour effectuer l’optimisation et le déploiement du programme de test. Ce cours est disponible pour LabVIEW ou .NET/C#. | |
Pour les ingénieurs qui testent des pièces RF, utilisez les ressources RF STS de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test basés sur des configurations RF. Ce cours est disponible uniquement pour .NET/C# et doit être suivi après le développement de programmes de test et le développement de modules de code de test avec STS. | Développement de modules de code de test avec STS et .NET/C# | |
Test à ondes millimétriques avec STS (.NET/C#)
| Pour les ingénieurs qui testent des pièces à ondes millimétriques, découvrez les composants, la fonctionnalité et l’objectif du sous-système à ondes millimétriques. Ce cours est disponible uniquement pour .NET/C# et doit être suivi après le développement de programmes de test et le développement de modules de code de test avec STS. | Développement de modules de code de test avec STS et .NET/C# |
Cours STS Test Engineer | Description | Prérequis recommandés |
Explorez l’environnement, la programmation par flux de données et les techniques de développement courantes de LabVIEW dans un format utilisant des exercices pratiques. | ||
Utilisez TestStand pour développer, analyser, mettre au point et déployer des applications de test pratiques qui répondent à vos besoins. | ||
Concevez et élaborez l’architecture des frameworks de système de test, familiarisez-vous avec les fonctionnalités avancées et personnalisez les fonctionnalités intégrées de TestStand. | ||
Tests de périphériques avec des instruments de patterns numériques | Tirez parti des instruments de patterns numériques et de l’éditeur de patterns numériques pour effectuer des tests de caractérisation et de production courants, en mettant l’accent sur la communication DUT, les tests d’interface numérique et les tests de continuité et de fuite. |
Parcours de formation consacré aux tests de validation de semi-conducteurs
Ce parcours est destiné aux ingénieurs de test de validation de semi-conducteurs qui tentent de caractériser les périphériques et de réduire le temps de test sans sacrifier la qualité et la précision des mesures.
Continuer la formation | Description | Prérequis recommandés |
Mesurez la fiabilité des wafers semi-conducteurs avec Wafer Level Reliability Test Software. |
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RFIC Test Software pour la validation de conception frontale RF | Utilisez RFIC Test Software pour établir des limites de performances et définir des spécifications pour les amplificateurs RF testés. |
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Complément logiciel de contrôle des périphériques à semi-conducteurs pour la validation de la DUT | Ce cours vous aidera à configurer le complément logiciel, à réactiver, à dépanner, à interagir avec, et à mettre au point votre périphérique testé. |
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Le sous-système de test VCSEL IV fournit une solution personnalisable pour tester les dispositifs laser à cavité verticale émettant par la surface (VCSEL). Intégrez le sous-système de test VCSEL IV dans les systèmes de test existants et effectuez des tests de base pour garantir une connectivité appropriée. |
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Options de cours supplémentaires sur les semi-conducteurs
Enregistrement, gestion et évaluation des données de conformité des produits avec Bench Data Connector
Utilisez la gamme de produits SystemLink pour caractériser un produit et évaluer sa conformité avec ses spécifications définies. Explorez les journaux de données dans le Bench Data Connector Browser et évaluez-les dans Specification Compliance Manager.
Gestion de la conformité des produits avec Specification Compliance Manager
Utilisez Specification Compliance Manager (SCM) dans SystemLink pour évaluer la conformité d’un produit avec ses spécifications électriques définies. Apprenez à redéfinir la conformité, à définir les critères utilisés pour juger de la conformité et à utiliser la fonctionnalité de correspondance des conditions et des paramètres.
Mise à niveau vers l’adhésion
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