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Présentation du cours Développement de programmes de test avec STS

Le cours Développement de programmes de test avec STS offre une formation pratique à la configuration et à l’utilisation d’un système de test de semi-conducteurs (STS) pour communiquer avec un matériel sous test (DUT). Le cours suit le flux de travail et les jalons typiques de test de semi-conducteur, ce qui comprend une interaction étroite avec le matériel correspondant. Après avoir terminé ce cours, un ingénieur de test sera capable d’utiliser les ressources du testeur STS de manière interactive pour créer, modifier, exécuter et mettre au point des programmes de test avec des modules de code préexistants (développés à l’aide de LabVIEW ou .NET/C#) afin de collecter des données de test et des rapports de temps de test.

 

Date de la dernière version du cours ou numéro de version : Sur demande : 23.0

Détails du cours :

Descriptif du cours Développement de programmes de test avec STS

LeçonPrésentationThèmes
Introduction au STSExplorez les principaux concepts du système de test de semi-conducteurs (STS).  
  • Introduction à la plate-forme STS
Exploration de la tête de testExplorez les fonctionnalités et les E/S de haut niveau pour la tête d’essai STS. 
  • Présentation de la tête d’essai STS  
  • Exploration des entrées et sorties STS T1 M2
Exploration des cartes d’interfaceExplorez les fonctionnalités de haut niveau de la carte d’interface de périphérique (DIB) et les différents types d’interface de la carte d’interface.
  • Présentation des cartes d’interface
  • Exploration des types d’interface de la carte d’interface
  • Connexion d’un DIB au STS
Ancrage et interfaçage avec le STSDécrivez la topologie d’un banc d’essai typique et explorez plusieurs options pour l’ancrage d’un STS.
  • Ancrage et interfaçage standard avec le STS de NI
  • Exemple d’ancrage automatisé
Exploration du logiciel STS NIDécouvrez les outils logiciels permettant surveiller, maintenir, mettre au point et étalonner le STS ainsi que l’environnement de développement de test et de module de code pour le STS.
  • Présentation du logiciel STS
  • Introduction au logiciel STS Maintenance Software
  • Introduction à l’environnement de développement de test
  • Introduction à l’interface opérateur
Navigation dans le flux de travail du développeur de testsExplorez un exemple de flux de travail de développeur de tests et ses étapes clés.
  • Exploration d’un exemple de flux de travail de développeur de tests
Étude sur les exigences et les spécifications de sécurité du système STSExplorez et appliquez les exigences et les spécifications de sécurité, la conformité en matière de sécurité et les spécifications environnementales du système STS.
  • Exploration des exigences de sécurité du STS
  • Garantir la conformité en matière de sécurité pour le STS
  • Exploration des spécifications environnementales du STS

Exploration de l’instrumentation des testeurs

Explorez la plate-forme PXI STS et l’instrumentation STS commune.  
  • Exploration de la plate-forme PXI NI
  • Identifier l’instrumentation STS
  • Instrumentation STS commune supplémentaire
  • Utilisation de matériel simulé
Explorer les spécifications du systèmeExplorez les spécifications d’entrée et de sortie STS T1, T2 et T4.  
  • Explorer les spécifications du système STS
  • Explorer les spécifications STS en ligne
Étalonnage d’un système STSExplorez les modules d’étalonnage et les types d’étalonnage utilisés dans le système STS.
  • Qu’est-ce que l’étalonnage ?
  • Explorer les types d’étalonnage STS
  • Explorer les modules d’étalonnage utilisés dans STS
  • Activation du temps d’attente de préchauffage du STS
  • Vérification de la continuité/fonctionnalité CC
Création d’un projet STS  Créez un programme de test et explorez le fichier de séquence et la structure de dossiers créés pour le programme de test.
  • Création d’un programme de test
  • Explorer la structure des dossiers
  • Explorer l’architecture du programme de test
Explorer les cartes de brochageDécouvrez l’objectif de la carte de brochage et son rôle dans le mappage du matériel STS vers les broches DUT.
  • Qu’est-ce qu’une carte de brochage ?
  • Exploration des informations contenues dans une carte de brochage
  • Documentation nécessaire pour créer une carte de brochage
Examen de la configuration de test et du schéma de la carte d’interfaceExplorez la documentation standard du testeur, son contenu et son objectif.
  • Exploration des spécifications du DUT
  • Suivi d’un signal de l’instrument vers le DUT
Mappage des exigences de mesure  Mappez les exigences de mesure pour vous assurer que le système et les instruments dont il est équipé peuvent répondre aux exigences de mesure du plan de test.  
  • Mappage des exigences de mesure
  • Connexion de l’instrumentation aux broches DUT
  • Affectation des ressources du testeur en fonction d’un plan de test
Mappage des broches DUT aux voies de l’instrumentUtilisez l’éditeur de carte de brochage pour créer et modifier des fichiers de cartes de brochages DUT aux voies de l’instrument.
  • Ajout et configuration d’un instrument à l’aide de l’éditeur de carte de brochage
  • Examen des erreurs et avertissements de la carte de brochage
  • Configuration de sessions multi-instruments
Interfaçage avec le DUT à l’aide de la carte d’interface de périphériqueExplorez les différentes manières de connecter vos instruments à une carte d’interface de périphérique (DIB) et identifiez les ressources disponibles pour vous aider à concevoir votre propre carte d’interface.
  • Comment connecter ma DIB à mes instruments ?
  • Comment concevoir ma DIB ?
  • Interfaçage du DUT à la DIB
Vérification de la continuité du DUTUtilisez l’instrument de patterns numériques pour tester la continuité du DUT avant d’exécuter d’autres tests.
  • Qu’est-ce qu’un test de continuité ?
  • Quel instrument dois-je utiliser pour vérifier la continuité du DUT ?
  • Exécution d’un test de continuité
Mise en place du DUTUtilisez l’éditeur de patterns numériques pour afficher le matériel sous test (DUT) afin que vous puissiez commencer à le tester.
  • Détermination de la méthode de mise sous tension du DUT
  • Mise sous tension du DUT
Mesure du courant de fuiteUtilisez l’instrument de patterns numériques pour mesurer le courant de fuite du DUT avant d’exécuter d’autres tests.
  • Quel est le premier test à effectuer après la mise en place ?
  • Exécution d’un test de courant de fuite
Préparation de la communication avec le DUTIdentifiez les types de fichiers associés à un projet numérique et décrivez les fichiers qui doivent être créés avant de créer un pattern numérique pour communiquer avec le DUT.
  • Exploration du contenu d’un projet numérique
  • Création de fiches techniques
  • Création de feuilles de niveaux
  • Création de feuilles de temps
Création de patterns numériques de base pour communiquer avec le DUTCréez, éditez, chargez et émettez en rafale des patterns numériques de base pour communiquer avec le DUT à l’aide de l’éditeur de patterns numériques.
  • Exploration des patterns vectoriels
  • Création de patterns numériques
Conversion de patterns numériques existantsConvertissez des patterns développés dans d’autres environnements pour les utiliser dans l’éditeur de patterns numériques.
  • Conversion de fichiers de patterns existants
Exploration du fichier de séquence de testExplorez les principaux composants d’un fichier de séquence de test et apprenez à utiliser chaque composant.
  • Quelles sont les composants d’un fichier de séquence de test ?
  • Identification des panneaux de la fenêtre du fichier de séquence de test
  • Exploration de l’architecture du programme de test
Ajout d’étapes à une séquence de testDécouvrez comment insérer des étapes dans une séquence de test.
  • Ajout d’une étape à une séquence de test
  • Exploration des types d’étapes de test
  • Configuration d’une étape
Création et configuration d’étapes de testDans un projet STS, créez et configurez des étapes de test qui appellent des modules de code.
  • Qu’est-ce qu’un module de code ?
  • Choix d’un point de départ pour les étapes de test de semi-conducteurs
  • Appel d’un modèle d’étape de test TSM
  • Appel d’une étape de test/d’action multiple de semi-conducteurs
  • Configuration des paramètres d’étapes de test
Utilisation des modèles d’étapes de test  Explorez les différents modèles d’étapes disponibles et découvrez comment les utiliser dans le cadre d’une séquence de test.
  • Création d’une séquence de test à l’aide de modèles d’étapes
Contrôle de l’exécution TestStandExécutez une séquence de test et modifiez-la pour qu’elle s’exécute différemment en fonction des conditions ou des paramètres de test.
  • Exécution d’une séquence de test
  • Gestion et partage des données
  • Utilisation des étapes de contrôle de flux pour modifier le flux d’exécution​
  • Utilisation d’expressions pour accéder aux données ou les modifier
  • Modification de l’exécution en fonction de l’échec d’un test
Définition des limites de testCréez, explorez et importez des limites de test afin de mettre à jour rapidement vos séquences de test pour différents scénarios.
  • Exportation de vos limites de test
  • Importation de vos limites de test
  • Ajout de vos fichiers de limites de test
Création de configurations de testUtilisez l’éditeur de programmes de test et vos exigences de test afin de créer des configurations de test pour votre système.
  • Création de configurations de test
  • Définition de plusieurs flux de test
Création d’intervalles pour les DUT en fonction des résultats de testDécrivez les différentes méthodes de classement des DUT en fonction des résultats de test et comment mettre en œuvre une stratégie de binning.
  • Présentation du binning
  • Configuration du fichier de définition des intervalles
  • Création d’intervalles pour les matériels et les logiciels
Configuration de l’exécution d’un programme de testConfigurez et exécutez un programme de test dans l’environnement de développement de test
  • Configuration des paramètres de la station
  • Configuration des méthodes de génération de rapport TestStand pour les résultats de test
  • Configuration des options de la station
  • Configuration des méthodes d’exécution de TestStand pour vos modules de code
  • Exécution de votre programme de test
Génération de rapports de testMettez en œuvre une stratégie de collecte des résultats de test et de génération de rapports dans TestStand.
  • Configuration des options de rapport
  • Sélection d’un format de rapport
  • Génération d’un rapport ATML
  • Configuration de la collecte des résultats de test
Mise au point d’un programme de testUtilisez les fonctionnalités intégrées de TestStand pour identifier et corriger les problèmes dans une séquence de test.
  • Suivi de l’exécution du programme de test
  • Pause et exécution en mode pas à pas
  • Gestion des erreurs d’exécution
Exploration des scénarios de mise au pointMettez au point un programme de test dans différentes situations inattendues.
  • Erreurs de mise au point
  • Mise au point des tests ayant échoué
Analyse comparative des durées de testIdentifiez et corrigez les problèmes qui limitent la vitesse d’exécution du code.
  • Analyse comparative des durées de test
  • Optimisation de la vitesse d’exécution de TestStand
  • Optimisation de la vitesse d’exécution du matériel
Interaction avec les ressources du testeur pour mettre au point les problèmes  Utilisez InstrumentStudio pour interagir avec les ressources du testeur afin de mettre au point les problèmes de test.
  • Présentation d’InstrumentStudio
  • Mise au point des instruments d’alimentation CC
  • Mise au point des oscilloscopes
  • Mise au point des sessions de drivers
  • Mise au point de plusieurs instruments
  • Exportation de données pour une analyse supplémentaire
Utiliser l’Éditeur de patterns numériques pour la mise au pointUtilisez les outils de l’Éditeur de patterns numériques (DPE) pour mettre au point encore davantage les tests ayant échoué.
  • Présentation de la mise au point avec l’Éditeur de patterns numériques (DPE)
  • Affichage de l’état des broches en temps réel
  • Mise au point de l’exécution de patterns
  • Mise au point de l’oscilloscope numérique
  • Analyse des résultats de test en fonction des balayages de paramètres
Exécution d’une séquence avec l’interface opérateur STSExécutez un programme de test à l’aide de l’interface opérateur (OI) de test de semi-conducteurs NI et obtenez le temps réel de l’interface de connexion.
  • Présentation de l’interface opérateur
  • Configuration et exécution d’un lot
  • Afficher les résultats des tests et des rapports

Commencez le cours Développement de programmes de test avec STS dès aujourd’hui