Présentation du cours Test d’appareils avec des instruments de pattern numérique

Créer votre premier modèle et l’envoyer en rafale

Configurer une carte de brochage, une feuille de niveau, une feuille de temps et un fichier de modèles, en envoyant un pattern numérique en rafale vers le périphérique sous test (DUT).

• Instruments de pattern numérique au format PXI

Création de cartes de brochage

Création de cartes de brochage dans l’éditeur de pattern numérique pour définir les sites de connexion DUT.

• Exploration des cartes de brochage

Création de fiches techniques

Stockage des valeurs de la fiche technique du DUT dans les variables de la fiche de spécifications. 

• Exploration des fiches techniques

Création de feuilles de niveaux de brochage

Création de feuilles de niveaux de brochage pour définir les tensions d’alimentation, la terminaison et les niveaux logiques du DUT.

• Exploration des feuilles de niveaux de brochage

Création de feuilles de temps

Création de feuilles de temps pour définir les caractéristiques de cadencement de l’interface avec le DUT.

• Exploration des feuilles de temps

Création de fichiers de modèles

Création de fichiers de modèles pour la communication avec le DUT et le test.

• Introduction aux modèles
• Travailler avec des modèles

Programmation de patterns numériques

Contrôle par programmation des instruments de pattern numérique via l’API NI-Digital Pattern.

• Exploration du flux logiciel de l’instrument de pattern numérique
• Création d’une session et contrôle des états
• Éditer des cartes de brochage via l’API NI-Digital Pattern
• Éditer des niveaux de broches via l’API NI-Digital Pattern
• Éditer des heures définies via l’API NI-Digital Pattern
• Charger des fichiers via l’API NI-Digital Pattern

Tester les modes de fonctionnement du DUT

Configuration du DUT via des commandes SPI (Serial Peripheral Interface) pour tester ses modes de fonctionnement.

• Exploration de la communication SPI

Exécution de tests de relecture de registre

Exécution d’un test de relecture de registre pour valider les capacités de communication du DUT.

• Présentation du test de relecture de registre

Validation du cadencement du DUT

Interfaçage avec des équipements de test externes pour valider le cadencement du DUT.

• Présentation de la validation du cadencement du DUT

Exécution de tests de continuité et de fuite

Exécution de tests de continuité et de fuite pour valider la connexion des broches du DUT.

• Introduction aux tests de continuité et de fuite
• Exploration des fondamentaux de l’unité de mesure paramétrique par broche (PPMU)

Accroître la robustesse du modèle via le contrôle du flux

Accroître la robustesse d’un modèle en utilisant des codes opération pour établir un contrôle de flux.

• Introduction aux codes opération dans l’Éditeur de pattern numérique
• Utilisation des codes opération Repeat et Loop dans le modèle
• Exploration des codes opération Jump et Call
• Utilisation du comportement conditionnel
• Exploration des marqueurs de séquenceur et des registres des codes opération

Utilisation des Waveforms sources

Utilisation de waveforms sources en série et en parallèle pour simplifier la structure du modèle via des données variables.

• Exploration des waveforms sources
• Configuration des waveforms source en série
• Utilisation de waveforms sources en série dans des modèles 
• Exploration du remplacement de l’état des broches sources 
• Charger et décharger des waveforms sources 
• Configuration des waveforms sources en parallèle
• Utilisation de waveforms sources en parallèle dans des modèles 
• Considérations relatives à la bande passante source

Utilisation de waveforms de capture

Utilisation de waveforms de capture pour stocker les données reçues de validation et de post-traitement.

• Exploration des waveforms de capture
• Configuration des waveforms de capture en série
• Configuration des waveforms de capture en parallèle
• Utilisation des waveforms de capture dans des modèles
• Charger et décharger des waveforms de capture
• Considérations relatives aux waveforms de capture 

Analyse des résultats des tests via History RAM Report

Utilisation de History RAM Report pour mettre au point le modèle ou le périphérique sous test (DUT).

• Exploration de History RAM
• Utilisation de l’API NI-Digital History RAM 
• Considérations relatives à la bande passante et à la mémoire

Affichage de signaux via un oscilloscope numérique

Utilisation de l’oscilloscope numérique pour afficher les niveaux de tension réels au niveau des broches de l’instrument de pattern numérique (PXIe-657x).

• Exploration de l’oscilloscope numérique
• Configuration et utilisation d’un oscilloscope numérique

Utilisation de tracés Shmoo pour visualiser les relations entre les paramètres

Utilisez des tracés Shmoo pour itérer les paramètres de pattern et afficher les résultats.

• Exploration des tracés Shmoo
• Exploration des modes d’exécution des tracés Shmoo

Synchronisation avec d’autres instruments

Implémentation de stratégies de synchronisation telles que le partage de déclenchements ou l’utilisation de NI-TClk pour coordonner les tâches via d’autres instruments.

• Génération interactive de déclenchements
• Génération de déclenchements par programmation
• Utilisation de NI-TClk avec plusieurs instruments 
• Détection de conditions de correspondance ou d’échec
• Présentation des méthodes de synchronisation

Câblage et étalonnage

Compensation des décalages de câble et de tension, et exploration des exigences d’étalonnage du périphérique.

• Configuration de la réflectométrie du domaine temporel
• Connexion de la détection de masse DUT
• Étalonnage des périphériques de patterns numériques

Utilisation des codes opération lors des tests d’analyse

Utilisation de codes opération d’analyse pour diviser un vecteur en un ou plusieurs cycles d’analyse.

• Exploration des patterns d’analyse