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Le cours Développement de programmes de test avec STS offre une formation pratique à la configuration et à l’utilisation d’un système de test de semi-conducteurs (STS) pour communiquer avec un matériel sous test (DUT). Le cours suit le flux de travail et les jalons typiques de test de semi-conducteur, ce qui comprend une interaction étroite avec le matériel correspondant. Après avoir terminé ce cours, un ingénieur de test sera capable d’utiliser les ressources du testeur STS de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test avec des modules de code préexistants (développés à l’aide de LabVIEW ou .NET/C#) afin de collecter des données de test et des rapports de temps de test.
Date de la dernière version du cours ou numéro de version : Sur demande : 23.0
Sur demande : 5 heures
Ingénieurs de test de semi-conducteur utilisant ou évaluant le système de test de semi-conducteurs (STS) de NI pour effectuer un test en production de semi-conducteurs ou une validation de dispositif automatisé à gros volume.
Connaissances générales des stratégies et méthodes de test de semi-conducteurs
Compétences générales en informatique
Connaissances de base en ingénierie de test
STS Software Bundle
Système de test de semi-conducteurs (STS)
La formation virtuelle dispensée par un instructeur comprend les supports didactiques numériques fournis via le Centre d’apprentissage NI.
La formation virtuelle NI est dispensée par un instructeur via Zoom. De plus, un accès à Amazon AppStream/LogMein est fourni aux participants pour effectuer les exercices sur des machines virtuelles équipées des tout derniers logiciels.
Mettre en place et configurer un STS pour tester un dispositif semi-conducteur à signaux mixtes
Communiquer avec un DUT.
Utiliser les ressources de test STS pour créer, modifier, exécuter et mettre au point un programme de test de manière interactive à l’aide de modules de code pré-écrits
Décrire l’architecture du programme de test, la modifier et configurer le flux d’exécution.
Mettre au point des dispositifs, des signaux et des séquences de test avec des interfaces de mise au point
Collecter des données de test et générer des rapports de test
Réaliser une analyse comparative des durées de test
Leçon | Présentation | Thèmes |
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Introduction au STS | Explorez les principaux concepts du système de test de semi-conducteurs (STS). |
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Exploration de la tête de test | Explorez les fonctionnalités et les E/S de haut niveau pour la tête d’essai STS. |
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Exploration des cartes d’interface | Explorez les fonctionnalités de haut niveau de la carte d’interface de périphérique (DIB) et les différents types d’interface de la carte d’interface. |
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Ancrage et interfaçage avec le STS | Décrivez la topologie d’un banc d’essai typique et explorez plusieurs options pour l’ancrage d’un STS. |
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Exploration du logiciel STS NI | Découvrez les outils logiciels permettant surveiller, maintenir, mettre au point et étalonner le STS ainsi que l’environnement de développement de test et de module de code pour le STS. |
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Navigation dans le flux de travail du développeur de tests | Explorez un exemple de flux de travail de développeur de tests et ses étapes clés. |
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Étude sur les exigences et les spécifications de sécurité du système STS | Explorez et appliquez les exigences et les spécifications de sécurité, la conformité en matière de sécurité et les spécifications environnementales du système STS. |
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Exploration de l’instrumentation des testeurs | Explorez la plate-forme PXI STS et l’instrumentation STS commune. |
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Explorer les spécifications du système | Explorez les spécifications d’entrée et de sortie STS T1, T2 et T4. |
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Étalonnage d’un système STS | Explorez les modules d’étalonnage et les types d’étalonnage utilisés dans le système STS. |
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Création d’un projet STS | Créez un programme de test et explorez le fichier de séquence et la structure de dossiers créés pour le programme de test. |
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Explorer les cartes de brochage | Découvrez l’objectif de la carte de brochage et son rôle dans le mappage du matériel STS vers les broches DUT. |
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Examen de la configuration de test et du schéma de la carte d’interface | Explorez la documentation standard du testeur, son contenu et son objectif. |
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Mappage des exigences de mesure | Mappez les exigences de mesure pour vous assurer que le système et les instruments dont il est équipé peuvent répondre aux exigences de mesure du plan de test. |
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Mappage des broches DUT aux voies de l’instrument | Utilisez l’éditeur de carte de brochage pour créer et modifier des fichiers de cartes de brochages DUT aux voies de l’instrument. |
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Interfaçage avec le DUT à l’aide de la carte d’interface de périphérique | Explorez les différentes manières de connecter vos instruments à une carte d’interface de périphérique (DIB) et identifiez les ressources disponibles pour vous aider à concevoir votre propre carte d’interface. |
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Vérification de la continuité du DUT | Utilisez l’instrument de patterns numériques pour tester la continuité du DUT avant d’exécuter d’autres tests. |
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Mise en place du DUT | Utilisez l’éditeur de patterns numériques pour afficher le matériel sous test (DUT) afin que vous puissiez commencer à le tester. |
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Mesure du courant de fuite | Utilisez l’instrument de patterns numériques pour mesurer le courant de fuite du DUT avant d’exécuter d’autres tests. |
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Préparation de la communication avec le DUT | Identifiez les types de fichiers associés à un projet numérique et décrivez les fichiers qui doivent être créés avant de créer un pattern numérique pour communiquer avec le DUT. |
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Création de patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT | Créez, éditez, chargez et émettez en rafale des patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT à l’aide de l’éditeur de patterns numériques. |
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Conversion de patterns numériques existants | Convertissez des patterns développés dans d’autres environnements pour les utiliser dans l’éditeur de patterns numériques. |
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Exploration du fichier de séquence de test | Explorez les principaux composants d’un fichier de séquence de test et apprenez à utiliser chaque composant. |
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Ajout d’étapes à une séquence de test | Découvrez comment insérer des étapes dans une séquence de test. |
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Création et configuration d’étapes de test | Dans un projet STS, créez et configurez des étapes de test qui appellent des modules de code. |
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Utilisation des modèles d’étapes de test | Explorez les différents modèles d’étapes disponibles et découvrez comment les utiliser dans le cadre d’une séquence de test. |
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Contrôle de l’exécution TestStand | Exécutez une séquence de test et modifiez-la pour qu’elle s’exécute différemment en fonction des conditions ou des paramètres de test. |
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Définition des limites de test | Créez, explorez et importez des limites de test afin de mettre à jour rapidement vos séquences de test pour différents scénarios. |
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Création de configurations de test | Utilisez l’éditeur de programmes de test et vos exigences de test afin de créer des configurations de test pour votre système. |
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Création d’intervalles pour les DUT en fonction des résultats de test | Décrivez les différentes méthodes de classement des DUT en fonction des résultats de test et comment mettre en œuvre une stratégie de binning. |
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Configuration de l’exécution d’un programme de test | Configurez et exécutez un programme de test dans l’environnement de développement de test |
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Génération de rapports de test | Mettez en œuvre une stratégie de collecte des résultats de test et de génération de rapports dans TestStand. |
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Mise au point d’un programme de test | Utilisez les fonctionnalités intégrées de TestStand pour identifier et corriger les problèmes dans une séquence de test. |
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Exploration des scénarios de mise au point | Mettez au point un programme de test dans différentes situations inattendues. |
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Analyse comparative des durées de test | Identifiez et corrigez les problèmes qui limitent la vitesse d’exécution du code. |
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Interaction avec les ressources du testeur pour mettre au point les problèmes | Utilisez InstrumentStudio pour interagir avec les ressources du testeur afin de mettre au point les problèmes de test. |
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Utiliser l’Éditeur de patterns numériques pour la mise au point | Utilisez les outils de l’Éditeur de patterns numériques (DPE) pour mettre au point encore davantage les tests ayant échoué. |
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Exécution d’une séquence avec l’interface opérateur STS | Exécutez un programme de test à l’aide de l’interface opérateur (OI) de test de semi-conducteurs NI et obtenez le temps réel de l’interface de connexion. |
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